Produtos » Sistemas e Acessórios para Ensaios de Eletrônica e Microeletrônica

Se a sua aplicação envolve displays, botões, fios, baterias, dispositivos completos ou componentes e conjuntos microeletrônicos, como placas de circuito impresso e chips, a Instron oferece uma ampla linha de acessórios de ensaio para realizar testes de tração, compressão, flexão, descascamento e cisalhamento.

Garras de tração

A Instron oferece uma variedade de garras adequadas para realizar ensaios de tração em uma ampla gama de dispositivos eletrônicos e componentes e conjuntos microeletrônicos, incluindo terminais, fios e produtos com formatos irregulares. Algumas garras de tração têm faces de mordente com deslocamento, permitindo realizar ensaios de cisalhamento por sobreposição (lap shear) em componentes colados.

Modelos disponíveis
Descrição	Capacidade	Nº de catálogo
Garras pneumáticas de tração com ação lateral	50 N - 10 kN	Séries 2712-04x e 2712-05x	Mais informações
Garras de tração com ação lateral por parafuso	100 N - 10 kN	Série 2710-100	Mais informações
Micro garras pneumáticas de tração com ação lateral	10 N	2712-101	Mais informações
Garra pneumática para tração de terminais	500 N	2712-212	Mais informações

Fixaturas de flexão

Dispositivos de flexão em três e quatro pontos são usados para caracterizar a resistência à flexão de dispositivos eletrônicos, componentes e componentes miniaturizados encontrados na microeletrônica. Além dos dispositivos listados abaixo, a Instron também fabrica uma variedade de dispositivos de flexão maiores, com vãos mais amplos, para ensaiar displays e dispositivos. [Clique aqui para ver um exemplo].

Modelos disponíveis
Descrição	Capacidade	Vão	Nº de catálogo
Dispositivo de flexão 5 kN	5 kN	10 - 194 mm 4 - 188 mm	2810-400	Mais informações
Dispositivo de flexão em 4 pontos conforme JEDEC 9702	5 kN	Máx. superior: 125 mm Máx. inferior: 225 mm	CP111689	Fale conosco para detalhes
Dispositivo de flexão em 3 e 4 pontos para ensaio de vidro	2 kN	20 - 200 mm	CP120055	Mais informações
Dispositivo miniatura de flexão em 3 pontos Bigorna opcional para 4 pontos	2 kN 2 kN	3 - 105 mm	2810-412 2810-413	Mais informações
Dispositivo micro de flexão em 3 pontos	1 kN 100 N	3 - 10 mm 1 mm	2810-411 2810-410	Mais informações
Dispositivo micro de flexão em 3 pontos de alta precisão conforme SEMI G86-0303	1 kN 1 kN	3 - 10 mm 3 - 25 mm	CP101568 CP117370	Mais informações

Dispositivos para Ensaios de Adesivos

Dispositivos para ensaios de adesivos, incluindo dispositivos de descascamento e de tração por pino (stud pull), são usados para testar a resistência de adesão de uma ampla gama de materiais e componentes laminados, como trilhas de cobre em placas de circuito impresso, revestimentos de filme fino, fitas adesivas, pastilhas semicondutoras (dies) e outras estruturas coladas.

Modelos disponíveis
Descrição	Capacidade	Nº de catálogo
Dispositivo de descascamento a 90°	1 kN	2820-035	Mais informações
Dispositivo de descascamento com ângulo variável	1 kN	2820-036	Mais informações
Dispositivo miniatura de descascamento a 90 graus	1 kN	2820-034	Mais informações
Dispositivo miniatura de descascamento com ângulo variável	1 kN	2820-033	Mais informações
Dispositivo de tração por pino (stud pull) Dispositivo de preparação de corpos de prova para ensaios de stud pull	5 kN	2860-300 2860-301	Mais informações
Morsa com mordentes escalonados	500 N	2860-210	Mais informações

Mandril de Três Castanhas e Pontas de Prova

Há uma variedade de pontas de prova disponíveis para realizar ensaios de compressão em botões, displays e outros componentes eletrônicos e microeletrônicos. Essas pontas são facilmente adicionadas ao sistema de ensaio com nosso dispositivo de mandril de três castanhas.

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Component Test Plate

The component test plate is a large plate with an array of tapped holes that is useful for securing difficult-to-test components for a variety of tensile, compression, peel or other testing.

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Estágio XY Automatizado AT2

Mesas XY automatizadas são projetadas para ensaios automatizados de compressão, flexão e tração de múltiplos corpos de prova em uma única execução, ou de dispositivos e componentes com múltiplos pontos de ensaio. Comumente usados para testar dispositivos ou componentes eletrônicos, painéis de display, botões etc., esses sistemas estão disponíveis para sistemas universais de ensaio da Série 6800 (aplicações de ensaio estático) e para sistemas de ensaio dinâmico e de fadiga ElectroPuls™ (aplicações de ensaio estático e de durabilidade).

