DIC 解析

DICは、全視野のひずみと変位のマップを作成するために試験後の試験片の表面の画像を比較する光学的手法です。この手法は、試験片の全2次元表面にわたってひずみと変位を可視化するために使用可能な画像を生成します。

DIC再生ソフトウェアは自己完結型の2D DICパッケージです。このソフトウェアは、インストロン高性能ビデオ伸び計（AVE）に保存された画像と校正データを使用して、ポストプロセシングモードで作動します。ユーザーインターフェイスは、BluehillⓇと同じタブ付きスタイルとグラフィックデザインを採用しています。

標準機能には以下が含まれます。:

• 軸方向ひずみ（Eyy）、軸方向変位（Ey）、横方向ひずみ（Exx）、横方向変位（Ex）、せん断ひずみ（Exy）、最大垂直ひずみ、および最小垂直ひずみに関する全視野のひずみと変位のマップ
• 仮想ひずみゲージ
• 仮想伸び計
• 手法の保存
• プロット生成
• Bluehill試験データ（荷重、位置など）との同期化
• ユーザー定義による最高50 Hzのイメージ収集速度
• 3種類の操作法モード（ポストプロセシングDIC、AVEを用いた実時間ひずみ、またはこの両方）

利点:

• 材料試験時の現象の観察（例：不連続降伏、局部くびれ、その他多数）
• 従来の伸び計の使用が不可能な部品やコンポーネントの平面上のひずみと変位の解析
• 目視不可能なクラックの可視化と検出
• 複数の試験片を比較することによる試験片作製方法の確認　
• 標準ゲージ長の外側にある局部ひずみを特定して、規格への準拠を確認　
• ひずみ挙動を観察するため、平らな曲げ試験片または圧縮試験片の側面プロフィルの可視化