Quer sua aplicação envolva displays, botões, fios, baterias, dispositivos completos ou componentes e conjuntos microeletrônicos, como placas de circuito impresso e chips, a Instron oferece uma gama abrangente de acessórios de ensaio para tração, compressão, flexão, descascamento, cisalhamento e perfuração. Todos os acessórios são projetados para a precisão e repetibilidade que os ensaios de eletrônicos e microeletrônicos exigem — onde as forças são frequentemente medidas em milinewtons e as dimensões dos corpos de prova em mícrons.
A Instron oferece uma variedade de garras para ensaios de tração de dispositivos eletrônicos e componentes microeletrônicos — incluindo terminais, fios, filmes finos e conjuntos de formatos irregulares. Alguns modelos de garras apresentam faces de mandíbula que podem ser deslocadas para acomodar ensaios de cisalhamento de sobreposição de componentes colados.
Garras disponíveis
| Descrição | Capacidade | Nº de catálogo | |
| Garras pneumáticas de tração com ação lateral | 50 N - 10 kN | Séries 2712-04x e 2712-05x | Saiba mais |
| Garras de tração com ação lateral por parafuso | 100 N - 10 kN | Série 2710-100 | Saiba mais |
| Micro garras pneumáticas de tração com ação lateral | 10 N | 2712-101 | Saiba mais |
| Garra pneumática para tração de terminais | 500 N | 2712-212 | Saiba mais |
| Dispositivo de gancho para tração de fios | 10 N | 2860-001 | Entre em contato conosco |
Fixaturas de flexão
Dispositivos de flexão em três e quatro pontos são usados para caracterizar a resistência à flexão de dispositivos eletrônicos, componentes e componentes microeletrônicos em miniatura. Além dos dispositivos listados abaixo, a Instron fabrica uma variedade de dispositivos de flexão maiores com vãos mais amplos para ensaiar displays e dispositivos de tamanho normal — entre em contato conosco para detalhes.
Dispositivos disponíveis
| Descrição | Capacidade | Vão | Nº de catálogo | |
| Dispositivo de flexão 5 kN | 5 kN | 10 - 194 mm 4 - 188 mm |
2810-400 | Mais informações |
| Dispositivo de flexão em 4 pontos conforme JEDEC 9702 | 5 kN | Máx. superior: 125 mm Máx. inferior: 225 mm |
CP111689 | Entre em contato conosco |
| Dispositivo de flexão em 3 e 4 pontos para ensaio de vidro | 2 kN | 20 - 200 mm | CP120055 | Mais informações(abre em nova aba) |
| Dispositivo miniatura de flexão em 3 pontos Bigorna opcional de 4 pontos |
2 kN 2 kN |
3 - 105 mm | 2810-412 2810-413 |
Mais informações(abre em nova aba) |
| Dispositivo micro de flexão em 3 pontos | 1 kN 100 N |
3 - 10 mm 1 mm |
2810-411 2810-410 |
Mais informações(abre em nova aba) |
| Dispositivo micro de flexão em 3 pontos de alta precisão conforme SEMI G86-0303 | 1 kN 1 kN |
3 - 10 mm 3 - 25 mm |
CP101568 CP117370 |
Mais informações(abre em nova aba) |
Dispositivos para Ensaios de Adesivos
Dispositivos de descascamento e tração de pinos são usados para ensaiar a força de adesão de materiais laminados e componentes colados — incluindo trilhas de cobre em placas de circuito impresso, revestimentos de filmes finos, fitas adesivas, matrizes de semicondutores e outras estruturas coladas.
Dispositivos disponíveis
| Descrição | Capacidade | Nº de catálogo | |
| Dispositivo de descascamento em ângulo de 90°(abre em nova aba) | 1 kN | 2820-035 | Saiba mais(abre em nova aba) |
| Dispositivo de descascamento com ângulo variável(abre em nova aba) | 1 kN | 2820-036 | Saiba mais(abre em nova aba) |
| Dispositivo miniatura de descascamento a 90 graus(abre em nova aba) | 1 kN | 2820-034 | Saiba mais(abre em nova aba) |
| Dispositivo miniatura de descascamento com ângulo variável | 1 kN | 2820-033 | Saiba mais |
| Dispositivo de tração de pinos(abre em nova aba) Dispositivo de preparação de corpos de prova para ensaios de tração de pinos |
5 kN | 2860-300 2860-301 |
Saiba mais(abre em nova aba) |
| Grampo de morsa com mandíbula escalonada | 500 N | 2860-210 | Saiba mais |
Mandril de três mandíbulas e pontas de prova
O mandril de três mandíbulas é um dispositivo versátil para fixar corpos de prova cilíndricos ou de formato irregular durante ensaios de compressão. Uma variedade de pontas de prova pode ser acoplada ao mandril para realizar ensaios de compressão baseados em pontos em botões, displays e outros componentes eletrônicos e microeletrônicos — fornecendo uma maneira rápida e segura de adaptar o sistema de ensaio a uma ampla gama de geometrias de corpos de prova sem ferramentas personalizadas.
A placa de ensaio de componentes é uma placa grande com uma matriz de furos roscados que permite que componentes e conjuntos difíceis de ensaiar sejam fixados na posição correta para ensaios de tração, compressão, descascamento ou outros ensaios mecânicos. A matriz de furos roscados fornece múltiplos pontos de fixação para dispositivos e grampos personalizados, tornando-a uma plataforma versátil para ensaiar componentes que não podem ser fixados por garras ou dispositivos padrão.
