Produits » Systèmes d’essais et accessoires pour l’électronique et la microélectronique

Que votre application concerne des écrans, des boutons, des fils, des batteries, des appareils complets ou des composants et assemblages microélectroniques tels que des circuits imprimés et des puces, Instron propose une large gamme d’accessoires pour les essais de traction, compression, flexion, pelage et cisaillement.

Mors de traction

Instron propose une variété de mâchoires adaptées aux essais de traction sur une large gamme d’appareils électroniques et de composants microélectroniques, y compris les fils, câbles et produits de forme irrégulière. Certaines mâchoires de traction possèdent des faces décalables, permettant de réaliser des essais de cisaillement par recouvrement sur des composants collés.

Modèles disponibles
Description	Capacité	N° de catalogue
Mâchoires de traction pneumatiques à action latérale	50 N - 10 kN	Séries 2712-04x et 2712-05x	Plus d’infos
Mâchoires de traction à vis à action latérale	100 N - 10 kN	Série 2710-100	Plus d’infos
Micro-mâchoires de traction pneumatiques à action latérale	10 N	2712-101	Plus d’infos
Mâchoire pneumatique pour test d’arrachement de fils	500 N	2712-212	Plus d’infos
Dispositif de traction à crochet pour fils	10 N	2860-001	Plus d’infos

Dispositifs de flexion

Les dispositifs de flexion en trois et quatre points sont utilisés pour caractériser la résistance à la flexion des appareils électroniques, des composants et des éléments miniatures de la microélectronique. En plus des dispositifs listés ci-dessous, Instron fabrique également divers dispositifs de flexion plus grands avec des portées plus larges pour tester les écrans et les appareils. [Cliquez ici pour voir un exemple].

Modèles disponibles
Description	Capacité	Portée	N° de catalogue
Dispositif de flexion 5 kN	5 kN	10 - 194 mm 4 - 188 mm	2810-400	Plus d’infos
Dispositif de flexion 4 points selon JEDEC 9702	5 kN	Max Sup : 125 mm Max Inf : 225 mm	CP111689	Contactez-nous pour plus de détails
Dispositif de flexion 3 et 4 points pour essais sur verre	2 kN	20 - 200 mm	CP120055	Plus d’infos
Dispositif de flexion 3 points miniature Enclume 4 points optionnelle	2 kN 2 kN	3 - 105 mm	2810-412 2810-413	Plus d’infos
Micro-dispositif de flexion 3 points	1 kN 100 N	3 - 10 mm 1 mm	2810-411 2810-410	Plus d’infos
Micro-dispositif de flexion 3 points haute précision selon SEMI G86-0303	1 kN 1 kN	3 - 10 mm 3 - 25 mm	CP101568 CP117370	Plus d’infos

Dispositifs d’essais d’adhérence

Les dispositifs d’essais d’adhérence, incluant les dispositifs de pelage et d’arrachement de plots, sont utilisés pour tester la force de liaison adhésive d’une large gamme de matériaux stratifiés et de composants tels que les pistes de cuivre sur les circuits imprimés, les revêtements en couches minces, les rubans adhésifs, les puces semi-conductrices et autres structures collées.

Modèles disponibles
Description	Capacité	N° de catalogue
Dispositif de pelage à 90°	1 kN	2820-035	Plus d’infos
Dispositif de pelage à angle variable	1 kN	2820-036	Plus d’infos
Dispositif de pelage à 90° miniature	1 kN	2820-034	Plus d’infos
Dispositif de pelage à angle variable miniature	1 kN	2820-033	Plus d’infos
Dispositif d’arrachement de plots Dispositif de préparation d’échantillons pour essais d’arrachement	5 kN	2860-300 2860-301	Plus d’infos
Étau de serrage à mâchoires étagées	500 N	2860-210	Plus d’infos

Mandrin à trois mors et sondes

Une variété de sondes est disponible pour effectuer des essais de compression sur les boutons, les écrans et d’autres composants électroniques et microélectroniques. Ces sondes s’ajoutent facilement au système d’essai grâce à notre mandrin à trois mors.

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Plaque d'essai de composants

La plaque d’essai de composants est une grande plaque dotée d’un réseau de trous taraudés, utile pour fixer des composants difficiles à tester pour divers essais de traction, compression, pelage ou autres.

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Platine XY automatisée AT2

Les platines XY automatisées sont conçues pour les essais automatisés de compression, de flexion et de traction sur plusieurs éprouvettes en une seule série d’essais, ou sur des appareils et composants comportant plusieurs points d’essai. Couramment utilisés pour tester des appareils ou composants électroniques, des panneaux d’affichage, des boutons, etc., ces systèmes sont disponibles pour les systèmes d’essais universels de la série 6800 (applications d’essais statiques) et les systèmes d’essais dynamiques et de fatigue ElectroPuls™ (applications d’essais statiques et de durabilité).

