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Instron 推出新型 AVE3 高級視頻引伸計

Instron® 很高興地宣佈推出 AVE3,這是一款先進的非接觸式視頻引伸計,可為拉伸、壓縮和彎曲測試提供精確的應變數,具有無與倫比的微米級精度。

用途廣泛的 AVE3 可以測量各種材料(如塑膠、金屬、複合材料、生物材料、紡織品和彈性體)以及薄膜和箔等敏感材料的模量和應變失效率。AVE3 符合 ISO 9513 和 ASTM E83 標準,允許實驗室使用一台設備可靠地測試任何標準,而無需購買和維護多個夾持式引伸計。

Instron 的 AVE3 引伸計採用正在申請專利的CDAT氣流技術。

AVE3 可以配置為適應一系列標距長度和伸長率。新的運動安裝座使每個鏡頭都能自動卡入工廠校準的位置,從而每次都能輕鬆捕獲準確的數據。

為了防止典型的實驗室空氣干擾,如 HVAC 系統和人類作員的移動,AVE3 使用了 Instron 正在申請專利的恆密度空氣隧道 (CDAT) 技術,該技術在測試空間周圍形成類似力場的保護屏障。

這種CDAT氣流技術消除了誤差,減少了測試數據中的雜訊,並將精度提高了五倍(與沒有CDAT技術的視頻引伸計相比)。

此外,Instron 的動態交叉偏振照明系統為不同實驗室空間的波動照明條件提供了強大的解決方案。該專利系統可動態調整其照明水準,以確保試樣上的所有標記都得到完美照明,從而在任何測試環境中獲得一致的結果。

AVE3 引伸計的設計符合 ISO 6892-1 和 ASTM E8 標準,可實現閉環應變速率控制,這是測試應變速率敏感金屬的首選模式。對於專注於在不同系統和位置獲得一致、可重複結果的實驗室來說,此功能尤其有價值。利用CDAT氣流技術和先進的動態照明,AVE3 可提供幾乎無雜訊的應變信號,無需進行可能扭曲結果或導致測試控制滯後的繁重濾波。



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“長期以來,環境變化一直是光學應變數的致命弱點。即使是實驗室溫度或照明的微小變化也會引入明顯的信號雜訊並破壞數據完整性,“ Instron 應變數設備產品經理 Casey Willis 說。 “AVE3 通過其正在申請專利的CDAT(恆密度空氣通道)氣流技術和獲得專利的照明系統直接解決了這些痛點——這兩項核心創新可確保數據一致,即使在不同的實驗室條件下也是如此。對於要求最高可靠性的實驗室,AVE3 樹立了新的標杆。

AVE3 配有一個新的簡化校準板,可以直接夾在試樣上,載荷鏈完好無損,使作員或管理人員更容易確認其現有的校準仍然有效。完全校準可在不到一分鐘的時間內完成,從而縮短了開始測試所需的時間。

AVE3 的可選附加元件包括 AverEdge32TM,它可以同時測量試樣標距長度上 32 個位置的應變,然後即時平均它們,提供可重複的橫向應變數,這對於計算金屬板的 r 值至關重要(根據 ISO 10113 和 ASTM E517)。

實驗室還可以記錄他們的測試圖像,以便與可選的 數位圖像相關 (DIC) 軟體一起使用,該軟體比較測試樣品表面的圖像,以生成全場應變和位移圖,並與 Bluehill® Universal 測試數據同步。