공압식 코드 및 얀 인장 그립

공압 코드 및 실 인장 그립

섬유, 코드, 실 및 가는 편조 와이어 시험용

섬유 코드, 실 및 로프 인장_그립

공압 코드 및 실 그립은 섬유, 코드, 실 및 가는 편조 와이어를 클램핑하는 편리한 방법을 제공하여 이러한 재료 시험과 관련된 조 파손 문제를 줄여줍니다. 매끄럽게 마감된 특수 설계된 혼과 눈금이 매겨진 캠이 있는 윤곽 표면은 시편 로딩을 쉽게 해주고 시편에 대한 클램핑 영역의 응력을 감소시킵니다. 클램핑 메커니즘은 자동으로 또는 풋 스위치를 통해 활성화될 수 있습니다. 이를 통해 핸즈프리 그립 작동이 가능하여 시편을 양손으로 잡고 쉽게 로드할 수 있습니다. 공압 코드 및 실 그립은 다양한 소재를 수용할 수 있는 선택 가능한 파지력과 시편 크리프로 인한 파지력 감소를 보상해주는 우수한 팔로우업 액션을 제공합니다.

작동 원리

모노필라멘트, 코드 및 얀의 그립 영역이 강도에 비해 작은 경우, 표준 그립 페이스를 사용하는 일반적인 기술은 일반적으로 조 페이스에 인접한 시편 파손을 초래합니다. 공압 코드 및 실(yarn) 그립은 마찰을 통해 구부러진 하프 캡스턴의 표면에 그립력을 고르게 분배하는 캡스턴 디자인을 통합하여 시편 파손 문제를 극복하도록 특별히 설계되어 있습니다.

또한 시편 끝에 가해지는 공압 완충 그립력은 시편 크립으로 인한 힘의 감소를 보상합니다. 공압은 윤곽이 있는 고정 그립 페이스에 작용하는 이동 페이스를 동작시킵니다. 이는 캡스턴 역할을 하여 시편을 지지하며, 이에 의해 시편의 자유 응력 길이에서 견고하게 고정된 부분으로의 전환을 갑작스럽기 보다는 점진적으로 진행하여 죠 페이스에 인접한 시편의 파손을 최소화합니다. 캡스턴에는 또한 신속한 시편 로딩을 지원하기 위해 광택 마감 처리한 광택 가이드 혼이 장착되어 있어서 시편 삽입 중에 개별 섬유의 손상을 방지할 수 있습니다.

시편을 혼의 상단에 걸쳐놓고 윤곽이 있는 클램프의 적절한 그립 위치로 밀어 갑니다. 그립은 핸즈프리 작동을 위해 공압식 풋스위치로 닫거나 열 수 있습니다. 소프트웨어 또는 시스템 기본 설정을 통해 핸즈프리, 자동화 및 프리텐션 시험을 할 수 있는 자동 에어 키트도 이용할 수 있습니다.

적용 범위

  • 하중 유형: 인장, 정적 및 인장 반복 시험
  • 고주기 피로 시험에 적합하지 않음
  • 시편 소재: 가는 연선, 코드, 실, 모노필라멘트
  • 시편 형상: 원형

이용 가능한 모델

하중 용량 최대 시편 직경 카탈로그 번호 전체 사양 보기
50N 2.4mm 2714-031 브로셔 다운로드
1kN 3.2mm 2714-005 브로셔 다운로드
1kN [High Temperature] 3.2mm 2734-007 여기를 클릭하세요.
2kN 4.8mm 2714-040 브로셔 다운로드

Dynamic Fatigue

Dynamic Fatigue

Dynamic Fatigue

Dynacell is the world's first truly dynamic load cell, designed from the outset for measuring dynamic loads. Dynacell utilizes an accelerometer right at the heart of the load cell, directly on the load axis. This removes the risk of errors in the acceleration reading resulting from off-center loading.

2527 Series Bi-axial Dynacell Load Cells

The 2527 Series load cells are designed for use with Dynamic Testing Systems; offering exceptional performance with the ability to measure forces as low as 1/250th of the force capacity to an accuracy of 0.5% of reading.

2527 Series Dynacell Load Cells

Dynacell is a unique load measurement device that automatically compensates for load errors induced through inertia of the load string components. A method
of dynamic inertia compensation is essential for all forms of dynamic testing.

T-슬롯 테이블

T-슬롯 테이블

부품 및 구조물 시험용

Tスロットテーブル

T-슬롯 테이블은 만능 시험 시스템에 확장된 작업 공간을 제공하여 인장, 압축 및 굽힘 시험을 위한 부품 및 구조물을 편리하게 고정할 수 있습니다. T-슬롯 테이블은 장비 베이스에 직접 장착되며, 전후, 좌우, 대각선 방향으로 T-슬롯이 장착되어 있습니다. 제공된 다양한 클램핑 도구를 사용하여 부품 및 구조물을 테이블에 고정할 수 있습니다. 이 설계 덕분에 T-슬롯 테이블을 프레임에서 제거할 필요 없이 표준 Instron 그립, 시험 지그 및 기타 주요 액세서리를 사용할 수 있습니다.

機械式くさびグリップとTスロットテーブル

작동 원리

T-슬롯 테이블을 사용하면 표준 그립으로 고정할 수 없는 부품을 만능 시험기에 고정할 수 있습니다. 시판되는 T-슬롯 너트를 테이블의 역 T-슬롯에 밀어 넣습니다. 그런 다음 볼트, 스터드 또는 나사산 로드를 너트에 끼울 수 있습니다. T-슬롯 테이블은 하중 하에서 시험 공간에서 이탈될 수 있는 시편을 고정하는 데 사용할 수 있습니다.

T-슬롯 테이블은 반복 시험 또는 제품 배치 시험을 위해 시편을 동일한 위치에 배치하는 데에도 사용할 수 있습니다. 가이드, 슬라이드 또는 스톱을 테이블에 배치하고 볼트로 고정하여 모든 시험에서 시편을 정확하게 배치할 수 있습니다.

