BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//Instron - ECPv6.18.3.1//NONSGML v1.0//EN
CALSCALE:GREGORIAN
METHOD:PUBLISH
X-WR-CALNAME:Instron
X-ORIGINAL-URL:https://www.instron.com/ko/
X-WR-CALDESC:Instron 이벤트
REFRESH-INTERVAL;VALUE=DURATION:PT1H
X-Robots-Tag:noindex
X-PUBLISHED-TTL:PT1H
BEGIN:VTIMEZONE
TZID:America/New_York
BEGIN:DAYLIGHT
TZOFFSETFROM:-0500
TZOFFSETTO:-0400
TZNAME:EDT
DTSTART:20260308T070000
END:DAYLIGHT
BEGIN:STANDARD
TZOFFSETFROM:-0400
TZOFFSETTO:-0500
TZNAME:EST
DTSTART:20261101T060000
END:STANDARD
BEGIN:DAYLIGHT
TZOFFSETFROM:-0500
TZOFFSETTO:-0400
TZNAME:EDT
DTSTART:20270314T070000
END:DAYLIGHT
BEGIN:STANDARD
TZOFFSETFROM:-0400
TZOFFSETTO:-0500
TZNAME:EST
DTSTART:20271107T060000
END:STANDARD
BEGIN:DAYLIGHT
TZOFFSETFROM:-0500
TZOFFSETTO:-0400
TZNAME:EDT
DTSTART:20280312T070000
END:DAYLIGHT
BEGIN:STANDARD
TZOFFSETFROM:-0400
TZOFFSETTO:-0500
TZNAME:EST
DTSTART:20281105T060000
END:STANDARD
END:VTIMEZONE
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270125T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270125T170000
DTSTAMP:20260918T151908Z
CREATED:20260918T151908Z
LAST-MODIFIED:20260918T151908Z
UID:10001037-1800867600-1800896400@www.instron.com
SUMMARY:정적 재료 시험 소개
DESCRIPTION:이 1일 과정에서는 재료 시험에 대해 학습합니다. 이 과정은 기계적 물성\, 다양한 시험 유형\, 응력/변형률 시험 곡선\, 탄성계수\, 항복\, 그리고 컴퓨터 기반 재료 시험 장비를 활용한 시연을 통해 응용 시험 등 재료 시험의 기초를 중점적으로 다룹니다. 학생들은 인장\, 압축\, 굽힘\, 박리 시험을 관찰하며 시험 곡선과 계산 결과를 해석하는 방법을 익히게 됩니다. 전체 프로그램을 확인하려면 과정 개요를 다운로드하세요. \n이 과정을 수료하면 다음을 할 수 있습니다: \n\n재료 시험의 기본 용어\, 이론 및 개념 이해\n일반적인 힘/변위 시험 곡선을 이해하고 서로 다른 곡선 유형을 구분할 수 있음\n일반적인 인장\, 압축\, 굽힘 및 박리 시험 수행 시 해야 할 것과 하지 말아야 할 것\n컴퓨터 기반 시험 장비로 인장\, 압축\, 굽힘 및 박리 시험을 수행할 때의 올바른 시험 절차 학습\n데이터 정확도를 위한 시스템 교정의 중요성 학습\n시편 형상과 시편 치수의 중요성 이해\n응력\, 변형률\, 연신율\, 탄성계수\, 오프셋 항복 및 기타 고급 계산 수행\n시험 곡선을 해석하고 주요 지점과 결과에 라벨을 지정할 수 있음\n다양한 변형률 측정 유형과 장치 이해\n\n이 과정 등록하기
URL:https://www.instron.com/ko/event/introduction-to-static-materials-testing-9/
LOCATION:가상
CATEGORIES:교육
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.com/wp-content/uploads/2024/11/virtual-training.jpg
ORGANIZER;CN="%EC%9D%B8%EC%8A%A4%ED%8A%B8%EB%A1%A0 %EA%B5%90%EC%9C%A1 - %EB%B6%81%EB%AF%B8":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270126T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270126T170000
DTSTAMP:20260918T151922Z
CREATED:20260918T151922Z
LAST-MODIFIED:20260918T151922Z
UID:10000861-1800954000-1800982800@www.instron.com
SUMMARY:Bluehill® Universal 시험 방법 개발 입문
