Que votre application concerne des écrans, des boutons, des fils, des batteries, des appareils complets ou des composants et assemblages microélectroniques tels que des circuits imprimés et des puces, Instron propose une gamme complète d'accessoires d'essai pour les tests de traction, compression, flexion, pelage, cisaillement et perforation. Tous les accessoires sont conçus pour la précision et la répétabilité qu'exigent les essais électroniques et microélectroniques — où les forces sont souvent mesurées en millinewtons et les dimensions des éprouvettes en microns.
Instron propose une variété de mâchoires pour les essais de traction d'appareils électroniques et de composants microélectroniques — y compris les fils de connexion, les câbles, les films minces et les assemblages de forme irrégulière. Certains modèles de mâchoires disposent de surfaces de serrage pouvant être décalées pour permettre les essais de cisaillement par recouvrement de composants collés.
Mâchoires disponibles
| Description | Capacité | N° de catalogue | |
| Mâchoires de traction pneumatiques à action latérale | 50 N - 10 kN | Séries 2712-04x et 2712-05x | Plus d'infos |
| Mâchoires de traction à vis à action latérale | 100 N - 10 kN | Série 2710-100 | Plus d'infos |
| Micro-mâchoires de traction pneumatiques à action latérale | 10 N | 2712-101 | Plus d'infos |
| Mâchoire pneumatique pour arrachement de fils de connexion | 500 N | 2712-212 | Plus d'infos |
| Dispositif à crochet pour arrachement de fils | 10 N | 2860-001 | Contactez-nous |
Dispositifs de flexion
Les dispositifs de flexion trois points et quatre points sont utilisés pour caractériser la résistance à la flexion des appareils électroniques, des composants et des composants microélectroniques miniatures. En plus des dispositifs listés ci-dessous, Instron fabrique une variété de dispositifs de flexion plus grands avec des portées plus larges pour tester les écrans et les appareils de taille standard — contactez-nous pour plus de détails.
Dispositifs disponibles
| Description | Capacité | Portée | N° de catalogue | |
| Dispositif de flexion 5 kN | 5 kN | 10 - 194 mm 4 - 188 mm |
2810-400 | Plus d’infos |
| Dispositif de flexion 4 points selon JEDEC 9702 | 5 kN | Max Sup : 125 mm Max Inf : 225 mm |
CP111689 | Contactez-nous |
| Dispositif de flexion 3 et 4 points pour essais de verre | 2 kN | 20 - 200 mm | CP120055 | Plus d'infos(s'ouvre dans un nouvel onglet) |
| Dispositif de flexion 3 points miniature Enclume 4 points en option |
2 kN 2 kN |
3 - 105 mm | 2810-412 2810-413 |
Plus d'infos(s'ouvre dans un nouvel onglet) |
| Micro-dispositif de flexion 3 points | 1 kN 100 N |
3 - 10 mm 1 mm |
2810-411 2810-410 |
Plus d'infos(s'ouvre dans un nouvel onglet) |
| Micro-dispositif de flexion 3 points haute précision selon SEMI G86-0303 | 1 kN 1 kN |
3 - 10 mm 3 - 25 mm |
CP101568 CP117370 |
Plus d'infos(s'ouvre dans un nouvel onglet) |
Dispositifs d’essais d’adhérence
Les dispositifs de pelage et d'arrachement de goujon sont utilisés pour tester la résistance de l'adhésion des matériaux laminés et des composants collés — y compris les pistes en cuivre sur circuits imprimés, les revêtements en film mince, les rubans adhésifs, les puces semi-conductrices et autres structures collées.
Dispositifs disponibles
| Description | Capacité | N° de catalogue | |
| Dispositif de pelage à 90°(s'ouvre dans un nouvel onglet) | 1 kN | 2820-035 | Plus d'infos(s'ouvre dans un nouvel onglet) |
| Dispositif de pelage à angle variable(s'ouvre dans un nouvel onglet) | 1 kN | 2820-036 | Plus d'infos(s'ouvre dans un nouvel onglet) |
| Dispositif de pelage à 90° miniature(s'ouvre dans un nouvel onglet) | 1 kN | 2820-034 | Plus d'infos(s'ouvre dans un nouvel onglet) |
| Dispositif de pelage à angle variable miniature | 1 kN | 2820-033 | Plus d'infos |
| Dispositif d'arrachement de goujon(s'ouvre dans un nouvel onglet) Dispositif de préparation d'éprouvettes pour essais d'arrachement de goujon |
5 kN | 2860-300 2860-301 |
Plus d'infos(s'ouvre dans un nouvel onglet) |
| Étau à mâchoires étagées | 500 N | 2860-210 | Plus d'infos |
Mandrin trois mors et sondes d'essai
Le mandrin trois mors est un dispositif polyvalent pour maintenir des éprouvettes cylindriques ou de forme irrégulière lors d'essais de compression. Une variété de sondes peuvent être fixées au mandrin pour effectuer des essais de compression ponctuels sur des boutons, des écrans et d'autres composants électroniques et microélectroniques — offrant un moyen rapide et sûr d'adapter le système d'essai à une large gamme de géométries d'éprouvettes sans outillage personnalisé.
La platine d'essai de composants est une grande plaque dotée d'un réseau de trous taraudés qui permet de fixer les composants et assemblages difficiles à tester dans la position correcte pour les essais de traction, compression, pelage ou autres essais mécaniques. Le réseau de trous taraudés offre plusieurs points de fixation pour les dispositifs et pinces personnalisés, ce qui en fait une plateforme polyvalente pour tester les composants qui ne peuvent pas être maintenus par des mâchoires ou dispositifs standard.