적용 범위

  • 시험 유형: 인장, 압축, 굽힘, 박리, 반복(정적)
  • 시편 유형: 부품, 구조물
  • 일반적인 적용 분야: 자동차, 전자, 생체 의료, 소비재

사양
카탈로그 번호 최대 용량 호환 프레임 폭 깊이
CP103964 5 kN 3340, 4440, 5540, 5840, 5940, 34SC, 68SC 단일 컬럼 시스템 200 mm 160 mm
2850-206 50 kN 3360 테이블형 시스템 400 mm 500 mm
2850-205 50 kN 4460, 5560, 5860, 5960, 34TM, 68TM 테이블형 시스템 400 mm 500 mm
2850-203 300 kN 3382, 3384, 3385H, 34FM-100, 34FM-300, 4481, 4482, 4484, 4485, 5581, 5582, 5584, 5585, 5585H, 5881, 5882, 5884, 5885, 5885H, 5982, 5984, 5985, 68FM-100, 68FM-300 550 mm 500 mm
2850-202 600 kN 250 kN 초과 용량의 4400, 5500, 5800, 5900 플로어형 시스템 640 mm 640 mm

Composite Tensile Grip Guide

Composite Tensile Grip Guide

This composite tensile grip guide provides an overview of key specifications for tensile grips that are ideally suited for testing composite materials. For a detailed look at the requirements and important issues related to gripping composite laminate coupons, read our Composites Gripping Guide White Paper.

Manual Wedge Action Grips
Grip Type Moving body wedge
Static Capacity 100 kN, 150 kN
Operation Manual
Interchangeable Yes
Temperature Range -70° to 315° C
Can You Attach Fixtures
Without Removing Grips? 
Some grips can be outfitted with adaptors to attach other fixtures - offering the flexibility to perform other tests without needing to remove the grips. This is referred to as piggybacking.
No
Nadcap Alignment No
Catalog Numbers 2716-002, 2716-003, 2716-008, 2736-004, 2736-005
Precision Manual Wedge Grips
Grip Type Moving body wedge
Static Capacity 100 kN, 250 kN
Operation Manual
Interchangeable Possible (not easy)
Temperature Range -80° to 250° C
Can You Attach Fixtures
Without Removing Grips? Precision Manual Wedge Grips with Composite Testing Fixture Attached
 
Some grips can be outfitted with adaptors to attach other fixtures - offering the flexibility to perform other tests without needing to remove the grips. This is referred to as piggybacking.
Yes
Nadcap Alignment Yes
Catalog Numbers 2716-028, 2716-030

Hydraulic Wedge Action Grips
Grip Type Moving body wedge
Static Capacity 130 kN, 312 kN, 600 kN
Operation Hydraulic
Interchangeable No
Temperature Range Ambient only
Can You Attach Fixtures
Without Removing Grips? Hydraulic Wedge Action Grips with Compression Fixture Attached
 
Some grips can be outfitted with adaptors to attach other fixtures - offering the flexibility to perform other tests without needing to remove the grips. This is referred to as piggybacking.
Yes
Nadcap Alignment Yes
Catalog Numbers 2743-401, 2742-501, 2742-601
Extended Hydraulic Wedge Action Grips

Extended Hydraulic Wedge Grips
Grip Type Extended moving body wedge
Static Capacity 130 kN, 312 kN
Operation Hydraulic
Interchangeable No
Temperature Range -70° to 350° C
Can You Attach Fixtures
Without Removing Grips? Extended Hydraulic Wedge Grips with Test Fixture Attached
 
Some grips can be outfitted with adaptors to attach other fixtures - offering the flexibility to perform other tests without needing to remove the grips. This is referred to as piggybacking.
Yes
Nadcap Alignment Yes
Catalog Numbers CP104947, CP109120

Impact Testing System Accessories

Impact Testing System Accessories

W-3572-B_J-Bolts_and-W-3572-D_Foundation-Template

Foundation Hardware for the MPX Series

A template and hardware to attach the MPX to a concrete foundation.

Description Catalog No.
J Bolts | Includes 4 J-Bolts, Hex Nuts, Washers and Polymer Nuts W-3572-B
Foundation Template W-3572-D

Hammer Weight
Hammer Weight Hammer Weight

Hammer Weights for the MPX Series

Hammer weights and attachment hardware for use with MPX Series frames of equal or greater capacity.

Description Catalog No.
300J Hammer Weight W-3576-A
450J Hammer Weight W-3576-B
600J Hammer Weight W-3576-C
750J Hammer Weight W-3576-D

W-3577_Hammer-Weight-Change-Kit-with-Hoist-400x400

Hammer Weight Change Kit with Hoist for MPX Series

Catalog No. W-3577

Kit includes a chain hoist with a capacity of up to 500 kgf (1100 lbf) and a frame mounting bracket to suspend the hoist from an MPX Series pendulum impact machine. This kit is used to easily lift and securely support the hammer weights during weight changes, or the pendulum hammer assembly when replacing the striker, anvils, or other wear components.

W-3598-Manual-Charpy-Specimen-Loader-Device

Manual Charpy Specimen Loader for MPX Series

Catalog No. W-3598

The Charpy specimen loader device attaches to the MPX frame and uses a manually operated pivoting arm to place individual specimens on the anvil for ambient testing. The arm must be moved away for the door to close and the test to be performed. Kit includes the specimen loader assembly and mounting hardware.

Charpy Tongs W-3550

Tongs

Tongs for handling and centering ambient and low-temperature Charpy and Izod specimens.

Description Catalog No.
Charpy Tongs W-3550
Izod Tongs W-3587-D

Charpy Test Kit

Charpy Test Kits

Charpy test kits include a Charpy impact striker, Charpy anvil inserts, and shrouds. These are for use on SI and MPX Series pendulum impact testing systems.

Description Catalog No.
Charpy Test Kit for ISO 148-2:2009
Includes: Charpy impact striker (2 mm Radius), and Charpy anvil inserts (1 mm radius), and shrouds
W-3599-A
Charpy Test Kit for ASTM E23-12C (also complies with ISO 148-2:2009)
Includes Charpy impact striker (8 mm radius), and Charpy anvil inserts (1 mm radius), and shrouds
W-3599-B

Izod Test Conversion Kit

Izod Test Conversion Kit

Catalog No. W-3587-C

Izod test conversion kit includes the components required to convert an MPX and SI Series pendulum impact tester to conduct an Izod test. Included are tongs for specimen handling, a magnetic specimen retrieval device and other necessary tooling. An Izod striker is not included.

