Prodotti » Sistemi e Accessori per Test di Elettronica e Microelettronica

Che la tua applicazione riguardi display, pulsanti, cavi, batterie, dispositivi completi o componenti e assiemi microelettronici come circuiti stampati e chip, Instron offre un'ampia gamma di accessori per test di trazione, compressione, flessione, pelatura e taglio.

Morsa di trazione

Instron offre una varietà di afferraggi adatti per eseguire test di trazione su un'ampia gamma di dispositivi elettronici e componenti e assiemi microelettronici, inclusi terminali, cavi e prodotti di forma irregolare. Alcuni afferraggi di trazione hanno ganasce che possono essere sfalsate, permettendoti di eseguire test di taglio a sovrapposizione su componenti incollati.

Modelli disponibili
Descrizione	Capacità	Codice Catalogo
Afferraggi di Trazione Pneumatici ad Azione Laterale	50 N - 10 kN	Serie 2712-04x e 2712-05x	Maggiori Info
Afferraggi di Trazione a Vite ad Azione Laterale	100 N - 10 kN	Serie 2710-100	Maggiori Info
Micro Afferraggi di Trazione Pneumatici ad Azione Laterale	10 N	2712-101	Maggiori Info
Afferraggio Pneumatico per Trazione Terminali	500 N	2712-212	Maggiori Info
Dispositivo a Gancio per Trazione Cavi	10 N	2860-001	Maggiori Info

Fissieri a flessione

I dispositivi di flessione a tre e quattro punti sono utilizzati per caratterizzare la resistenza alla flessione di dispositivi elettronici, componenti e componenti miniaturizzati presenti nella microelettronica. Oltre ai dispositivi elencati di seguito, Instron produce anche una varietà di dispositivi di flessione più grandi con campate più ampie per testare display e dispositivi. [Clicca qui per vedere un esempio].

Modelli disponibili
Descrizione	Capacità	Campata	Codice Catalogo
Dispositivo di Flessione 5 kN	5 kN	10 - 194 mm 4 - 188 mm	2810-400	Maggiori Info
Dispositivo di Flessione a 4 Punti secondo JEDEC 9702	5 kN	Max Superiore: 125 mm Max Inferiore: 225 mm	CP111689	Contattaci per Dettagli
Dispositivo di Flessione a 3 e 4 Punti per Test su Vetro	2 kN	20 - 200 mm	CP120055	Maggiori Info
Dispositivo di Flessione a 3 Punti Miniaturizzato Incudine a 4 Punti Opzionale	2 kN 2 kN	3 - 105 mm	2810-412 2810-413	Maggiori Info
Micro Dispositivo di Flessione a 3 Punti	1 kN 100 N	3 - 10 mm 1 mm	2810-411 2810-410	Maggiori Info
Micro Dispositivo di Flessione a 3 Punti ad Alta Precisione secondo SEMI G86-0303	1 kN 1 kN	3 - 10 mm 3 - 25 mm	CP101568 CP117370	Maggiori Info

Dispositivi per Test Adesivi

I dispositivi per test adesivi, inclusi dispositivi per pelatura e strappo perni, sono utilizzati per testare la resistenza del legame adesivo di un'ampia gamma di materiali e componenti laminati come conduttori in rame su circuiti stampati, rivestimenti a film sottile, nastri adesivi, die di semiconduttori e altre strutture incollate.

Modelli disponibili
Descrizione	Capacità	Codice Catalogo
Dispositivo di Pelatura a 90°	1 kN	2820-035	Maggiori Info
Dispositivo di Pelatura ad Angolo Variabile	1 kN	2820-036	Maggiori Info
Dispositivo di Pelatura a 90 Gradi Miniaturizzato	1 kN	2820-034	Maggiori Info
Dispositivo di Pelatura ad Angolo Variabile Miniaturizzato	1 kN	2820-033	Maggiori Info
Dispositivo per Strappo Perni Dispositivo di Preparazione Campioni per Test di Strappo Perni	5 kN	2860-300 2860-301	Maggiori Info
Morsa a Ganasce Sfalsate	500 N	2860-210	Maggiori Info

Mandrino a Tre Ganasce e Sonde

È disponibile una varietà di sonde per eseguire test di compressione su pulsanti, display e altri componenti elettronici e microelettronici. Queste sonde si aggiungono facilmente al sistema di test con il nostro dispositivo a mandrino a tre ganasce.

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Piastra di prova per componenti

La piastra di prova dei componenti è una piastra di grandi dimensioni con una serie di fori filettati, utile per fissare i componenti difficili da testare per una serie di prove di trazione, compressione, pelatura o altro.

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Tavola XY automatizzata AT2

Le Piattaforme XY Automatizzate sono progettate per test automatizzati di compressione, flessione e trazione di più campioni in un'unica sessione di test o dispositivi e componenti con più punti di test. Comunemente utilizzate per testare dispositivi o componenti elettronici, pannelli display, pulsanti, ecc., questi sistemi sono disponibili per i sistemi di test universali Serie 6800 (applicazioni di test statico) e i sistemi di test dinamico e a fatica ElectroPuls™ (applicazioni di test statico e di durata).

