AVE3

어드밴스드 비디오 신율계

최고의 신율계 솔루션인 AVE3는 인장, 압축 및 굽힘 시험을 위해 1미크론 정확도까지 정밀한 변형 측정을 제공하는 독보적인 다목적 제품입니다. 탁월한 유연성을 제공하는 AVE3는 작은 게이지 길이부터 큰 게이지 길이, 낮은 신장률부터 높은 신장률, 필름과 같은 민감한 재료, 복합재료의 폭발적 파손, 실온, 온도 챔버 또는 유체 베스에서의 비환경 시험까지 모든 곳에 사용할 수 있습니다. AVE3는 ISO 9513 및 ASTM E83을 준수하여 하나의 장치로 모든 표준을 안정적으로 시험할 수 있습니다. 따라서 여러 개의 클립온 신율장치를 구입하고 유지할 필요가 없습니다.

정확성을 위한 설계

시험 결과에 대한 작업자 및 환경의 영향 최소화

CDAT 공기 흐름 기술 특허 출원중

실험실의 환경 조건이 공기 교란을 일으켜 장비 성능에 부정적인 영향을 미친다는 사실을 알고 계셨나요? 열 및 환경적 교란은 완벽한 실험실 조건에서 볼 수 있는 성능에 비해 최대 5배까지 장비의 정확도를 저하시킬 수 있습니다. 이러한 교란은 사람이 장비 옆을 지나가거나, 작업자가 근처에서 대화를 나누거나, HVAC 시스템이 작동하는 등 일반적인 실험실 활동으로 인해 발생할 수 있습니다. Instron의 AVE3는 특허 출원중인 정밀도 공기 터널(CDAT) 기류 기술을 통해 시험 공간을 보호하는 동시에 열 또는 환경 영향을 최소화하여 정확하고 반복 가능한 시험 결과를 제공합니다.

비접촉식 솔루션

AVE3는 스트레인 데이터에 미치는 작업자의 접촉에 의한 영향을 최소화하여 보다 일관되고 반복 가능한 시험 결과를 제공합니다. AVE3는 접촉없이 스트레인을 측정하기 때문에 클립온 장치에서 필요한 번거로운 탈부착이 필요 없으며, 칼날에 의한 시편의 조기 손상을 방지하여 처리량을 최적화하고 보다 정확한 시험 결과를 보장합니다.

동적 교차 편광 조명 (특허)

시험실마다 조명 조건이 동일하지 않고 달라질 수 있으므로 시험 결과에도 차이가 발생할 수 있습니다. AVE3가 항상 동일한 이미지를 볼 수 있도록 Instron은 특허받은 교차 편광 조명 시스템을 사용하여 마킹이 완벽하게 비춰지도록 동적으로 조정하여 모든 시험에서 일관된 결과를 얻을 수 있도록 보장합니다.

하나의 디바이스

무한한 애플리케이션

AVE3는 평면 및 원형 시편에 대한 정적 인장, 굴곡 및 압축 시험을 포함하여 거의 모든 어플리케이션에 대한 탄성률과 파괴 까지의 변형률을 모두 측정할 수 있습니다. 환경 챔버 또는 유체 수조(bath)를 사용할 때 주변 조건 또는 고온 및 저온에서 측정값을 수집할 수 있습니다. AVE3는 플라스틱, 금속, 복합재, 직물, 필름, 호일, 엘라스토머, 종이, 부품 또는 생체 재료 등 진화하는 시험 요구 및 다음의 표준을 충족하는 다목적성을 제공합니다.

금속 표준

ISO 6892, ASTM E8, JIS Z 2241, GB 228.1
r-값(AverEdge32 권장): ISO 10113, ASTM E517, JIS 2254, GB/T 5027

플라스틱 표준

ISO 527-2, ASTM D638, JIS K 7161-2, GB/T 1040.2
굴곡 시험: ISO 178, JIS K 7171, GB/T 9341

복합 표준

ISO 527-4/5, ASTM D3039, GB/T 3354

엘라스토머 표준

ISO 37, ASTM D412, JIS K 6251, GB/T 528

필름 및 호일 표준

ASTM E345, ASTM D882, GB/T 1040.3

향상된 제어

Bluehill Universal 소프트웨어의 간소화 및 향상된 컨트롤을 통해 조명 표시줄과 팬이 켜지는 시간에 대한 기본 설정을 지정할 수 있습니다.

데이터 처리 속도

온보드 측정 기술은 실시간(500Hz)으로 데이터를 처리하며 스트레인 제어 요구 사항을 충족할 수 있습니다.

빠른 마운트

거의 모든 Instron 만능 시험 시스템 및 온도 챔버에 쉽게 장착할 수 있습니다.

자동화 준비

자동화 솔루션과 쉽게 통합되어 처리량이 높은 변형률 측정이 간소화 되었습니다.