W-3599-D-Charpy-Impact-Stiker

Charpy Impact Strikers

Additional or spare Charpy impact strikers can be provided for testing with either a 2 or 8 mm radius.

Description Catalog No.
Charpy Impact Striker (2 mm radius) for ISO 148-2:2009 W-3599-C
Charpy Impact Striker (8 mm radius) for ASTM E23-12C (also complies with ISO 148-2:2009) W-3599-D

Izod Impact Striker

Catalog No. W-3587-A

Izod impact striker for machine capacities 240 ft-lbf (325.4 joule) and greater.

Charpy Specimen Support Sets

Charpy specimen support sets are for use with SI and MPX Series pendulum impact testing systems and are compliant with ASTM E23-12C and ISO 148-1:2009.

Description Catalog No.
Standard (10 mm x 10 mm) Charpy Specimen Support Set W-3585
Subsize (7.5 mm x 10 mm Charpy Specimen Support Set (Set of 2) W-3596
Subsize (5.0 mm x 10 mm Charpy Specimen Support Set (Set of 2) W-3595
Subsize (2.5 mm x 10 mm Charpy Specimen Support Set W-3594

W-3609-Charpy-Cooling-Bath

FTS Charpy Specimen Cooling Baths

FTS Charpy Specimen Cooling Bath includes Charpy rack that holds up to 65 specimens and exceeds ASTM E23 / ISO 148 temperature stability requirements.

  • Temperature Control Range: -80 C to +30 C, +/- 0.1 C
  • Bath Volume: 4 liters
  • Approved: UL#61010-1, CAN / CSA 22.2 #61010-1, CE (2006/42/EC), (2006/95/EC), (006/108/EC).

Note: Performance specifications are based on SP Scientific test data from units using methanol and operating at an ambient room temperature of approximately 22 C (72 F). Higher ambient temperatures and/or different fluids may interfere in the system's ability to achieve its ultimate low temperature.

Description Catalog No.
220 V Cooling Bath (50 Hz, 6 AMP) W-3609-A
120 V Cooling Bath (60 Hz, 12 AMP) W-3609-B

W-3558-Charpy-Centering-Gauge

Charpy Centering Gauge

Catalog No. W-3558

A centering gauge for positioning Charpy anvil and pendulum.

W-3561-Lateral-Expansion-Gauge

Charpy Lateral Expansion Gauge

Catalog No. W-3561

A lateral expansion gauge for impact testing in accordance with ASTM A370.

환경 챔버

환경 챔버

비상온 조건에서의 시험용

Environmental Testing Chambers

정적 및 동적 시험기 모두와 호환되는 3119-600 시리즈 환경 챔버는 비상온 조건에서 재료 특성을 평가하기 위한 광범위한 온도 시험 기능을 제공합니다. 챔버는 다양한 표준 치수로 제공되며, 장비에 고정하거나 롤러 브래킷에 장착할 수 있습니다. 필요한 경우 맞춤형 마운팅을 사용하여 다른 제조사의 시험기에도 장착할 수 있습니다. 또한, 귀하의 애플리케이션 요구 사항이 당사의 표준 챔버, 그립 및 고정 장치 사양을 벗어나는 경우, Instron은 로드 스트링 구성 요소를 포함한 완벽한 솔루션을 맞춤 제작할 수 있습니다.

작동 원리

Instron 환경 챔버는 강제 대류 원리를 사용하여 시편, 그립 및 풀 로드 주변에 뜨겁거나 차가운 공기를 순환시켜 최적의 가열/냉각 속도, 감소된 열 구배 및 우수한 열 안정성을 제공합니다. 상온 공기는 또한 챔버 후면에서 단열재와 외부 패널 사이의 공간으로 통과됩니다. 이는 챔버의 외부 표면을 시원하게 유지하는 데 도움이 됩니다. 선택 가능한 고/저 팬 속도는 챔버 내 공기 난류의 영향을 줄여 섬세한 시편을 시험할 수 있도록 합니다.

기능 및 이점

  • 고급 기능에는 8단계 램프/유지, USB 인터페이스 및 아날로그 DC 출력 기능이 포함됩니다.
  • 탈착식 웨지 포트는 빠르고 쉬운 로드 스트링 설정을 제공하며, 풀 로드를 방해하지 않으면서 신장계 케이블용 계측기 컷아웃을 통합합니다.
  • 전용 극저온 배기 포트는 안전한 환기를 간편하게 합니다.
  • 저온 시험 시 성에 및 김 서림을 최소화하기 위한 트윈 카트리지 히터가 장착된 삼중창, 광학 품질 붕규산 유리창.
  • 자동 튜닝 기능이 있는 완전한 3항 PID 온도 컨트롤러는 단순성과 유연성을 결합하여 다양한 시험 요구 사항을 충족합니다.
  • 선택 가능한 저속 팬 속도는 공기 난류를 줄여 낮은 힘에서 섬세한 시편의 시험을 개선합니다.
  • 수냉식 그립용 바닥형 챔버의 인터록 스위치는 물 흐름이 중단되면 챔버를 자동으로 종료합니다.
Environmental Chamber Drawing

가열 및 냉각

가열은 전기 가열 요소 위로 공기를 통과시켜 이루어집니다. 해당 범위의 모든 챔버에는 가열 기능이 기본으로 제공됩니다. 냉각은 선택 사양인 냉각 밸브를 통해 극저온 가스(CO2 또는 LN2)를 챔버 안으로 불어넣어 이루어집니다. 극저온 가스는 일반적으로 실린더(액체 CO2) 또는 자체 가압 듀어(액체 N2)에 저장됩니다. 폐 극저온 가스는 전용 포트를 통해 챔버 후면으로 배출되며, 이 포트에는 실리콘 고무 파이프를 연결하여 실험실 환경 외부로 배출할 수 있습니다.