Modelli disponibili
Descrizione	Tipo di Test
Piattaforma XY Automatizzata per Sistemi di Test Universali	Test Statico	Maggiori Info
Piattaforma XY Automatizzata per Sistemi ElectroPuls	Test a Fatica	Maggiori Info

Piattaforme di Traslazione e Bloccaggio

Le piattaforme di traslazione e bloccaggio sono utilizzate per posizionare e allineare con precisione un campione di test sotto l'attuatore. Sono comunemente utilizzate per posizionare in modo sicuro circuiti stampati e componenti microelettronici all'interno del sistema di test.

Maggiori informazioni

Aggiunta di torsione

Progettato per test assiali e torsionali semplici, simultanei o indipendenti, il Torsion Add-On 3.0 aumenta le capacità del tuo laboratorio, permettendoti di espandere le capacità di sviluppo prodotto e simulare applicazioni reali dei tuoi prodotti. È perfetto per testare le prestazioni di elettronica flessibile, componenti, pulsanti, cavi e altro.

Maggiori informazioni

Accessori per controller digitali

Schede I/O digitali e canali di espansione possono essere aggiunti ai telai di test universali per interfacciarsi con apparecchiature esterne e dispositivi di misurazione, come dispositivi di misurazione della tensione.

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Celle di Carico a Bassa Capacità

Per garantire che i risultati dei tuoi test siano della massima qualità, Instron progetta e produce tutte le proprie celle di carico. Le celle di carico Instron sono accuratamente progettate per soddisfare i requisiti unici dei sistemi di test dei materiali, inclusi alta precisione su un'ampia gamma di misurazione, elevata rigidità, resistenza ai carichi di offset, allineamento accurato ed eccellente stabilità dello zero. Per i test di elettronica e microelettronica, offriamo un'ampia gamma di celle di carico a bassa capacità adatte per test a basse forze.

Modelli disponibili
Descrizione	Codice Catalogo
Cella di Carico Statica 5 N	2530-5N	Maggiori Info
Cella di Carico Statica 10 N	2530-10N	Maggiori Info
Cella di Carico Statica 50 N	2530-50N	Maggiori Info
Cella di Carico Statica 100 N	2530-100N	Maggiori Info
Cella di Carico Statica 500 N	2580-500N	Maggiori Info
Cella di Carico Statica 1 kN	2580-1KN	Maggiori Info
Cella di Carico Statica 2 kN	2580-2KN	Maggiori Info
Cella di Carico Statica 5 kN	2580-5KN	Maggiori Info

Camere ambientali

Molti dispositivi elettronici e componenti microelettronici devono resistere a temperature estreme sia durante il processo di assemblaggio che nell'uso normale. Con una camera ambientale, puoi caratterizzare le prestazioni dei tuoi prodotti in un'ampia gamma di condizioni di temperatura che vanno da -100 °C a +350 °C.

Maggiori informazioni

Dispositivi per Test di Taglio

I dispositivi per test di taglio di die e package sono progettati per determinare l'integrità della connessione tra un die di semiconduttore o elementi passivi montati in superficie e intestazioni di package o altri substrati. Questi dispositivi sono utilizzati per misurare la forza di taglio necessaria per avviare il cedimento di colla, saldatura, argento sinterizzato o altri agenti di incollaggio in conformità con vari standard di test, come MIL STD 883, IPC TM-650, AEC-Q200-006A o ASTM F1269-13.

Modelli disponibili
Descrizione	Capacità	Codice Catalogo
Dispositivo di Taglio per Resistenza Terminali	500 N	CP122690	Maggiori Info
Dispositivo per Test di Taglio secondo MIL STD 883	2 kN	CP124648, S4781A, CP127130, S4752A	Maggiori Info

Dispositivi per Test di Perforazione

I dispositivi per test di scoppio o perforazione sono comunemente utilizzati per testare imballaggi, tessuti e film sottili e film separatori presenti nelle batterie per determinare la resistenza di un materiale alla penetrazione di una sonda. Il materiale è tipicamente tenuto da una serie di anelli di bloccaggio e subisce sollecitazioni biassiali rappresentative di quelle incontrate durante l'uso effettivo.

Modelli disponibili
Descrizione	Capacità	Codice Catalogo
Dispositivo per Test di Perforazione secondo EN 14477 Include Due Sonde con Diametro 0,8 mm Sonda Diametro 1 mm con Raggio 0,5 mm	100 N	CP105780 CP114502	Maggiori Info
Dispositivo per Test di Perforazione secondo ASTM F1306	10 kN	SI-14110	Maggiori Info
Dispositivo di Compressione per Scoppio a Sfera	10 kN	2810-195	Maggiori Info

Sistemi di Test Universali Extra Larghi

L'altezza e la larghezza dei sistemi da banco Serie 6800 possono essere personalizzate per soddisfare requisiti applicativi specifici. I telai extra larghi sono tipicamente preferiti per testare display di grandi dimensioni, laptop full-size e materiali di imballaggio elettronico come schiuma e plastica. I telai extra larghi possono anche essere dotati di una piattaforma XY automatizzata per testare dispositivi più grandi, come tastiere full-size.

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