Estágio XY Automatizado AT2
Mesas XY automatizadas permitem ensaios automatizados de compressão, flexão e tração de múltiplos corpos de prova em uma única execução de ensaio, ou o ensaio de dispositivos e componentes com múltiplos pontos de ensaio — melhorando significativamente o rendimento e a repetibilidade em comparação com o ensaio manual de ponto único. Comumente usadas para displays, botões, teclados e componentes eletrônicos.
Compatibilidade de estrutura
| Descrição | Tipo de ensaio | |
| Mesa XY automatizada para sistemas universais de ensaio | Ensaio estático | Saiba mais |
| Mesa XY automatizada para sistemas ElectroPuls(abre em nova aba) | Ensaio de fadiga | Saiba mais(abre em nova aba) |
Mesas de translação e fixação fornecem posicionamento e alinhamento precisos dos corpos de prova abaixo do atuador — essencial para ensaios de microeletrônicos onde a ponta de prova deve ser centrada com precisão no componente alvo ou ponto de ensaio. Comumente usadas para posicionar placas de circuito impresso, pacotes de chips e outros componentes pequenos dentro do sistema de ensaio.
O Torsion Add-On 3.0 permite ensaios axiais e torcionais simultâneos ou independentes nos sistemas universais de ensaio da Série 6800 — expandindo a capacidade do laboratório para incluir ensaios de torção de eletrônicos flexíveis, componentes, botões, fios e circuitos impressos flexíveis. Ideal para simular as cargas de torção e flexão do mundo real que produtos eletrônicos flexíveis experimentam em uso e durante a montagem.
Placas de E/S digital e canais de expansão podem ser adicionados a estruturas de ensaio universais para interface com dispositivos de medição externos — incluindo equipamentos de medição de tensão e resistência usados em ensaios de microeletrônicos para correlacionar a saída elétrica com a carga mecânica aplicada. Isso permite a captura simultânea de dados mecânicos e elétricos no software Bluehill® Universal.
Para garantir resultados de ensaio da mais alta qualidade, a Instron projeta e fabrica todas as suas próprias células de carga. As células de carga Instron são cuidadosamente projetadas para atender aos requisitos específicos de sistemas de ensaio de materiais, incluindo alta precisão em uma ampla faixa de medição, alta rigidez, resistência a cargas excêntricas, alinhamento preciso e excelente estabilidade de zero. Para ensaios de eletrônica e microeletrônica, oferecemos uma ampla linha de células de carga de baixa capacidade, adequadas para ensaios com baixas forças.
Capacidades comumente usadas
| Descrição | Nº de catálogo | |
| Célula de carga estática de 5 N | 2530-5N | Saiba mais |
| Célula de carga estática de 10 N | 2530-10N | Saiba mais |
| Célula de carga estática de 50 N | 2530-50N | Saiba mais |
| Célula de carga estática de 100 N | 2530-100N | Saiba mais |
| Célula de carga estática de 500 N | 2580-500N | Saiba mais |
| Célula de carga estática de 1 kN | 2580-1KN | Saiba mais |
| Célula de carga estática de 2 kN | 2580-2KN | Saiba mais |
| Célula de carga estática de 5 kN | 2580-5KN | Saiba mais |
Muitos dispositivos eletrônicos e componentes microeletrônicos precisam suportar temperaturas extremas, tanto durante o processo de montagem quanto no uso normal. Com uma câmara ambiental, é possível caracterizar o desempenho dos seus produtos em uma ampla faixa de temperatura, de -100 °C a +350 °C.
Dispositivos para Ensaios de Cisalhamento
Dispositivos de ensaio de cisalhamento de die e encapsulamento são projetados para determinar a integridade da conexão entre um die semicondutor ou elementos passivos montados em superfície e os terminais do encapsulamento ou outros substratos. Esses dispositivos são usados para medir a força de cisalhamento necessária para iniciar a falha de cola, solda, prata sinterizada ou outro agente de união, de acordo com diversas normas de ensaio, como MIL STD 883, IPC TM-650, AEC-Q200-006A ou ASTM F1269-13.
Dispositivos disponíveis
| Descrição | Capacidade | Nº de catálogo | |
| Dispositivo de cisalhamento para resistência de terminais | 500 N | CP122690 | Saiba mais |
| Dispositivo de ensaio de cisalhamento conforme MIL STD 883 | 2 kN | CP124648, S4781A, CP127130, S4752A |
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Dispositivos de ruptura (burst) ou perfuração são comumente usados para testar embalagens, tecidos, filmes finos e filmes separadores encontrados em baterias, para determinar a resistência de um material à penetração de uma ponta de prova. O material normalmente é preso por um conjunto de anéis de fixação e é submetido a tensões biaxiais representativas das encontradas no uso real.
Dispositivos disponíveis
| Descrição | Capacidade | Nº de catálogo | |
| Dispositivo de ensaio de perfuração conforme EN 14477 Inclui duas pontas de prova com diâmetro de 0,8 mm Ponta de prova de 1 mm de diâmetro com raio de 0,5 mm |
100 N | CP105780
CP114502 |
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| Dispositivo de ensaio de perfuração conforme ASTM F1306 | 10 kN | SI-14110 | Saiba mais |
| Dispositivo de compressão para ruptura por esfera | 10 kN | 2810-195 | Saiba mais(abre em nova aba) |
A altura e a largura dos sistemas universais de ensaio da Série 6800 podem ser personalizadas para atender a requisitos específicos de aplicação. Estruturas extra largas geralmente são preferidas para ensaiar displays grandes, notebooks de tamanho normal e materiais de embalagem eletrônica, como espuma e plástico. As estruturas extra largas também podem ser equipadas com uma mesa XY automatizada para ensaiar dispositivos maiores, como teclados de tamanho normal.