Fan
Instron 5960 Series Table Top Model

시편 접근

시편 및 그립 접근은 가열식 광학 유리창이 포함된 왼쪽 경첩 도어를 통해 이루어집니다. 필요한 경우 내부 조명을 통해 챔버 내부를 명확하게 볼 수 있습니다. 도어가 열리면 챔버는 가열, 냉각 및 팬을 자동으로 끄므로 작업자에게 도달하는 뜨겁거나 차가운 공기를 줄여줍니다.

온도 제어

챔버에 장착된 전용 Eurotherm 3208 온도 컨트롤러는 필요한 설정 온도 선택에 사용됩니다. 온도는 챔버 내부의 Type N 열전대에 의해 모니터링되고 제어됩니다. 컨트롤러는 정의된 가열 속도와 유지 시간(8개 세그먼트)으로 프로그래밍될 수 있으며, 호환되는 Instron 소프트웨어를 사용하여 USB를 통해 PC와 통신할 수 있습니다. 또한 차트 기록기와 같은 다른 장치에서 사용할 수 있도록 0-10V 아날로그 온도 출력을 제공합니다.

Temperature Controller

액세서리

3119-600 시리즈 환경 챔버는 광범위한 그립, 고정 장치, 신장계 및 푸시/풀 로드와 호환되어 비상온 시험 조건이 필요한 다양한 시험 애플리케이션에 대해 안정적이고 지속적인 성능을 제공합니다.

표준 챔버

6800 Series Universal Testing System with an Environmental Chamber

 

탁상형 시스템용 챔버
카탈로그
번호
온도
등급 주변 온도 이하를 달성하려면 냉각 옵션이 필요합니다.
내부
치수 깊이 x 너비 x 높이
외부
치수 너비 x 높이
3119-605 -100 °C ~ 350 °C 230 x 240 x 485 mm 350 x 635 mm
3119-606 -100 °C ~ 350 °C 230 x 240 x 560 mm 350 x 710 mm
3119-609 -100 °C ~ 350 °C 230 x 240 x 660 mm 350 x 810 mm
3119-615 -100 °C ~ 350 °C 230 x 240 x 860 mm 350 x 1010 mm
6800 Series floor model with BlueHill Universal and an environmental chamber

바닥형 시스템용 챔버
카탈로그
번호
온도
등급 주변 온도 이하를 달성하려면 냉각 옵션이 필요합니다.
내부
치수 깊이 x 너비 x 높이
외부
치수 너비 x 높이
3119-607 -150 °C ~ 350 °C 400 x 400 x 560 mm 550 x 710 mm
3119-608 -150 °C ~ 600 °C 400 x 400 x 560 mm 550 x 710 mm
3119-610 -150 °C ~ 350 °C 400 x 400 x 660 mm 550 x 810 mm
3119-616 -80 °C ~ 350 °C 400 x 400 x 900 mm 550 x 1050 mm
3119-617 -80 °C ~ 350 °C 400 x 400 x 760 mm 550 x 910 mm
3119-618 -80 °C ~ 350 °C 400 x 400 x 1000 mm 550 x 1050 mm

5900 Series Multi-Station Test Frame with Environmental Chamber

맞춤형 챔버

표준 챔버가 제공하는 것 이상의 시험 애플리케이션이 필요한 경우, 당사의 엔지니어링 솔루션 그룹은 더 높거나 넓은 챔버, 더 높은 온도 등급의 챔버, 그립 및 고정 장치와 같은 맞춤형 로드 스트링 구성 요소를 포함하여 귀하의 필요에 맞는 특수 환경 챔버를 설계해 드릴 수 있습니다.

코드 캡스턴 인장 그립

코드 캡스턴 인장 그립

카탈로그 번호 2715-001

코드 캡스턴 그립

코드 캡스턴 그립은 꼬임 또는 편조 코드를 더 빠르고 쉽게 시험할 수 있도록 설계되었습니다. 또한 시편 길이를 사전에 설정할 수 있으며, 빠르고 편리하게 장착할 수 있습니다.

견적 요청하기

작동 원리

코드 캡스턴 그립은 시험 중 꼬임 또는 편조 코드를 고정하는 데 더 우수한 클램핑 방식을 제공합니다. 각 그립에는 우측 나선형 홈 가공 표면을 가진 원형 캡스턴이 있으며, 직경 최대 3.2 mm(0.125 in) 시편을 수용합니다. 캡스턴은 축 방향으로 두 개의 반쪽으로 분할되며, 한쪽은 고정되고 다른 한쪽은 이동 가능합니다. 시편은 캡스턴 바깥쪽에서 중심 방향으로 감은 다음, 분할된 반쪽 사이를 통과시키며 클램핑됩니다. 홈은 캡스턴을 2.5회전 감싸며, 시편 하중 분산과 응력 집중 완화를 위해 2회전 전체를 확보합니다. 시편에 하중이 가해지면 그립은 자동으로 더 조여집니다.

매끄러운 캡스턴 표면은 별도로 제공됩니다.

적용 범위

  • 하중 유형: 인장, 정적 전용
  • 시편 재료: 꼬임 또는 편조 코드
  • 시편 형상: 코드 또는 스트립

2715-001-01-19
사양
카탈로그 번호 2715-001
하중 용량 2.5 kN
최대 시편 직경 3.2 mm
온도 범위 -73 °C ~ 316 °C
View Full Specifications Download Brochure

O-Ring Test Fixtures

O-Ring Test Fixtures

O-Ring Test Fixture
O-Ring Test Fixture
O-Ring Test Fixtures

 

The O-ring test fixture is designed to facilitate the testing of O-rings and other similar continuous loop specimens where it is essential to minimize localized stressing in the sample. With a maximum capacity of 1 kN, these fixtures feature interchangeable spindle sets of various diameters and thicknesses that can be easily swapped out to meet a range of testing standards.

