部品の試験：エレクトロニクスのキーパッド
キーパッドの作動プロファイル
携帯電話の小型化が進むことは、数字とデータの入力に用いられる英数字キーパッドもますます小さくなることを意味します。このキーパッドは、十分に使用しやすいことを保証するために試験を実施しなくてはなりません。この性能の1つの尺度は、キーパッドの個々のキーの作動力と形状です。例えば年配の方が携帯を操作するかもしれないことを考えると、キーを作動させるために必要な力はキーを押しやすいことが望まれます。しかし、この力は、例えば携帯をポケットやハンドバッグの中に入れている際に、偶然にキーを押してしまうほど小さすぎることは望ましくありません。
キーパッド試験
キーパッド試験の基本試験機システムは、低容量のロードセルと鉄製の尖った先端を保持するチャック冶具を装備した万能試験機から構成されます。さらに、携帯電話またはキーパッドモジュールを支持するため、試験台またはT－スロットテーブルを使用します。試験では、荷重変化および時にはキー押込み時の変位を測定します。
さらに詳しい情報を得るためには、試験機システムに電気接点を結線することができます。これにより正確なスイッチのオフの位置と力を求める機能が提供されます。正確なデータを提供するため、速いデータロギング機能を有する試験機システムを使用することが望まれます。その結果、スイッチのオフ時に非常に小さい距離で起こる急速な力の変化を測定することが可能となります。さらに、この試験機システムは、デリケートな部品に対する損傷を防止するため、高い位置決め精度と高い位置決め制御機能を有していることが望まれます。
マイクロエレクトロニクス試験用ソリューション
マイクロエレクトロニクス、バイオメディカルをはじめ、重要な極小部品を使用するアプリケーションに理想的な試験機です。マイクロテスターは、高剛性のロードフレームとナノレベルの高い位置測定精度を可能にする精密駆動システムで構成されており、比較的単純な静的試験から、複雑な入力が要求される動的なサイクル試験まで、引張、圧縮、曲げ、せん断など様々な試験が可能です。マイクロエレクトロニクス分野では、ダイせん断、フィルム接着強度、リード引張など幅広く利用されています。ASTM、EN、ISO、JISなどの規格に準じた材料試験や製品試験、さらにお客様独自の試験パラメータによる試験も可能です。また、環境槽を組合わせ、温度などの環境試験にも対応できます。
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