Modèles disponibles
Description	Type d’essai
Platine XY automatisée pour systèmes d’essais universels	Essais statiques	Plus d’infos
Platine XY automatisée pour systèmes ElectroPuls	Essais de fatigue	Plus d’infos

Platines de translation et de serrage

Les platines de translation et de serrage sont utilisées pour positionner et aligner précisément une éprouvette sous l’actionneur. Elles sont couramment utilisées pour positionner de manière sécurisée les cartes de circuits microélectroniques et les composants au sein du système d’essai.

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Module complémentaire de torsion

Conçu pour des essais axiaux et de torsion simples, simultanés ou indépendants, le Torsion Add-On 3.0 accroît les capacités de votre laboratoire – vous permettant d’étendre vos possibilités de développement de produits et de simuler des applications réelles. Il est idéal pour tester la performance de l’électronique flexible, de composants, de boutons, de fils et plus encore.

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Accessoires pour contrôleur numérique

Des cartes d’E/S numériques et des canaux d’extension peuvent être ajoutés aux bâtis d’essais universels pour faciliter l’interface avec des équipements externes et des appareils de mesure, tels que des voltmètres.

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Capteurs de force de faible capacité

Pour garantir que vos résultats d’essais soient de la plus haute qualité, Instron conçoit et fabrique tous ses propres capteurs de force. Les capteurs de force Instron sont soigneusement conçus pour répondre aux exigences uniques des systèmes d’essais de matériaux, notamment une grande précision sur une large plage de mesure, une grande rigidité, une résistance aux charges décentrées, un alignement précis et une excellente stabilité du zéro. Pour les essais en électronique et microélectronique, nous proposons une large gamme de capteurs de force de faible capacité adaptés aux essais à faibles forces.

Modèles disponibles
Description	N° de catalogue
Capteur de force statique 5 N	2530-5N	Plus d’infos
Capteur de force statique 10 N	2530-10N	Plus d’infos
Capteur de force statique 50 N	2530-50N	Plus d’infos
Capteur de force statique 100 N	2530-100N	Plus d’infos
Capteur de force statique 500 N	2580-500N	Plus d’infos
Capteur de force statique 1 kN	2580-1KN	Plus d’infos
Capteur de force statique 2 kN	2580-2KN	Plus d’infos
Capteur de force statique 5 kN	2580-5KN	Plus d’infos

Caisson climatique

De nombreux appareils électroniques et composants microélectroniques doivent résister à des températures extrêmes, tant lors du processus d’assemblage qu’en utilisation normale. Avec une chambre environnementale, vous pouvez caractériser les performances de vos produits sous une large gamme de conditions de température allant de -100 °C à +350 °C.

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Dispositifs d’essais de cisaillement

Les dispositifs d’essais de cisaillement de puces et de boîtiers sont conçus pour déterminer l’intégrité de la connexion entre une puce semi-conductrice ou des éléments passifs montés en surface et les embases de boîtiers ou d’autres substrats. Ces dispositifs sont utilisés pour mesurer la force de cisaillement requise pour initier la défaillance de la colle, de la soudure, de l’argent fritté ou de tout autre agent de liaison conformément à diverses normes d’essai, telles que MIL STD 883, IPC TM-650, AEC-Q200-006A ou ASTM F1269-13.

Modèles disponibles
Description	Capacité	N° de catalogue
Dispositif de cisaillement pour résistance des bornes	500 N	CP122690	Plus d’infos
Dispositif d’essai de cisaillement selon MIL STD 883	2 kN	CP124648, S4781A, CP127130, S4752A	Plus d’infos

Dispositifs d’essais de perforation

Les dispositifs d’éclatement ou de perforation sont couramment utilisés pour tester les emballages, les tissus, les films minces et les films séparateurs de batteries afin de déterminer la résistance d’un matériau à la pénétration d’une sonde. Le matériau est généralement maintenu par un ensemble de bagues de serrage et subit des contraintes biaxiales représentatives de celles rencontrées lors de l’utilisation réelle.

Modèles disponibles
Description	Capacité	N° de catalogue
Dispositif d’essai de perforation selon EN 14477 Inclut deux sondes de 0,8 mm de diamètre Sonde de 1 mm de diamètre avec rayon de 0,5 mm	100 N	CP105780 CP114502	Plus d’infos
Dispositif d’essai de perforation selon ASTM F1306	10 kN	SI-14110	Plus d’infos
Dispositif de compression pour éclatement à la bille	10 kN	2810-195	Plus d’infos

Systèmes d’essais universels extra-larges

La hauteur et la largeur des systèmes de table de la série 6800 peuvent être personnalisées pour répondre aux exigences spécifiques des applications. Les bâtis extra-larges sont généralement privilégiés pour tester les grands écrans, les ordinateurs portables de taille standard et les matériaux d’emballage électronique tels que la mousse et le plastique. Les bâtis extra-larges peuvent également être équipés d’une platine XY automatisée pour tester des appareils plus grands, tels que des claviers de taille standard.

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