Compatible Frames Catalog Number
Single Column Systems:
334X, 34SC, 444X, 554X, 584X, 594X, 68SC systems with 1 kN or greater capacity
2717-068
Table Model Systems | Standard Height and Extra Height:
336X, 34TM, 446X, 556X, 586X, 596X, 68TM
2717-078
Interchangeable Spindles

 

Roller Diameter Roller Width Relevant Standard Catalog Number
3.18 mm 7 mm 2717-074
4.75 mm 7 mm D412 Proc. B 2717-070
6.35 mm 7 mm 2717-075
12.7 mm 7 mm ASTM D1414 2717-076
15 mm 25 mm BS 3704 2717-071
18.3 mm 7 mm DIN 53504 R2 2717-073
22.3 mm 7 mm DIN 53504 R1 2717-072

More Info

압축 플래튼

압축 플래튼

만능, 동적 및 피로 시험기용

2501 시리즈 압축 플래튼

압축 플래튼은 다양한 재료 및 부품에 대한 압축 시험을 수행하는 데 사용됩니다. 만능 시험기에 설치하면 압축 플래튼을 통해 압축 탄성 계수, 압축 강도 및 압축 항복 강도를 결정하기 위한 다양한 시험을 수행할 수 있습니다.

68SC 폼 압축 시험

2501 시리즈 압축 플래튼

50 N – 600 kN 하중 용량

작동 원리

설치가 용이한 2501 시리즈 압축 플래튼은 시험 중 압축 하중의 균일한 분포를 위해 정밀 가공된 고정 장치입니다. 이 플래튼은 균일한 응력 분포가 중요한 압축 시험을 위해 경화된 표면(Rockwell HRC 58/60)을 가지고 있습니다.

응용 범위
  • 하중 유형: 정적 압축, 압축-압축 반복 시험
  • 시편 재료: 폼, 플라스틱, 금속 및 합금, 포장재, 목재, 복합 재료, 세라믹 및 기타 재료
  • 시편 형상: 정사각형, 원통형 큐브, 부품
2501 시리즈 압축 플래튼 주요 특징
주요 기능
  1. 크기 및 하중 용량 — 직경 50 mm 및 150 mm 플래튼이 가장 일반적이지만, 2501 시리즈는 25 mm – 300 mm 범위의 크기와 50 N – 600 kN 범위의 하중 용량으로 제공됩니다.
  2. 동심원 링 — 더 큰 직경의 앤빌에서 작업자의 편의를 돕기 위해 직경 150 mm ~ 300 mm 플래튼에는 시편 본체의 중심을 더 쉽게 맞출 수 있도록 동심원 링이 레이저로 새겨져 있습니다.
  3. LVDT 장착 — 플래튼 가장자리에는 옵션 변위 변환기를 부착할 수 있는 장치가 있어 시험 중 두 개의 동일한 크기 플래튼 사이의 직접 변위를 측정할 수 있습니다.
  4. 잠금 너트 설계 — 백래시를 제거하기 위해 손으로 쉽게 조일 수 있도록 설계되었습니다.
360° 보기

2501-163-V1-02-08

2501-117-V1-01-23

68SC-12501-083-V1-01-01

68TM-502501-162-V1-01-17

추가 압축 플래튼 모델

자동 정렬 | 고하중 | 피로 등급

자동 정렬 / 구형 시트
정적 및 동적 시험 응용 분야용

작은 예하중을 가하는 동안, 구형 시팅 압축 플래튼은 표면이 완전히 평행하지 않은 압축 시편을 수용하는 데 필요한 자동 정렬 기능을 제공합니다.

산업용 시리즈 압축 플래튼
600 kN – 5000 kN 하중 용량 | 카탈로그 번호 W-2004 및 W2005

Instron의 산업용 시리즈 압축 플래튼은 고하중 압축 시험에서 최적의 성능을 제공하도록 설계되었습니다. 이 내구성이 뛰어난 고강도 플래튼은 평면 및 자동 정렬 버전으로 제공되며 Instron 시스템뿐만 아니라 다른 정적 만능 시험기와도 쉽게 통합될 수 있습니다.

Foam Compression Fixture
Foam Compression Fixture Foam Compression Fixture
폼 압축 고정 장치
카탈로그 번호 2810-130

이 폼 압축 고정 장치는 발포 셀룰러 재료의 압입 및 압축 시험을 위해 설계되었으며 ASTM D3574 (방법 B1/B2), ASTM D5672, ISO 2439 및 ISO 3386과 같은 표준을 충족합니다.

천공된 하중 테이블은 20 mm 간격으로 6.5 mm 구멍이 있으며 장착 표면에서 높게 위치하여 빠른 공기 배출을 가능하게 합니다. 상부 부착물은 스위블 조인트가 통합된 직경 203 mm의 압입기/앤빌입니다.

2840 시리즈 압축 플래튼
동적 시험용 2840 시리즈 압축 플래튼
200 kN – 2000 kN 정적 하중 용량 | 100 kN – 1000 kN 동적 하중 용량

2840 시리즈 압축 플래튼은 LVDT 장착 기능을 통합하고 있으며, 신뢰할 수 있는 압축 고주기 피로 시험을 위해 설계되었습니다.

전자 및 마이크로전자 시험 시스템 및 액세서리

디스플레이, 버튼, 와이어, 배터리, 완제품 기기 또는 인쇄 회로 기판(PCB) 및 칩과 같은 미세 전자 부품 및 어셈블리 등 어떠한 응용 분야에서도 Instron은 인장, 압축, 굽힘, 박리, 전단 및 천공 시험을 위한 포괄적인 시험용 액세서리를 제공합니다. 모든 액세서리는 힘은 밀리뉴턴(mN) 단위로, 시편 치수는 마이크론(μm) 단위로 측정되는 전자 및 미세 전자 시험의 정밀도와 반복성 요구 사항을 충족하도록 설계되었습니다.

250 N and 50 N Pneumatic Side Action Tensile Grips

Instron은 리드, 와이어, 박막 및 불규칙한 모양의 어셈블리를 포함하여 전자 기기 및 미세 전자 부품의 인장 시험을 위한 다양한 그립을 제공합니다. 일부 그립 모델은 조 페이스(jaw face)를 오프셋할 수 있어 접합된 부품의 랩 전단(lap shear) 시험에 적합합니다.

