Sia che la vostra applicazione riguardi display, pulsanti, cavi, batterie, dispositivi completi o componenti e assiemi microelettronici come circuiti stampati e chip, Instron offre una gamma completa di accessori di prova per test di trazione, compressione, flessione, pelatura, taglio e perforazione. Tutti gli accessori sono progettati per la precisione e la ripetibilità richieste dai test di elettronica e microelettronica, dove le forze sono spesso misurate in millinewton e le dimensioni dei provini in micron.
Instron offre una varietà di afferraggi per test di trazione su dispositivi elettronici e componenti microelettronici, inclusi terminali, fili, film sottili e assiemi di forma irregolare. Alcuni modelli di afferraggi presentano facce delle ganasce che possono essere sfalsate per consentire test di taglio a sovrapposizione su componenti incollati.
Afferraggi Disponibili
| Descrizione | Capacità | Codice Catalogo | |
| Afferraggi di Trazione Pneumatici ad Azione Laterale | 50 N - 10 kN | Serie 2712-04x e 2712-05x | Scopri di più |
| Afferraggi di Trazione a Vite ad Azione Laterale | 100 N - 10 kN | Serie 2710-100 | Scopri di più |
| Micro Afferraggi di Trazione Pneumatici ad Azione Laterale | 10 N | 2712-101 | Scopri di più |
| Afferraggio Pneumatico per Trazione Terminali | 500 N | 2712-212 | Scopri di più |
| Dispositivo a Gancio per Trazione Fili | 10 N | 2860-001 | Contattaci |
Fissieri a flessione
I dispositivi di flessione a tre e quattro punti sono utilizzati per caratterizzare la resistenza a flessione di dispositivi elettronici, componenti e componenti microelettronici miniaturizzati. Oltre ai dispositivi elencati di seguito, Instron produce una varietà di dispositivi di flessione più grandi con campate più ampie per testare display e dispositivi a grandezza naturale — contattaci per i dettagli.
Dispositivi Disponibili
| Descrizione | Capacità | Campata | Codice Catalogo | |
| Dispositivo di Flessione 5 kN | 5 kN | 10 - 194 mm 4 - 188 mm |
2810-400 | Maggiori Info |
| Dispositivo di Flessione a 4 Punti secondo JEDEC 9702 | 5 kN | Max Superiore: 125 mm Max Inferiore: 225 mm |
CP111689 | Contattaci |
| Dispositivo di Flessione a 3 e 4 Punti per Test su Vetro | 2 kN | 20 - 200 mm | CP120055 | Maggiori Info(si apre in una nuova scheda) |
| Dispositivo di Flessione a 3 Punti Miniaturizzato Incudine a 4 Punti Opzionale |
2 kN 2 kN |
3 - 105 mm | 2810-412 2810-413 |
Maggiori Info(si apre in una nuova scheda) |
| Micro Dispositivo di Flessione a 3 Punti | 1 kN 100 N |
3 - 10 mm 1 mm |
2810-411 2810-410 |
Maggiori Info(si apre in una nuova scheda) |
| Micro Dispositivo di Flessione a 3 Punti ad Alta Precisione secondo SEMI G86-0303 | 1 kN 1 kN |
3 - 10 mm 3 - 25 mm |
CP101568 CP117370 |
Maggiori Info(si apre in una nuova scheda) |
Dispositivi per Test Adesivi
I dispositivi di pelatura e di trazione di perni sono utilizzati per testare la forza di adesione di materiali laminati e componenti incollati, inclusi i conduttori in rame su circuiti stampati, rivestimenti in film sottile, nastri adesivi, die di semiconduttori e altre strutture incollate.
Dispositivi Disponibili
| Descrizione | Capacità | Codice Catalogo | |
| Dispositivo di Pelatura a 90°(si apre in una nuova scheda) | 1 kN | 2820-035 | Scopri di più(si apre in una nuova scheda) |
| Dispositivo di Pelatura ad Angolo Variabile(si apre in una nuova scheda) | 1 kN | 2820-036 | Scopri di più(si apre in una nuova scheda) |
| Dispositivo di Pelatura a 90 Gradi Miniaturizzato(si apre in una nuova scheda) | 1 kN | 2820-034 | Scopri di più(si apre in una nuova scheda) |
| Dispositivo di Pelatura ad Angolo Variabile Miniaturizzato | 1 kN | 2820-033 | Scopri di più |
| Dispositivo di Trazione Perni(si apre in una nuova scheda) Dispositivo di Preparazione Provini per Test di Trazione Perni |
5 kN | 2860-300 2860-301 |
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| Morsa a Ganasce Graduate | 500 N | 2860-210 | Scopri di più |
Mandrino a Tre Griffe e Sonde di Prova
Il mandrino a tre griffe è un dispositivo versatile per il bloccaggio di provini cilindrici o di forma irregolare durante i test di compressione. Al mandrino possono essere collegate diverse sonde per eseguire test di compressione puntuali su pulsanti, display e altri componenti elettronici e microelettronici, offrendo un modo rapido e sicuro per adattare il sistema di prova a un'ampia gamma di geometrie di provini senza attrezzature personalizzate.
La piastra di prova componenti è una piastra di grandi dimensioni dotata di una serie di fori filettati che consente di fissare componenti e assiemi difficili da testare nella posizione corretta per test di trazione, compressione, pelatura o altri test meccanici. La serie di fori filettati fornisce molteplici punti di attacco per dispositivi e morsetti personalizzati, rendendola una piattaforma versatile per testare componenti che non possono essere trattenuti da afferraggi o dispositivi standard.
