Instron 推出全新 AVE3 進階視訊引伸計
Instron® 榮幸宣布推出 AVE3，這是一款先進的非接觸式視訊引伸計，可為拉伸、壓縮和彎曲測試提供無與倫比的微米級精確應變測量。
功能極其多樣的 AVE3 可以測量各種材料的模數和斷裂應變，例如塑料、金屬、複合材料、生物材料、紡織品和彈性體，以及薄膜和箔片等敏感材料。AVE3 符合 ISO 9513 和 ASTM E83 標準，使實驗室能夠使用單一設備可靠地測試任何標準，而無需購買和維護多個夾式引伸計。
AVE3 可配置以適應各種標距長度和伸長率。全新的運動學安裝座使每個鏡頭都能自動卡入工廠校準的位置，讓每次都能輕鬆擷取精確的數據。
為了防止典型的實驗室空氣干擾（如空調系統和操作人員的移動），AVE3 使用了 Instron 正在申請專利的恆定密度風洞 (CDAT) 技術，該技術在測試空間周圍建立了一個類似力場的保護屏障。
這種CDAT氣流技術消除了誤差，減少了測試數據中的雜訊，並將精度提高了五倍（與沒有CDAT技術的視頻引伸計相比）。
此外，Instron 的動態交叉偏振照明系統為不同實驗室空間的波動照明條件提供了強大的解決方案。該專利系統可動態調整其照明水準，以確保試樣上的所有標記都得到完美照明，從而在任何測試環境中獲得一致的結果。
AVE3 引伸計專為符合 ISO 6892-1 和 ASTM E8 標準而設計，可實現閉迴路應變率控制，這是測試應變率敏感金屬的首選模式。對於專注於在不同系統和位置實現一致、可重複結果的實驗室而言，此功能特別有價值。利用 CDAT 氣流技術和先進的動態照明，AVE3 可提供幾乎無雜訊的應變訊號，從而消除了對重度濾波的需求，因為重度濾波可能會扭曲結果或在測試控制中引入延遲。
「環境變異性長期以來一直是光學應變測量的弱點。即使是實驗室溫度或照明的微小變化，也可能引入顯著的訊號雜訊並損害數據完整性，」Instron 應變測量裝置產品經理 Casey Willis 表示。「AVE3 透過其正在申請專利的 CDAT（恆定密度風洞）氣流技術和專利照明系統直接解決了這些痛點，這兩項核心創新確保了即使在多變的實驗室條件下也能獲得一致的數據。對於要求最高水準可靠性的實驗室而言，AVE3 樹立了新的基準。」
AVE3 隨附一個全新的簡化校準板，可直接夾在試樣上（負載鏈保持完整），使操作員或管理人員能夠輕鬆確認其現有的校準是否仍然有效。完整的校準可在不到一分鐘內完成，縮短了開始測試所需的時間。
AVE3 的選購配件包括 AverEdge32TM，它可同時測量試樣標距長度上 32 個位置的應變，然後進行即時平均，提供對於計算薄板金屬 r 值（根據 ISO 10113 和 ASTM E517）至關重要的可重複橫向應變值。
實驗室還可以記錄測試影像，以便與選購的 數位影像相關 (DIC) 軟體配合使用，該軟體會比較受測試樣表面的影像，以生成全場應變和位移圖，並與 Bluehill® Universal 測試數據同步。