사용 가능한 그립

설명 용량 카탈로그 번호
공압식 사이드 액션 인장 그립 50 N - 10 kN 2712-04x 및 2712-05x 시리즈 자세히 보기
스크루식 사이드 액션 인장 그립 100 N - 10 kN 2710-100 시리즈 자세히 보기
마이크로 공압식 사이드 액션 인장 그립 10 N 2712-101 자세히 보기
공압식 리드 풀 그립 500 N 2712-212 자세히 보기
와이어 풀 훅 지그 10 N 2860-001 문의하기

Bend Fixture Testing Microelectronic Component

Bend Fixture Testing Microelectronic Component
5 kN Flexure Fixture
4 Point Bend Fixture to JEDEC 9702

플렉셔 설비

3점 및 4점 굽힘 지그는 전자 기기, 부품 및 초소형 미세 전자 부품의 굴곡 강도를 특성화하는 데 사용됩니다. 아래 나열된 지그 외에도 Instron은 디스플레이 및 대형 기기 시험을 위해 스팬이 더 넓은 다양한 대형 굽힘 지그를 제조하고 있습니다. 자세한 내용은 문의해 주시기 바랍니다.

사용 가능한 지그

설명 용량 스팬 카탈로그 번호
5 kN 굽힘 지그 5 kN 10 - 194 mm
4 - 188 mm
2810-400 자세히 보기
JEDEC 9702 준수 4점 굽힘 지그 5 kN 최대 상부: 125 mm
최대 하부: 225 mm
CP111689 문의하기
유리 시험용 3점 및 4점 굽힘 지그 2 kN 20 - 200 mm CP120055 자세히 보기(새 탭에서 열림)
초소형 3점 굽힘 지그
옵션형 4점 앤빌
2 kN
2 kN
3 - 105 mm 2810-412
2810-413
자세히 보기(새 탭에서 열림)
마이크로 3점 굽힘 지그 1 kN
100 N
3 - 10 mm
1 mm
2810-411
2810-410
자세히 보기(새 탭에서 열림)
SEMI G86-0303 준수 고정밀 마이크로 3점 굽힘 지그 1 kN
1 kN
3 - 10 mm
3 - 25 mm
CP101568
CP117370
자세히 보기(새 탭에서 열림)

Instron Microelectric peel fixture

접착 시험 지그

박리 및 스터드 풀(stud pull) 지그는 인쇄 회로 기판의 구리 러너, 박막 코팅, 점착 테이프, 반도체 다이 및 기타 접합 구조를 포함하여 적층 재료 및 접합 부품의 접착 강도를 시험하는 데 사용됩니다.

사용 가능한 지그

Three-Jaw Chuck

Three-Jaw Chuck
Three Jaw Chuck Video
Testing Probes

3조 척(Three-Jaw Chuck) 및 시험용 프로브

3조 척은 압축 시험 중에 원통형 또는 불규칙한 모양의 시편을 고정하기 위한 다목적 지그입니다. 척에 다양한 프로브를 부착하여 버튼, 디스플레이 및 기타 전자 및 미세 전자 부품에 대한 포인트 기반 압축 시험을 수행할 수 있으며, 맞춤형 툴링 없이도 광범위한 시편 형상에 시험 시스템을 빠르고 안전하게 적용할 수 있는 방법을 제공합니다.

Component Test Plate | Keyboard Button Testing

부품 시험 플레이트는 탭 구멍 배열이 있는 대형 플레이트로, 시험하기 어려운 부품과 어셈블리를 인장, 압축, 박리 또는 기타 기계적 시험을 위해 올바른 위치에 고정할 수 있도록 합니다. 탭 구멍 배열은 맞춤형 지그 및 클램프를 위한 다중 부착 지점을 제공하여 표준 그립이나 지그로 고정할 수 없는 부품을 시험하기 위한 다목적 플랫폼 역할을 합니다.

Automated XY stage on a 6800 Series 68TM table model, positioning a printed circuit board array over a flexure fixture for automated bend testing.

AT2 자동 XY 스테이지

자동화 XY 스테이지를 사용하면 단일 시험 실행에서 여러 시편의 자동 압축, 굴곡 및 인장 시험을 수행하거나 여러 시험 지점이 있는 기기 및 부품을 시험할 수 있어 수동 단일 포인트 시험에 비해 처리량과 반복성을 크게 향상시킬 수 있습니다. 주로 디스플레이, 버튼, 키보드 및 전자 부품에 사용됩니다.

프레임 호환성

Manual Translation Stage

이송 및 클램핑 스테이지는 액추에이터 아래에서 시험 시편의 정밀한 위치 지정 및 정렬을 제공합니다. 이는 프로브가 대상 부품이나 시험 지점의 중앙에 정확히 위치해야 하는 미세 전자 시험에 필수적입니다. 주로 시험 시스템 내에서 인쇄 회로 기판, 칩 패키지 및 기타 소형 부품의 위치를 지정하는 데 사용됩니다.

Torsion Add-On

Torsion Add-On 3.0은 6800 시리즈 만능 재료 시험기에서 동시 또는 독립적인 축 및 비틀림 시험을 가능하게 하여, 유연 소자, 부품, 버튼, 와이어 및 연성 인쇄 회로(FPC)의 비틀림 시험을 포함하도록 실험실 역량을 확장합니다. 유연 전자 제품이 사용 및 조립 과정에서 겪는 실제 비틀림 및 굽힘 하중을 시뮬레이션하는 데 이상적입니다.

Expansion Channel Module

디지털 I/O 보드 및 확장 채널을 만능 재료 시험 프레임에 추가하여 외부 측정 장치와 인터페이스할 수 있습니다. 여기에는 미세 전자 시험에서 전기적 출력과 가해진 기계적 하중을 상관시키기 위해 사용되는 전압 및 저항 측정 장비가 포함됩니다. 이를 통해 Bluehill® Universal 소프트웨어 내에서 기계적 데이터와 전기적 데이터를 동시에 캡처할 수 있습니다.

최고 품질의 시험 결과를 보장하기 위해 Instron은 로드셀을 자체 설계·제조합니다. Instron 로드셀은 넓은 측정 범위에서의 높은 정확도, 높은 강성, 편심 하중에 대한 저항, 정확한 정렬, 우수한 영점 안정성 등 재료 시험 시스템의 고유 요구사항을 충족하도록 정밀 설계되었습니다. 전자 및 마이크로전자 시험을 위해 저하중 시험에 적합한 다양한 저용량 로드셀을 제공합니다.