더 스마트하게

렌즈는 고유한 시험 설정에 맞게 구성되고 교정됩니다. 조리개 및 초점 설정은 고정되어 작업자 영향에 따른 가변성을 최소화합니다. 각 렌즈에는 식별 번호가 프로그래밍되어 있어 시험 시스템이 키네마틱 연결을 통해 장치를 자동으로 인식할 수 있습니다. 이 새로운 연결 방식은 렌즈의 반복 가능한 배치를 보장합니다. 또한 AVE3는 로드 스트링을 그대로 유지한 채 시편에 직접 끼울 수 있는 간소화된 교정 플레이트를 사용하여 주기적인 교정 점검을 쉽게 수행할 수 있으므로 시험할 준비가 되었는지 확인할 수 있습니다.

사용가능한 렌즈

35mm (단거리 시야) - 합성물, 금속, 경질 또는 충진 플라스틱과 같은 저변형 소재에 적합합니다.
16mm (표준 시야각) - 플라스틱, 금속, 판금 및 호일과 같은 재료에 적합합니다. 변형률 제어 및 평균 가로 변형률 측정이 필요한 금속 고객에 선호되는 렌즈(AverEdge32).
6mm (초장거리 시야) 및 9mm (긴 시야) - 고무, 엘라스토머, 필름 및 일부 플라스틱과 같이 연신율이 높은 소재에 적합합니다.

참고: 렌즈를 선택할 때는 최소 및 최대 게이지 길이 요건과 시험하려는 시편 범위의 총 연신율을 알고 있어야 합니다.

스트레인 제어

반응형 스트레인율 제어를 위한 실시간 데이터

새로운 AVE3를 사용하면 이제 ASTM E8 및 ISO 6892를 포함하여 변형률 제어가 필요한 시험을 수행할 수 있습니다. 향상된 정확도와 500Hz의 데이터 캡처 속도 덕분에 AVE3는 시험 시스템이 변형률 변화에 실시간으로 대응할 수 있는 빠른 통찰력을 제공하여 시험 표준을 준수하는 반복, 비교 가능한 결과를 얻을 수 있도록 합니다.

^AverEdge32TM

판금에 대한 고급 평균 횡방향 변형률 측정

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AverEdge32는 엣지 감지(Edge-detection)기술을 활용하여 시편 게이지 길이를 따라 32개 위치에서 동시에 가로 변형을 측정하는 AVE3의 고급 기능(옵션)입니다. 실시간으로 평균을 내어 부드럽고 반복 가능한 가로 변형률 값을 산출하며, 이는 판금의 r-값을 계산하는 데 필수적인 요소입니다.

특징

32 게이지 폭에서 평균화된 실시간 가로 변형률로 까다로운 소재에도 반복 가능한 가로 변형을 제공합니다.
결과 반복성 향상, 재시험 수행 필요성 감소 또는 제거
엣지 감지(Edge-detection) 기능으로 가로 표시가 필요 없음
플라스틱 변형률(r-값)에 대한 ISO 10113, ASTM E517, JIS 2254 및 GB/T 5027의 요구 사항을 초과 충족 합니다.

자세히 알아보기

DIC(Digital Image Correlation)

전체 필드 스트레인 매핑을 위한 애드온(Add-On) 옵션

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DIC는 시험 시편 표면의 이미지를 비교하여 전체 필드 변형률 및 변위 맵을 생성하는 광학 기술입니다. 시험 표본의 전체 2차원 표면에서 변형률과 변위를 시각화하는 데 사용할 수 있는 사진을 생성합니다.

불연속 수율, 국지적 네킹 등과 같은 재료 시험 현상 보기
기존 신율계가 실용적이지 않은 부품 또는 구성 요소의 평평한 표면에서 변형 및 변위 분석
눈에 보이지 않는 균열 시각화 및 감지
한 표본과 다음 표본을 비교하여 표본 준비 기술을 확인합니다.
표준 게이지 길이를 벗어난 국지적인 변형을 식별하여 표준 준수 여부를 확인합니다.
평면 굴곡 또는 압축 시편의 측면 프로파일을 시각화하여 변형 거동을 관찰합니다.
DIC 소프트웨어는 시험에서 데이터 검토로 쉽게 전환할 수 있도록 Bluehill Universal과 직접 통신합니다.

자세히 알아보기

정확도를 최대 5배 향상시키는 최신 CDAT 기술

(CDAT 기술이 없는 비디오 신율계와 비교)

동적 교차 편광 조명

데이터 캡처율

최대 685mm의 화각을 제공하는 6mm, 9mm, 16mm, 35mm 초점 거리 렌즈 옵션

변형 제어 가능

횡방향 변형률 측정에 호환되는 AverEdge32

(선택 사항)

DIC 소프트웨어 호환성

(선택 사항)

정적 시험 애플리케이션의 경우

AVE3