표본 측정 및 준비 제품소개 » 액세서리 » 표본 측정 및 준비 Instron®은 다양한 유형의 시편 마킹 장치와 호환 시스템에 직접 연결되어 시편 치수를 직접 입력하지 않고 다운로드할 수 있도록 하여 시간을 절약하고 오류를 방지하는 다양한 시편 측정 장치를 공급해. 마킹 펀치 시험 전에 설정된 게이지 길이로 금속 시편에 펀치 마킹하는 데 사용되는 다양한 크기의 게이지 포인트 펀치야. 더 많은 정보 측정 장치 캘리퍼스와 마이크로미터와 같은 다양한 시편 측정 장치로, 디지털 측정, 자동 데이터 입력 기능이 있는 디지털 측정 또는 수동 측정을 제공해. 더 많은 정보 준비 시스템 두꺼운 것부터 얇은 것까지, 부드러운 것부터 단단한 것까지 시편을 준비하도록 설계된 노칭, 밀링 및 펀칭 머신이야. 더 많은 정보