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ISO 178 결정판 가이드

ISO 178에 따른 플라스틱 굴곡 시험 수행 방법
작성자: Daniel Caesar

ISO 178 헤더

플라스틱은 저렴한 비용, 가벼운 무게, 부식 저항성 및 일반적인 다목적성 덕분에 다양한 산업 분야에서 중요한 위치를 차지하고 있습니다. 실제 응용 분야에서 예상되는 거동을 특성화하기 위해서는 플라스틱의 재료 특성을 결정하는 것이 중요합니다. 한 가지 중요한 특성은 플라스틱 시편이 구부러지거나 굴곡되는 동안 발생하는 응력과 변형률 사이의 관계, 즉 재료의 굴곡 특성입니다. 이 특성을 결정하기 위한 국제 표준화된 방법을 규제하기 위해 국제 표준화 기구(ISO)는 ISO 178을 개발했습니다.

이 가이드는 ISO 178 굴곡 시험의 기본 요소를 소개하기 위해 제작되었으며, 표준과 관련된 시험 장비, 시편 및 결과에 대한 개요를 제공합니다. 그러나 ISO 178을 준수하는 시험을 수행하려는 경우, 이 가이드가 전체 표준서를 읽는 것을 대신할 적절한 대체물로 간주해서는 안 됩니다.

무엇을 측정합니까?

플라스틱 허브 아이콘

ISO 178은 만능 재료 시험기에서 3점 굽힘 시험을 수행하여 경질 및 반경질 플라스틱의 굴곡 특성을 결정하기 위한 시험 방법입니다. 3점 굽힘 시험은 양쪽 끝이 자유롭게 지지되는 직사각형 시편의 중간 지점에 힘을 가합니다. 가해진 힘은 로드셀에 의해 측정되며, 그 결과 발생하는 변위는 시스템의 크로스헤드 이동량(시스템 컴플라이언스 보정 결과 포함) 또는 직접 변형 측정 장치에 의해 측정됩니다. ISO 178에는 네 가지 시험 유형이 명시되어 있으며, 각 유형은 변위 측정 방법(즉, 크로스헤드 또는 직접 변형 트랜스듀서 경유)과 관련 교정 정확도 요구 사항을 규정합니다.

실험실에서 수행하는 ISO 178 시험 유형은 R&D 실험실과 같은 내부 고객이나 제3자 시험 실험실과 같은 외부 고객의 요구 사항에 따라 규정됩니다. 시험 장비를 구매하고 시험을 수행하기 전에 실험실의 특정 요구 사항을 확인하고 고객과 합의하는 것이 중요합니다.

ISO 178이 귀하에게 적합한 표준입니까?

ISO 178은 ASTM D790과 매우 유사하지만 몇 가지 핵심적인 차이점이 있습니다.

  • ISO 178은 탄성계수를 결정하기 위해 디플렉토미터(deflectometer) 또는 컴플라이언스 보정을 사용해야 합니다. 반면 ASTM D790은 크로스헤드 이동량만으로 탄성계수를 계산하는 것을 허용합니다.
  • 선호되는 시편 크기가 다르며, 시험 속도는 시편의 두께에 따라 달라지므로 표준 간의 시험 속도가 다를 수 있습니다. ISO 178 시편의 권장 두께는 4mm인 반면, ASTM D790 시편의 권장 두께는 3.2mm입니다.
  • ASTM D790은 하나의 시험 속도만 허용하는 반면, ISO 178은 탄성 계수 측정 후 두 번째 (더 빠른) 시험 속도를 사용할 수 있도록 허용합니다.

표본

ISO 178 시편은 ISO 2818에 따라 시트에서 가공되거나, 각각 ISO 293/295 또는 ISO 294-1/10724-1에 따라 압축 또는 사출 성형을 통해 준비됩니다. 권장되는 시편 치수는 다음과 같습니다.

  • 길이: 80 mm (± 2)
  • 폭: 10 mm (± 0.2)
  • 두께: 4 mm (± 0.2)

권장 치수를 달성할 수 없는 경우, ISO 178은 시편의 두께에 따른 대안적인 폭을 제공합니다. 재료가 이방성인 경우 두 방향 모두 시험해야 합니다.

