課題

高品質・高信頼性をもった電子デバイスの需要が増えるにつれて、多くの企業は、製品が仕様保証内において故障しないよう、広範囲の試験の実施に取り組んでいます。3点曲げ試験は、破壊試験法として試験片の破断に至るまでの、最大応力およびデバイス中心の変位を決定します。一方、4点曲げは、潜在的な欠陥を特定するため、デバイスの広い領域に沿った最大応力を決定します。デバイスや部品において、破断に必要な応力と変位を正確に測定することは、研究開発の目的だけでなく、品質管理に対しても重要なことです。