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電子和微電子測試系統及配件

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無論您的應用涉及顯示器、按鈕、電線、電池、完整設備,還是微電子元件和元件(如印刷電路板和晶元),Instron 都能提供各種測試附件,用於執行拉伸、壓縮、彎曲、剝離和剪切測試。

拉伸夾具

 

Instron 提供各種夾具,適用於對各種電子設備和微電子元件和元件(包括引線、電線和不規則形狀的產品)進行拉伸試驗。選擇拉伸夾具具有可偏移的鉗口面,方便您對黏合元件執行搭接剪切試驗。

 

可用型號
敘述 能力 料號
氣動側動拉伸夾具 50 N - 10 kN 2712-04x 和 2712-05x 系列 更多資訊
螺絲側動拉伸夾具 100 N - 10 kN 2710-100 系列 更多資訊
微型氣動側動拉伸夾具 10 N 2712-101 更多資訊
氣動拉力夾具 500 N 2712-212 更多資訊
拉線鉤固定裝置 10 N 2860-001 更多資訊

Bend Fixture Testing Microelectronic Component
Bend Fixture Testing Microelectronic Component 5 kN Flexure Fixture 4 Point Bend Fixture to JEDEC 9702
彎曲夾具

 

三點和四點彎曲夾具用於表徵微電子學中電子設備、元件和微型元件的彎曲強度。除了下面列出的夾具外,Instron 還生產各種跨度更大的彎曲夾具,用於測試顯示器和設備。[點擊此處查看示例]。

 

可用型號
描述 能力 跨距 貨號
5 kN 彎曲工裝 5 kN 10 - 194 毫米
4 - 188 毫米
2810-400 更多資訊
標準的 4 點彎曲夾具符合 JEDEC 9702 5 kN 最大上部: 125 毫米
最大下部: 225 毫米
CP111689 聯繫我們了解詳情
3 & 4 Point Bend Fixture for Glass Testing 2 kN 20 - 200 mm CP120055 More Info
微型 3 點彎曲夾具
可選 4 點砧
2 kN
2 kN
3 - 105 mm 2810-412
2810-413
更多資訊
微型 3 點彎曲夾具 1 kN
100 N
3 - 10 mm
1 mm
2810-411
2810-410
更多資訊
高精度微型 3 點彎曲夾具
至 SEMI G86-0303
1 kN
1 kN
3 - 10 mm
3 - 25 mm
CP101568
CP117370
更多資訊
Adhesive Test Fixtures
黏合劑測試夾具

 

黏合劑測試夾具(包括剝離和螺柱拉力夾具)用於測試各種層壓材料和組件的黏合強度,例如印刷電路板上的銅流道、薄膜塗層、膠帶、半導體晶片和其他黏合結構。

 

可用型號
描述 能力 貨號
90° 角剝離夾具 1 kN 2820-035 更多資訊
可變角度剝離夾具 1 kN 2820-036 更多資訊
微型 90 度剝離夾具 1 kN 2820-034 更多資訊
微型可變角度剝離夾具 1 kN 2820-033 更多資訊
螺柱拉力夾具
螺柱拉力試驗試樣製備夾具
5 kN 2860-300
2860-301
更多資訊
階梯式鉗口虎鉗 500 N 2860-210 更多資訊

Three-Jaw Chuck
Three-Jaw Chuck Three Jaw Chuck Video Testing Probes
三爪卡盤和探頭

 

有多種探頭可用於對按鈕、顯示器以及其他電子和微電子元件進行壓縮測試。這些探頭可透過我們的三爪卡盤夾具輕鬆添加到測試系統中。

 

元件測試板

 

部件測試板是一個帶有一系列螺紋孔的大板,可用於固定難以測試的部件,以進行各種拉伸、壓縮、剝離或其他測試。

 

Automatic XY Testing Systems
自動化 XY 測試系統

 

自動化 XY 平台設計用於在單次測試運行中對多個試樣或具有多個測試點的設備和元件進行自動壓縮、彎曲和拉伸測試。這些系統通常用於測試電子設備或元件、顯示面板、按鈕等,可用於 6800 Series 通用測試系統(靜態測試應用)和 ElectroPuls™ 動態和疲勞測試系統(靜態和耐久性測試應用)。