절차

ISO 178 시험은 상대적으로 낮은 하중 용량 요구 사항으로 인해 일반적으로 탁상형 만능 재료 시험기에서 수행됩니다. 시험기는 표준에 명시된 허용 오차 내에서 1~500mm/min 사이의 일정한 시험 속도를 유지할 수 있어야 합니다. 인스트론의 3400 시리즈6800 시리즈 시험기의 모든 모델은 필요한 속도 정확도 요구 사항을 충족합니다. 힘 측정 장치 또는 로드셀은 보고할 힘의 범위에 대해 ISO 7500-1의 Class 1을 충족해야 합니다. 실험실에서 최소 및 최대 시험 하중을 파악하여 적절한 하중 용량과 검증 범위를 가진 로드셀을 선택하는 것이 중요합니다.

ISO 178 시험 설정

ISO 178 시험 설정
6800 시리즈 범용 테스트 시스템
Bluehill Universal 소프트웨어
2580 시리즈 로드셀
3점 굽힘 고정 장치 (2810-400)
디플렉토미터 플런저 (2810-403)

변형 측정

변형률 측정
AVE2 비접촉식 신장계
AUTOX750 자동 신장계
2630 시리즈 클립온 신장계

ISO 178은 원하는 결과와 관련 정확도에 따라 다양한 변위 측정 시스템의 사용을 허용합니다. 정확도가 낮은 것부터 높은 것 순으로 허용되는 변위 측정 유형은 크로스헤드 이동량, 컴플라이언스 보정을 포함한 크로스헤드 이동량, 그리고 직접 변형 측정 장치의 사용입니다. ISO 178의 2010년 업데이트 이전에는 변위 측정 정확도 오차가 값의 1%를 초과할 수 없었습니다. 그러나 2010년 업데이트 이후 운영자는 ISO 9513에 따른 Class 1 디플렉토미터를 사용하거나 결과에서 기계 컴플라이언스를 제거할 수 있는 소프트웨어를 사용해야 합니다.

실험실에서 어떤 변위 정확도를 요구하든 인스트론은 이를 충족하는 솔루션을 보유하고 있습니다. Bluehill Universal 소프트웨어가 장착된 모든 3400 시리즈 및 6800 시리즈 시험 프레임은 컴플라이언스 보정 여부와 관계없이 크로스헤드에서 변위를 측정할 수 있습니다. 인스트론은 또한 직접 변형 측정을 위한 다양한 솔루션을 제공합니다. 일반적인 솔루션 중 하나는 플런저 또는 디플렉토미터에 장착된 클립온 신伸び계입니다. 가장 진보되고 처리량이 높은 솔루션에는 AutoX750어드밴스드 비디오 신伸び계(AVE3).

시스템의 로드셀과 마찬가지로 변위 측정 장치도 보고된 결과의 작동 범위에 대해 검증되어야 합니다. 특히 굴곡 탄성계수는 매우 작은 변위(0.1mm 미만)에서 계산됩니다. 검증 서비스 제공업체에 적절히 지시할 수 있도록 시험의 최소 및 최대 변위를 파악하는 것이 도움이 됩니다.

 


ISO 178 신伸び계

고정구

ISO 178 시험을 위해서는 3점 굽힘 고정 장치가 필요합니다. 이 고정 장치는 이동하는 크로스헤드에 장착된 상부 가압 앤빌과 두 개의 조절 가능한 앤빌이 있는 고정된 하부 지지 빔으로 구성됩니다. 인스트론의 2810-400 굴곡 고정 장치는 고정 장치 요구 사항을 완전히 준수하며, 두께 3.0mm 이하의 시편 시험을 위한 반경 2.0mm 앤빌 또는 더 두꺼운 시편을 위한 반경 5.0mm 앤빌과 함께 사용할 수 있도록 조정 가능합니다. 지지 스팬 요구 사항은 시편 두께의 비율을 기준으로 하며, 이는 시험 대상 재료의 강성에 따라 달라집니다. 조절 가능한 앤빌을 통해 운영자는 지지 스팬 거리를 설정할 수 있으며, 지지 빔에 눈금 단위가 표시되어 있어 앤빌을 정확하게 배치할 수 있습니다. 또한 변형 장치를 사용할 때 디플렉토미터의 중심을 쉽게 맞출 수 있습니다. 시편 정렬은 결과에 상당한 편차를 일으킬 수 있으므로 각 시험마다 시편이 일관되게 정렬되도록 적절한 주의를 기울여야 합니다. 인스트론 굽힘 고정 장치에는 시편 폭에 맞춰 조절 가능한 정렬 암도 함께 제공됩니다.

