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三点曲げ試験治具

曲げ、たわみ、および破壊靭性曲げ試験用

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曲げ治具は、曲げ弾性率、曲げ強度、曲げ降伏強度の測定を含む、様々な曲げ試験と破壊靭性曲げ試験を実施することができます。取り付けが簡単で、3点治具はオプションの変換キットで4点曲げ変換を提供するように変更できます。下部アンビルは調整可能で、様々なスパンの試験片に対応します。試験片のたわみは、クロスヘッドの変位を通じて測定することも、より正確な測定のために、クリップオン伸び計を取り付けたたわみ計プランジャーを使用することもできます。

5 kN 曲げ治具
カタログ番号 2810-400
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動作原理

試験片は定義された半径の精密加工された圧子2点で支持されます。荷重は中央(3点)または中心から一定の距離(4点)のいずれかの側に加えられます。圧子の保持部には正確な位置決めを可能とする目盛りが中心から等間隔に記されています。

特徴

適用範囲

荷重のタイプ:静的曲げ試験、繰り返し曲げ試験
試験片材料:プラスチック、金属、合金、複合材、セラミックスおよびその他の材料
試験片形状:細線、丸棒、コンポーネント
一般的な規格:ASTM D790ISO 178

2810-400-01-16
68SC-12810-400-V1-01-12
68TM-502712-046-V1-01-02
仕様
カタログ番号 2810-400
最大容量 5 kN
温度範囲 -100°C~350°C
スパン距離 10~200 mm
全仕様の表示 カタログをダウンロード
その他のモデル
プラスチック、金属、合金、複合材、マイクロエレクトロニクス、およびコンポーネントの試験
Flexure Fixture
高精度5 kN曲げ治具
カタログ番号 CP139080

 

Instronは、最も一般的な5 kN曲げ治具の高精度バージョンを提供しており、デジタル変位ゲージを統合して試験片の変位を1 µmまでの精度で測定します。
2810-182-V1-01-19
100 kN曲げ治具
カタログ番号 2810-182

 

100 kN曲げ治具は、最大幅50 mmの試験片に対して3点曲げ/たわみ試験を実行できます。4点曲げ変換キットが利用可能です。下部スパンは30~250 mmで調整可能です。
250 kN曲げ治具
カタログ番号 2810-206

 

250 kN曲げ治具は、最大幅100 mmの試験片に対して3点曲げ/たわみ試験を実行できます。4点曲げ変換キットが利用可能です。下部スパンは10~600 mmで調整可能です。
100 kNガイド付き曲げ/溶接曲げ試験治具
カタログ番号 W-6810

 

平板または溶接平板試験片の「U」曲げ試験のための調整可能なスパン。治具は、2本のタイロッドで支えられた調整可能なスパンサポート(0~254 mm)を備えたTスロットベースで構成されています。最大試験片幅は76 mmまで。
鉄筋用200 kN冷間曲げ試験治具
カタログ番号 W-6812

 

ASTM A615、A706、A996A、およびBS4449の仕様に一般的に準拠した鉄筋の冷間曲げ試験用治具。最大試験片直径は76 mmまで。下部スパンは0~480 mmで調整可能。

Bending / Hemming Test Fixture to VDA 238-100: 2020
Bending / Hemming Test Fixture to VDA 238-100: 2020 Bending / Hemming Test Fixture to VDA 238-100: 2020

VDA 238-100:2020に準拠した曲げ/ヘミング試験治具
カタログ番号 CP130604

 

CP130604治具は最大力容量20 kNで、VDA 238-100に準拠した板金の小半径曲げ試験のために特別に設計されています。パンチ半径、ローラー直径、およびローラー距離は、試験室間のばらつきを減らすために制約されています。これは、より強く薄い材料の軽量化への要求を満たすために、盛んに使用されている自動車のシャーシやボディコンポーネントで特に重要です。

マイクロエレクトロニクス用100 Nおよび1 kNマイクロ曲げ治具
カタログ番号 2810-410、2810-411

 

マイクロエレクトロニクス用途で一般的に見られる小型コンポーネントや試験片の曲げまたは曲げ試験に使用され、マイクロ曲げ治具は下部圧子2点で試験片を支持し、上部圧子1点または2点によって荷重が加えられます。
小型コンポーネント用2 kNミニ曲げ治具
カタログ番号 2810-412、2810-413

 

ミニ曲げ治具は、試験片が下部圧子2点で支持され、上部圧子1点または2点によって荷重が加えられる、小型コンポーネントや試験片の三点曲げまたはたわみ試験のために設計されています。