Tavola XY automatizzata AT2
Gli stage XY automatizzati consentono test automatizzati di compressione, flessione e trazione su più provini in un unico ciclo di prova, o il test di dispositivi e componenti con più punti di prova, migliorando significativamente la produttività e la ripetibilità rispetto ai test manuali a punto singolo. Comunemente utilizzati per display, pulsanti, tastiere e componenti elettronici.
Compatibilità del Telaio
| Descrizione | Tipo di Test | |
| Stage XY Automatizzato per Sistemi di Test Universali | Test Statico | Scopri di più |
| Stage XY Automatizzato per Sistemi ElectroPuls(si apre in una nuova scheda) | Test di Fatica | Scopri di più(si apre in una nuova scheda) |
Gli stage di traslazione e bloccaggio forniscono un posizionamento e un allineamento precisi dei provini sotto l'attuatore, essenziali per i test di microelettronica in cui la sonda deve essere centrata accuratamente sul componente target o sul punto di prova. Comunemente utilizzati per il posizionamento di circuiti stampati, pacchetti di chip e altri piccoli componenti all'interno del sistema di prova.
Il Torsion Add-On 3.0 consente test assiali e torsionali simultanei o indipendenti sui sistemi di prova universali Serie 6800, ampliando le capacità del laboratorio per includere test di torsione su elettronica flessibile, componenti, pulsanti, fili e circuiti stampati flessibili. Ideale per simulare i carichi di torsione e flessione del mondo reale che i prodotti elettronici flessibili subiscono durante l'uso e l'assemblaggio.
Le schede I/O digitali e i canali di espansione possono essere aggiunti ai telai di prova universali per interfacciarsi con dispositivi di misurazione esterni, inclusi apparecchi di misurazione di tensione e resistenza utilizzati nei test di microelettronica per correlare l'output elettrico con il carico meccanico applicato. Ciò consente l'acquisizione simultanea di dati meccanici ed elettrici all'interno del software Bluehill® Universal.
Per garantire che i risultati dei tuoi test siano della massima qualità, Instron progetta e produce tutte le proprie celle di carico. Le celle di carico Instron sono accuratamente progettate per soddisfare i requisiti unici dei sistemi di test dei materiali, inclusi alta precisione su un'ampia gamma di misurazione, elevata rigidità, resistenza ai carichi di offset, allineamento accurato ed eccellente stabilità dello zero. Per i test di elettronica e microelettronica, offriamo un'ampia gamma di celle di carico a bassa capacità adatte per test a basse forze.
Capacità Comunemente Utilizzate
| Descrizione | Codice Catalogo | |
| Cella di Carico Statica da 5 N | 2530-5N | Scopri di più |
| Cella di Carico Statica da 10 N | 2530-10N | Scopri di più |
| Cella di Carico Statica da 50 N | 2530-50N | Scopri di più |
| Cella di Carico Statica da 100 N | 2530-100N | Scopri di più |
| Cella di Carico Statica da 500 N | 2580-500N | Scopri di più |
| Cella di Carico Statica da 1 kN | 2580-1KN | Scopri di più |
| Cella di Carico Statica da 2 kN | 2580-2KN | Scopri di più |
| Cella di Carico Statica da 5 kN | 2580-5KN | Scopri di più |
Molti dispositivi elettronici e componenti microelettronici devono resistere a temperature estreme sia durante il processo di assemblaggio che nell'uso normale. Con una camera ambientale, puoi caratterizzare le prestazioni dei tuoi prodotti in un'ampia gamma di condizioni di temperatura che vanno da -100 °C a +350 °C.
Dispositivi per Test di Taglio
I dispositivi per test di taglio di die e package sono progettati per determinare l'integrità della connessione tra un die di semiconduttore o elementi passivi montati in superficie e intestazioni di package o altri substrati. Questi dispositivi sono utilizzati per misurare la forza di taglio necessaria per avviare il cedimento di colla, saldatura, argento sinterizzato o altri agenti di incollaggio in conformità con vari standard di test, come MIL STD 883, IPC TM-650, AEC-Q200-006A o ASTM F1269-13.
Dispositivi Disponibili
| Descrizione | Capacità | Codice Catalogo | |
| Dispositivo di Taglio per Resistenza Terminali | 500 N | CP122690 | Scopri di più |
| Dispositivo per Test di Taglio secondo MIL STD 883 | 2 kN | CP124648, S4781A, CP127130, S4752A |
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I dispositivi per test di scoppio o perforazione sono comunemente utilizzati per testare imballaggi, tessuti e film sottili e film separatori presenti nelle batterie per determinare la resistenza di un materiale alla penetrazione di una sonda. Il materiale è tipicamente tenuto da una serie di anelli di bloccaggio e subisce sollecitazioni biassiali rappresentative di quelle incontrate durante l'uso effettivo.
Dispositivi Disponibili
| Descrizione | Capacità | Codice Catalogo | |
| Dispositivo per Test di Perforazione secondo EN 14477 Include Due Sonde con Diametro 0,8 mm Sonda Diametro 1 mm con Raggio 0,5 mm |
100 N | CP105780
CP114502 |
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| Dispositivo per Test di Perforazione secondo ASTM F1306 | 10 kN | SI-14110 | Scopri di più |
| Dispositivo di Compressione Ball Burst | 10 kN | 2810-195 | Scopri di più(si apre in una nuova scheda) |
L'altezza e la larghezza dei sistemi di prova universali Serie 6800 possono essere personalizzate per soddisfare requisiti applicativi specifici. I telai extra larghi sono tipicamente preferiti per testare display di grandi dimensioni, laptop full-size e materiali di imballaggio elettronico come schiuma e plastica. I telai extra larghi possono anche essere dotati di uno stage XY automatizzato per testare dispositivi più grandi, come tastiere full-size.