2810-400-01-16

5 kN 모델 | 2810-400

시편 측정

ISO 178은 ISO 16012에 따라 시편 길이의 중앙에서 폭과 두께를 측정하도록 규정하고 있습니다. 최소 세 번의 측정을 수행하고 폭과 두께 모두에 대해 평균값을 기록합니다. Bluehill Universal의 인스트론 자동 시편 측정 장치(ASMD) 기능을 사용하면 운영자가 최대 두 개의 마이크로미터 또는 측정 장치를 컴퓨터에 연결하여 측정 평균값을 소프트웨어에 직접 입력할 수 있습니다. 이를 통해 운영자의 입력 오류 가능성을 제거하고 효율성을 높일 수 있습니다.

시험 방법

3점 굽힘 고정 장치의 스팬(하부 앤빌 사이의 거리)은 시편 두께의 함수로 구성됩니다. 예를 들어 저온 또는 고온과 같은 시험의 환경 조건은 시험 대상 재료에 따라 달라지며 실험실과 고객 간에 합의되어야 합니다. 이 정보가 없는 경우 ISO 291에서 지침을 제공합니다. 인스트론은 비상온 시험을 수용하기 위해 완전히 통합된 환경 챔버를 제공합니다.

ISO 178은 크로스헤드 속도를 설정하기 위해 방법 A와 방법 B를 지정합니다. 방법 A는 시험 전체에 걸쳐 단일 속도를 사용하는 반면, 방법 B는 초기 탄성계수 영역 동안 한 가지 속도를 사용하고 나머지 시험 동안에는 더 높은 두 번째 속도를 사용합니다. 사용되는 일정한 크로스헤드 속도는 지정된 변형률을 추정하기 위한 것입니다. 예하중 루틴에 따라 시험 시편은 파단되거나 5% 굴곡 변형률 중 먼저 발생하는 시점까지 굴곡됩니다. 힘과 변위 데이터는 충분한 데이터 수집 속도로 시험 전반에 걸쳐 기록됩니다.

시험을 설정할 때 정확하고 일관된 변형 측정을 보장하기 위해 적절한 예하중을 가하는 것이 강력히 권장됩니다. 시험을 시작하기 전에 시편에 가해지는 힘의 양은 계산의 반복성에 직접적인 영향을 미칩니다.

재료 시험 시스템에서의 ISO 178 설정

ISO 178 시험 설정

3400 시리즈 만능 시험 시스템


Bluehill Universal 소프트웨어


2530 Series Load Cell


3점 굽힘 지그 (2810-400)

결과

다음은 ISO 178에 대해 보고할 수 있는 계산 및 결과 목록입니다.

  • 굴곡 응력 – 가해진 하중, 스팬, 시편 폭 및 시편 두께의 함수입니다. 이는 단위 면적당 힘인 인장 또는 압축 응력과는 다릅니다.
  • 굴곡 변형률 – 변위, 스팬 및 시편 두께의 함수입니다. 이는 원래 표점 거리에 대한 표점 거리의 변화인 인장 또는 압축 변형률과는 다릅니다.
  • 굴곡 탄성계수 – 0.05%와 0.25% 굴곡 변형률 사이의 굴곡 응력 및 굴곡 변형률의 함수입니다. 굴곡 응력 대 굴곡 변형률 곡선의 해당 지점에서 현 탄성계수(chord modulus)를 구할 수 있습니다.
  • 굴곡 강도 – 굽힘 시험 중에 얻은 최대 굴곡 응력입니다.
  • 파단 시 굴곡 응력 – 시편이 파단될 때의 굴곡 응력입니다. 일부 재료의 경우 시편이 항복점 이전에 파단되며, 이 경우 굴곡 강도는 파단 시 굴곡 응력과 같습니다.
  • 5% 굴곡 변형률에서의 굴곡 응력 – 시편이 5% 굴곡 변형률 이내에서 파단되지 않는 시험의 경우, 시험 종료 시의 굴곡 응력입니다.

 

처리량

처리량을 늘리려는 실험실의 경우 시스템 설정에 몇 가지 수정을 가할 수 있습니다. 자동 시편 측정 장치와 시편 정렬 장치는 모두 시험 운영자의 수동 입력 필요성을 줄여 시험 효율성을 높입니다. 인스트론의 AT3AT6와 같은 완전 자동화된 시험 시스템도 제공되며, 시편 측정, 시편 로딩, 시험 및 제거를 통합하도록 설계되었습니다. 이러한 시스템은 운영자의 개입 없이 몇 시간 동안 가동될 수 있습니다. 또한 이러한 시스템은 인적 오류로 인한 가변성을 줄이는 데 도움이 됩니다.