 

可用型號
描述 測試類型
萬能試驗系統的自動化XY平台 靜態測試 更多資訊
ElectroPuls 系統的自動化 XY 平台 疲勞測試 更多資訊
平移和夾緊平台

 

平移和夾緊平台用於精確定位和對齊致動缸下方的試樣。這些通常用於在測試系統內牢固地定位微電子電路板和組件。

 

扭力外掛附加裝置

 

Torsion Add-On 3.0 專為簡單、同步或獨立的軸向和扭轉測試而設計,可增強實驗室的能力 - 使您能夠擴展產品開發能力並類比產品的實際應用。它非常適合測試柔性電子設備、元件、按鈕、電線等的性能。

 

數位控制器配件

 

在通用測試框架上可以添加數位 I/O 板和擴展通道,以幫助與外部設備和測量設備(例如電壓測量設備)連接。

 

低容量荷重元

為了確保您的測試結果具有最高品質,Instron 設計和製造我們自己的所有荷重元。Instron 荷重元經過精心設計,可滿足材料測試系統的獨特要求,包括在較寬的測量範圍內具有高精度、高剛度、抗偏置荷載、精確對中和出色的零點穩定性。對於電子和微電子測試,我們提供各種適用於低力測試的低容量荷重元。

可用型號
描述 貨號  
5 N 靜態荷重元 2530-5N 更多資訊
10 N 靜態荷重元 2530-10N 更多資訊
50 N 靜態荷重元 2530-50N 更多資訊
100 N 靜態荷重元 2530-100N 更多資訊
500 N 靜態荷重元 2580-500N 更多資訊
1 kN 靜態荷重元 2580-1KN 更多資訊
2 kN 靜態荷重元 2580-2KN 更多資訊
5 kN 靜態荷重元 2580-5KN 更多資訊
環境溫箱

 

許多電子設備和微電子元件在組裝過程和正常使用過程中都需要承受極端溫度。使用環境溫箱,您可以在 -100 °C 至 +350 °C 的各種溫度條件下表徵產品的性能。

 

Shear Testing Fixtures
剪切測試治具

 

裸片和封裝剪切測試夾具旨在確定半導體裸片或表面貼裝無源元件與封裝接頭或其他基板之間的連接完整性。這些夾具用於根據各種測試標準,如 MIL STD 883、IPC TM-650、AEC-Q200-006A 或 ASTM F1269-13,測量引發膠水、焊料、燒結銀或其他粘合劑失效所需的剪切力。

 

標準的剪切試驗夾具

可用型號
描述 能力
貨號
端子強度剪切夾具 500 牛 CP122690 更多資訊
符合 MIL STD 883 2 千米 CP124648、S4781A、
CP127130, S4752A
更多資訊

   

Shear Testing Fixtures
穿刺測試夾具

 

爆破或穿刺夾具通常用於測試電池中的包裝、織物以及薄膜和隔膜,以確定材料對探針穿透的抵抗力。該材料通常由一組夾緊環固定,並承受代表實際使用過程中遇到的雙軸應力。

 

標準的穿刺測試夾具

可用型號
敘述 能力 料號
符合 EN 14477
標準的穿刺測試夾具包括兩個直徑為 0.8 mm 的
探頭 直徑為 1 mm 的探頭,半徑為 0.5 mm 的探頭
100 N CP105780

CP114502

More Info
符合ASTM F1306 10 kN SI-14110 更多資訊
球爆破壓縮夾具 10 千米 票價 2810-195 更多資訊
6800-series-extra-wide-universal-testing-system.jpg
超寬萬能試驗系統

 

6800 Series台式系統的高度和寬度可以定製,以滿足特定的應用要求。超寬框架通常用於測試大型顯示器、全尺寸筆記型電腦和電子包裝材料(如泡沫和塑膠)。超寬框架還可以配備自動 XY 載物台,用於測試大型設備,例如全尺寸鍵盤。