자주 사용되는 용량

설명 카탈로그 번호
5 N 정적 로드셀 2530-5N 자세히 보기
10 N 정적 로드셀 2530-10N 자세히 보기
50 N 정적 로드셀 2530-50N 자세히 보기
100 N 정적 로드셀 2530-100N 자세히 보기
500 N 정적 로드셀 2580-500N 자세히 보기
1 kN 정적 로드셀 2580-1KN 자세히 보기
2 kN 정적 로드셀 2580-2KN 자세히 보기
5 kN 정적 로드셀 2580-5KN 자세히 보기

많은 전자기기와 마이크로전자 부품은 조립 공정 중은 물론 정상 사용 중에도 극한 온도를 견뎌야 합니다. 환경 챔버를 사용하면 -100 °C부터 +350 °C까지 다양한 온도 조건에서 제품 성능을 특성화할 수 있습니다.

Shear Testing Fixtures

전단 시험 지그

다이 및 패키지 전단 시험 지그는 반도체 다이 또는 표면실장 수동소자가 패키지 헤더나 기타 기판에 접합된 연결부의 건전성을 평가하도록 설계되었습니다. 이 지그는 MIL STD 883, IPC TM-650, AEC-Q200-006A, ASTM F1269-13 등 다양한 시험 표준에 따라 접착제, 솔더, 소결 은 또는 기타 접합제가 파손을 시작하는 데 필요한 전단력을 측정하는 데 사용됩니다.

사용 가능한 지그

설명 용량 카탈로그 번호
단자 강도 전단 지그 500 N CP122690 자세히 보기
MIL STD 883 준수 전단 시험 지그 2 kN CP124648, S4781A,
CP127130, S4752A
자세히 보기

Shear Testing Fixtures

버스트 또는 천공 지그는 포장재, 직물, 박막 및 배터리의 분리막 필름을 시험하여 프로브 관통에 대한 소재의 저항성을 평가하는 데 흔히 사용됩니다. 소재는 일반적으로 클램핑 링 세트로 고정되며, 실제 사용 중 발생하는 것과 유사한 이축 응력을 받습니다.

사용 가능한 지그

설명 용량 카탈로그 번호
EN 14477 준수 천공 시험 지그
직경 0.8 mm 프로브 2개 포함
반경 0.5 mm의 직경 1 mm 프로브
100 N CP105780

CP114502

자세히 보기
ASTM F1306 준수 천공 시험 지그 10 kN SI-14110 자세히 보기
볼 버스트(Ball Burst) 압축 지그 10 kN 2810-195 자세히 보기(새 탭에서 열림)

6800-series-extra-wide-table-model-1.jpg

6800 시리즈 만능 재료 시험기의 높이와 폭은 특정 적용 요구 사항에 맞게 맞춤 구성할 수 있습니다. 초광폭 프레임은 대형 디스플레이, 풀사이즈 노트북, 폼 및 플라스틱과 같은 전자 포장재 시험에 주로 선호됩니다. 또한 초광폭 프레임에는 풀사이즈 키보드와 같은 대형 기기 시험을 위해 자동화 XY 스테이지를 장착할 수 있습니다.

나사산 엔드 및 버튼 엔드 그립 본체 및 인서트

나사산 엔드 및 버튼 엔드 그립 본체 및 인서트

분할 인서트 인장 그립은 나사산 엔드, 숄더 엔드 또는 버튼 엔드 가공 시편의 안전한 대량 생산 시험을 위해 설계되었습니다. 작업자 중심으로 설계된 분할 인서트 방식 인장 그립은 설치가 간편하고, 표준 시편 크기에 맞는 빠른 교체 인서트를 제공하며, 다양한 금속 및 합금의 효율적인 정적 시험을 촉진합니다. 기존 그립 장치에 손상을 주거나 과도한 마모를 일으킬 수 있는 고강도, 고인성 재료 시험에 선호되는 솔루션입니다. 이 그립은 ASTM E8, ASTM A370 또는 ASTM A48 및 기타 국제 표준을 준수하도록 설계되었으며 맞춤형 사양으로 제작할 수 있습니다. 다양한 버튼 엔드, 샹크 홀 및 챔퍼/반경 치수 옵션을 통해 광범위한 시편 크기와의 호환성을 보장합니다.

Self-Aligning Tension Grips

자가 정렬 인장 그립

자가 정렬 인장 그립은 ASTM E8, ASTM A370 및 ASTM A48을 포함한 다양한 국제 표준에 따라 나사산 엔드 시험 시편에 대한 정적 인장 시험을 수행하도록 설계되었습니다. 그립은 각 끝단에 이중 정렬 장치가 설계되어 유니버설 조인트 운동을 형성합니다. 이를 통해 시편이 단축 인장 상태로 하중을 받도록 보장하며 사용 중 별도의 조정이 필요하지 않습니다. 단면적이 다른 시편에 사용할 수 있는 교체 가능한 그립 헤드의 전체 라인업이 준비되어 있습니다. 숄더 시편 그립에는 시편 파단 시 방출되는 저장 에너지로 인해 시편이 그립에서 튀어나오는 것을 방지하기 위한 안전 가드가 제공됩니다.