Modelos disponíveis
Descrição	Tipo de ensaio
Mesa XY automatizada para sistemas universais de ensaio	Ensaio estático	Mais informações
Mesa XY automatizada para sistemas ElectroPuls	Ensaio de fadiga	Mais informações

Mesas de Translação e Fixação

Mesas de translação e fixação são usadas para posicionar e alinhar com precisão um corpo de prova abaixo do atuador. São comumente usadas para posicionar com segurança placas de circuito e componentes microeletrônicos no sistema de ensaio.

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Add-On de torção

Projetado para ensaios axiais e torsionais simples, simultâneos ou independentes, o Torsion Add-On 3.0 amplia as capacidades do seu laboratório, permitindo expandir o desenvolvimento de produtos e simular aplicações reais dos seus produtos. É ideal para testar o desempenho de eletrônicos flexíveis, componentes, botões, fios e muito mais.

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Acessórios do Controlador Digital

Placas de E/S digital e canais de expansão podem ser adicionados a estruturas de ensaio universais para ajudar na interface com equipamentos e dispositivos de medição externos, como medidores de tensão.

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Células de Carga de Baixa Capacidade

Para garantir resultados de ensaio da mais alta qualidade, a Instron projeta e fabrica todas as suas próprias células de carga. As células de carga Instron são cuidadosamente projetadas para atender aos requisitos específicos de sistemas de ensaio de materiais, incluindo alta precisão em uma ampla faixa de medição, alta rigidez, resistência a cargas excêntricas, alinhamento preciso e excelente estabilidade de zero. Para ensaios de eletrônica e microeletrônica, oferecemos uma ampla linha de células de carga de baixa capacidade, adequadas para ensaios com baixas forças.

Modelos disponíveis
Descrição	Nº de catálogo
Célula de carga estática 5 N	2530-5N	Mais informações
Célula de carga estática 10 N	2530-10N	Mais informações
Célula de carga estática 50 N	2530-50N	Mais informações
Célula de carga estática 100 N	2530-100N	Mais informações
Célula de carga estática 500 N	2580-500N	Mais informações
Célula de carga estática 1 kN	2580-1KN	Mais informações
Célula de carga estática 2 kN	2580-2KN	Mais informações
Célula de carga estática 5 kN	2580-5KN	Mais informações

Câmaras ambientais

Muitos dispositivos eletrônicos e componentes microeletrônicos precisam suportar temperaturas extremas, tanto durante o processo de montagem quanto no uso normal. Com uma câmara ambiental, é possível caracterizar o desempenho dos seus produtos em uma ampla faixa de temperatura, de -100 °C a +350 °C.

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Dispositivos para Ensaios de Cisalhamento

Dispositivos de ensaio de cisalhamento de die e encapsulamento são projetados para determinar a integridade da conexão entre um die semicondutor ou elementos passivos montados em superfície e os terminais do encapsulamento ou outros substratos. Esses dispositivos são usados para medir a força de cisalhamento necessária para iniciar a falha de cola, solda, prata sinterizada ou outro agente de união, de acordo com diversas normas de ensaio, como MIL STD 883, IPC TM-650, AEC-Q200-006A ou ASTM F1269-13.

Modelos disponíveis
Descrição	Capacidade	Nº de catálogo
Dispositivo de cisalhamento para resistência de terminais	500 N	CP122690	Mais informações
Dispositivo de ensaio de cisalhamento conforme MIL STD 883	2 kN	CP124648, S4781A, CP127130, S4752A	Mais informações

Dispositivos para Ensaios de Perfuração

Dispositivos de ruptura (burst) ou perfuração são comumente usados para testar embalagens, tecidos, filmes finos e filmes separadores encontrados em baterias, para determinar a resistência de um material à penetração de uma ponta de prova. O material normalmente é preso por um conjunto de anéis de fixação e é submetido a tensões biaxiais representativas das encontradas no uso real.

Modelos disponíveis
Descrição	Capacidade	Nº de catálogo
Dispositivo de ensaio de perfuração conforme EN 14477 Inclui duas pontas de prova com diâmetro de 0,8 mm Ponta de prova de 1 mm de diâmetro com raio de 0,5 mm	100 N	CP105780 CP114502	Mais informações
Dispositivo de ensaio de perfuração conforme ASTM F1306	10 kN	SI-14110	Mais informações
Dispositivo de compressão Ball Burst	10 kN	2810-195	Mais informações

Sistemas Universais de Ensaio Extra Largos

A altura e a largura dos sistemas de bancada da Série 6800 podem ser personalizadas para atender a requisitos específicos de aplicação. Estruturas extra largas geralmente são preferidas para ensaiar displays grandes, notebooks de tamanho normal e materiais de embalagem eletrônica, como espuma e plástico. As estruturas extra largas também podem ser equipadas com uma mesa XY automatizada para ensaiar dispositivos maiores, como teclados de tamanho normal.