DESCRIPTION:이 1일 과정에서 학생들은 공인 Instron 교육 강사와 함께 Bluehill Universal의 기본 도구와 기능을 살펴봅니다. 강사는 실습 방식을 통해 기본 시험 방법 개발에 대한 이해를 높이기 위해 고안된 일련의 프로젝트를 안내합니다. 과정 개요를 다운로드하여 전체 프로그램을 확인하세요. \n본 과정을 이수하시면 다음을 수행하실 수 있습니다: \n\n시험 실행\, 그래프 생성 및 시험 보고서 작성\n계산 및 시험 결과 설정\n시험 방법 및 데이터 파일 생성\, 저장 및 검색\n시험 제어 매개변수 설정\n결과 및 원시 데이터 내보내기\nBluehill 모범 사례를 사용하여 워크플로 간소화\n\n이 과정 등록하기
URL:https://www.instron.com/ko/event/bluehill-universal-introduction-to-test-method-development/
LOCATION:가상
CATEGORIES:교육
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.com/wp-content/uploads/2026/06/online-training.jpg
ORGANIZER;CN="%EC%9D%B8%EC%8A%A4%ED%8A%B8%EB%A1%A0 %EA%B5%90%EC%9C%A1 - %EB%B6%81%EB%AF%B8":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270127T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270127T170000
DTSTAMP:20260918T171030Z
CREATED:20260918T171030Z
LAST-MODIFIED:20260918T171030Z
UID:10000883-1801040400-1801069200@www.instron.com
SUMMARY:Bluehill® Universal 고급 시험 방법 개발
DESCRIPTION:이 1일 과정에서는 인증된 Instron 교육 강사와 함께 Bluehill Universal의 고급 도구와 기능을 살펴봅니다. 실습 중심으로 진행되며\, 강사가 고급 시험 방법 개발과 관리 제어에 대한 이해를 돕기 위해 설계된 일련의 프로젝트를 통해 수강생을 안내합니다. 전체 프로그램을 확인하려면 과정 개요를 다운로드하세요. \n이 과정을 수료하면 다음을 수행할 수 있습니다: \n\n방법 개발 프로세스 전반에서 Expression Builder 기능 활용\n계산 및 그래픽 도메인 이해\n가상 측정값 활용 이해\n사용자 지정 트랜스듀서 설정\nInstron® Connect의 기능 이해\n소프트웨어 보안 및 로그인 설정 구성\n\n이 과정 등록
URL:https://www.instron.com/ko/event/bluehill-universal-advanced-test-method-development/
LOCATION:가상
CATEGORIES:교육
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.com/wp-content/uploads/2026/05/classroom-with-projector.jpg
ORGANIZER;CN="%EC%9D%B8%EC%8A%A4%ED%8A%B8%EB%A1%A0 %EA%B5%90%EC%9C%A1 - %EB%B6%81%EB%AF%B8":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270128T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270128T170000
DTSTAMP:20260918T171045Z
CREATED:20260918T171045Z
LAST-MODIFIED:20260918T171045Z
UID:10000929-1801126800-1801155600@www.instron.com
SUMMARY:Bluehill® Universal TestProfiler 방법 개발
DESCRIPTION:이 1일 과정에서 수강생은 Instron 공인 교육 강사와 함께 Bluehill Universal의 강력한 TestProfiler 기능에 포함된 다양한 도구와 기능을 살펴봅니다. 실습 중심으로 진행되며\, 강사는 각자의 실험실에서 요구되는 고유한 요구 사항에 대비할 수 있도록 설계된 일련의 현실적인 프로젝트를 통해 수강생을 안내합니다. 전체 프로그램을 확인하려면 과정 개요를 다운로드하세요. \n본 과정을 이수하시면 다음을 수행하실 수 있습니다: \n\n나만의 TestProfiler 테스트 설계\n나만의 프로파일러 파형 생성\, 로드 및 저장\n향상된 하중 또는 변형률 제어 사용\n다양한 파형 생성 – 절대/상대 램프\, 삼각파\, 홀드 등\n특정 테스트 세그먼트의 결과 선택\nActions 및 Events로 테스트 시퀀스 확장\n파형 기반 도메인 표현식 활용\n\n이 과정 등록
URL:https://www.instron.com/ko/event/bluehill-universal-testprofiler-method-development/
LOCATION:가상
CATEGORIES:교육
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.com/wp-content/uploads/2024/11/virtual-training.jpg
ORGANIZER;CN="%EC%9D%B8%EC%8A%A4%ED%8A%B8%EB%A1%A0 %EA%B5%90%EC%9C%A1 - %EB%B6%81%EB%AF%B8":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
END:VCALENDAR