그립 사양
용량 100 kN
온도 범위 -70°C ~ +350°C
상부 및 하부 피팅 Type Dm (0.5 in 클레비스 핀이 포함된 1.25 in 연결)
하중 유형 인장 정적 및 인장 주기 시험. 고주기 피로 시험에는 적합하지 않음.
시편 재료 강철, 비철 금속
시편 형상 나사산 헤드가 있는 원형 시편
카탈로그 번호 2717-029
그립 헤드
설명 카탈로그 번호
M8 나사산 2717-021
M10 나사산 2717-022
M12 나사산 2717-023
M18 나사산 2717-024
M20 나사산 2717-025
M24 나사산 2717-026
나사산 시편용 블랭크 2717-027

Threaded-End Specimen Holders

나사산 엔드 시편 홀더

나사산 엔드 시편 홀더는 ASTM E8 및 ASTM A370을 포함한 다양한 표준에 따라 나사산 엔드 시편에 대한 정적 인장 시험을 수행하도록 설계되었습니다. 시편 홀더의 각 끝에는 나사산이 있습니다. 한쪽 끝은 프레임에 연결되는 어댑터(별도 구매)에 나사로 고정되고, 다른 쪽 끝은 시편을 고정하기 위한 나사산이 있습니다. 적절하게 정렬된 크로스헤드를 사용하면 나사산 엔드 시편 홀더가 시편에 단축 인장 하중이 가해지도록 보장합니다. 각 세트에는 2개의 나사산 엔드 시편 홀더가 포함되어 있습니다. 용량 267 kN. 정격 온도: +5°C ~ +40°C

사양
설명 상부 피팅 시편 직경 시편 나사산 크기 카탈로그 번호
ASTM 표준 .505" 1.5 in-6fRH 12.8 mm (0.505 in) 0.75 in-10fRH W-5101
ASTM 표준 .505" M36x4fRH 12.8 mm (0.505 in) 0.75 in-10fRH W-5150
비표준 최대 38 mm (1.5 in) 최대 38 mm (1.5 in) 최대 38 mm (1.5 in) W-5102

Split Insert Tensile Grip Holders and  Inserts

Split Insert Tensile Grip Holders and  Inserts
Split Insert Tensile Grip Holders and  Inserts
Split Insert Tensile Grip Holders and  Inserts

숄더 엔드 및 버튼 엔드 시편 홀더 및 인서트

모듈식 설계로 숄더 엔드 및 버튼 엔드 시편에 대한 인장 시험을 수행하기 위해 업계 표준 치수와 일치하는 단일 홀더 세트와 교체 가능한 분할 인서트를 제공합니다. 인서트 홀더의 각 세트에는 시험을 수행하기 위해 최소 한 세트의 인서트가 필요합니다.

홀더
용량 장착 유형 유효 길이 카탈로그 번호
300 kN Type R4 (M36 × 4p) 83 mm (3.3 in) W-5158-1
300 kN 1.5 - 6 in UNC 83 mm (3.3 in) W-5158-2
300 kN 1.5 - 12 in UNF 83 mm (3.3 in) W-5158-3
600 kN Type II RH
(M48 × 2p RH)
127 mm (5.0 in) W-5159
ASTM E8, A370에 따른 300 kN 인서트 사양 (W-5158 홀더 필요)
용량 시편 평행부 직경 카탈로그 번호
300 kN 12.83 mm (0.505 in) W-5158-A
200 kN 9.07 mm (0.357 in) W-5158-B
150 kN 6.40 mm (0.252 in) W-5158-C
50 kN 4.06 mm (0.160 in) W-5158-D
ASTM A48에 따른 600 kN 인서트 사양 (W-5159 홀더 필요)
용량 시편 평행부 직경 카탈로그 번호
600 kN 31.75 mm (1.25 in) W-5159-A3
500 kN 19.0 mm (0.75 in) W-5159-A2
400 kN 12.7 mm (0.50 in) W-5159-A1

파편 보호막

파편 보호막

파편 보호막(보호막)은 시험 공간과 작업자 사이의 보호 장벽 역할을 합니다. 이는 복합재, 철근, 케이블 등 시험 중 격렬한 파손을 보이는 재료에 필요할 수 있습니다.

Debris shield on floor model universal testing system

Debris shield on floor model universal testing system
Debris shield on dual column table model universal testing system
Debris shield on single column universal testing system

단일 컬럼, 탁상형 모델 및 바닥형 모델용 경첩식 도어 파편 보호막

 

이 파편 보호막은 양극 산화 처리된 압출 알루미늄 프레임과 시험 공간을 명확하게 볼 수 있는 투명 Lexan® 패널을 특징으로 합니다. 도어 안전 인터록 유무에 관계없이 경첩식 접근 도어를 사용할 수 있습니다.

호환 프레임 카탈로그 번호
단일 컬럼 | 500 N 시스템:
334X, 34SC, 594X, 68SC
CP127700
단일 컬럼 | 1 - 5 kN 시스템 | 표준 높이:
334X, 34SC, 594X, 68SC
CP127701
단일 컬럼 | 5 kN 시스템 | 추가 높이:
3345, 34SC-5, 68SC-5
CP127702
탁상형 모델 | 표준 너비:
336X (이중 T-슬롯 컬럼 커버 스타일만 해당), 34TM, 446X, 556X, 586X, 596X, 68TM
2910-074
바닥형 모델:
3382, 3384, 3385H, 34FM, 4481, 4482, 4484, 4485, 5581, 5582, 5584, 5585, 5585H, 5881, 5882, 5884, 5885, 5885H, 5982, 5984, 5985, 5985, 68FM
2910-062

자세한 내용은 문의하십시오.

34TM-with-Sliding-Debris-Shield

34TM-with-Sliding-Debris-Shield
Operator-Sliding-Debris-Shield

탁상형 모델용 슬라이딩 도어 파편 보호막

 

사용자 선호도 및 설치 공간 제약에 따라 탁상형 만능 재료 시험 시스템용 슬라이딩 파편 보호막을 사용할 수 있습니다. 판금 및 폴리카보네이트 보호막은 시험기 전면을 감싸 작업자를 파편 및 움직이는 부품으로부터 분리하며 동시에 뛰어난 시야를 제공합니다. 시험 공간에 접근하려면 슬라이딩 도어를 왼쪽으로 열고 높이 845mm, 너비 440mm 포트를 통해 시편과 그립을 로드할 수 있습니다. 파편 보호막에는 도어가 열려 있을 때 시험이 시작되는 것을 방지하고 도어가 열려 있을 때 모든 크로스헤드 움직임을 방지하도록 구성할 수 있는 선택 사양인 마그네틱 인터록을 장착할 수 있습니다.

호환 프레임 카탈로그 번호
68TM, 34TM, 336X, 596X | 표준 높이, 표준 너비 CP129040
68TM | 추가 높이, 표준 너비 CP129044
34TM, 336X, 596X | 추가 높이, 표준 너비 CP126003
336X, 596X | 표준 높이, 표준 너비 CP126002

자세한 내용은 문의하십시오.