Platine XY automatisée AT2
Les platines XY automatisées permettent des essais automatisés de compression, flexion et traction de plusieurs éprouvettes en une seule série de tests, ou des essais d'appareils et de composants avec plusieurs points de test — améliorant considérablement le débit et la répétabilité par rapport aux essais manuels à point unique. Couramment utilisées pour les écrans, boutons, claviers et composants électroniques.
Compatibilité des bâtis
| Description | Type d’essai | |
| Platine XY automatisée pour systèmes d'essais universels | Essais statiques | Plus d'infos |
| Platine XY automatisée pour systèmes ElectroPuls(s'ouvre dans un nouvel onglet) | Essais de fatigue | Plus d'infos(s'ouvre dans un nouvel onglet) |
Les platines de translation et de serrage assurent un positionnement et un alignement précis des éprouvettes sous l'actionneur — essentiels pour les essais microélectroniques où la sonde doit être centrée avec précision sur le composant cible ou le point de test. Couramment utilisées pour positionner les circuits imprimés, les boîtiers de puces et autres petits composants dans le système d'essai.
Le module de torsion 3.0 permet des essais axiaux et de torsion simultanés ou indépendants sur les systèmes d'essais universels de la série 6800 — élargissant les capacités du laboratoire pour inclure les essais de torsion d'électronique flexible, de composants, de boutons, de fils et de circuits imprimés flexibles. Idéal pour simuler les charges de torsion et de flexion réelles que subissent les produits électroniques flexibles en utilisation et lors de l'assemblage.
Des cartes E/S numériques et des canaux d'extension peuvent être ajoutés aux bâtis d'essais universels pour s'interfacer avec des appareils de mesure externes — y compris les équipements de mesure de tension et de résistance utilisés dans les essais microélectroniques pour corréler la sortie électrique avec la charge mécanique appliquée. Cela permet la capture simultanée de données mécaniques et électriques dans le logiciel Bluehill® Universal.
Pour garantir que vos résultats d’essais soient de la plus haute qualité, Instron conçoit et fabrique tous ses propres capteurs de force. Les capteurs de force Instron sont soigneusement conçus pour répondre aux exigences uniques des systèmes d’essais de matériaux, notamment une grande précision sur une large plage de mesure, une grande rigidité, une résistance aux charges décentrées, un alignement précis et une excellente stabilité du zéro. Pour les essais en électronique et microélectronique, nous proposons une large gamme de capteurs de force de faible capacité adaptés aux essais à faibles forces.
Capacités couramment utilisées
| Description | N° de catalogue | |
| Capteur de force statique 5 N | 2530-5N | Plus d'infos |
| Capteur de force statique 10 N | 2530-10N | Plus d'infos |
| Capteur de force statique 50 N | 2530-50N | Plus d'infos |
| Capteur de force statique 100 N | 2530-100N | Plus d'infos |
| Capteur de force statique 500 N | 2580-500N | Plus d'infos |
| Capteur de force statique 1 kN | 2580-1KN | Plus d'infos |
| Capteur de force statique 2 kN | 2580-2KN | Plus d'infos |
| Capteur de force statique 5 kN | 2580-5KN | Plus d'infos |
De nombreux appareils électroniques et composants microélectroniques doivent résister à des températures extrêmes, tant lors du processus d’assemblage qu’en utilisation normale. Avec une chambre environnementale, vous pouvez caractériser les performances de vos produits sous une large gamme de conditions de température allant de -100 °C à +350 °C.
Dispositifs d’essais de cisaillement
Les dispositifs d’essais de cisaillement de puces et de boîtiers sont conçus pour déterminer l’intégrité de la connexion entre une puce semi-conductrice ou des éléments passifs montés en surface et les embases de boîtiers ou d’autres substrats. Ces dispositifs sont utilisés pour mesurer la force de cisaillement requise pour initier la défaillance de la colle, de la soudure, de l’argent fritté ou de tout autre agent de liaison conformément à diverses normes d’essai, telles que MIL STD 883, IPC TM-650, AEC-Q200-006A ou ASTM F1269-13.
Dispositifs disponibles
| Description | Capacité | N° de catalogue | |
| Dispositif de cisaillement pour résistance des bornes | 500 N | CP122690 | Plus d'infos |
| Dispositif d'essai de cisaillement selon MIL STD 883 | 2 kN | CP124648, S4781A, CP127130, S4752A |
Plus d'infos |
Les dispositifs d’éclatement ou de perforation sont couramment utilisés pour tester les emballages, les tissus, les films minces et les films séparateurs de batteries afin de déterminer la résistance d’un matériau à la pénétration d’une sonde. Le matériau est généralement maintenu par un ensemble de bagues de serrage et subit des contraintes biaxiales représentatives de celles rencontrées lors de l’utilisation réelle.
Dispositifs disponibles
| Description | Capacité | N° de catalogue | |
| Dispositif d'essai de perforation selon EN 14477 Inclut deux sondes de 0,8 mm de diamètre Sonde de 1 mm de diamètre avec rayon de 0,5 mm |
100 N | CP105780
CP114502 |
Plus d'infos |
| Dispositif d'essai de perforation selon ASTM F1306 | 10 kN | SI-14110 | Plus d'infos |
| Dispositif de compression par éclatement à bille | 10 kN | 2810-195 | Plus d'infos(s'ouvre dans un nouvel onglet) |
La hauteur et la largeur des systèmes d'essais universels de la série 6800 peuvent être personnalisées pour répondre aux exigences spécifiques des applications. Les bâtis extra-larges sont généralement privilégiés pour tester les grands écrans, les ordinateurs portables de taille standard et les matériaux d'emballage électronique tels que la mousse et le plastique. Les bâtis extra-larges peuvent également être équipés d'une platine XY automatisée pour tester des appareils plus grands, tels que des claviers de taille standard.