Tanto si su aplicación incluye pantallas, botones, cables, baterías, dispositivos completos o componentes y conjuntos microelectrónicos como placas de circuito impreso y chips, Instron ofrece una amplia gama de accesorios de prueba para ensayos de tracción, compresión, flexión, pelado, cizalladura y perforación. Todos los accesorios están diseñados para la precisión y repetibilidad que exigen las pruebas de electrónica y microelectrónica, donde las fuerzas se miden a menudo en milinewtons y las dimensiones de las probetas en micras.
Instron ofrece una variedad de mordazas para pruebas de tracción de dispositivos electrónicos y componentes microelectrónicos, incluidos terminales, cables, películas finas y conjuntos de formas irregulares. Algunos modelos de mordazas cuentan con caras que pueden desplazarse para adaptarse a las pruebas de cizalladura por solape de componentes adheridos.
Mordazas disponibles
| Descripción | Capacidad | N.º de catálogo | |
| Mordazas de tracción neumáticas de acción lateral | 50 N - 10 kN | Series 2712-04x y 2712-05x | Más información |
| Mordazas de tracción de tornillo de acción lateral | 100 N - 10 kN | Serie 2710-100 | Más información |
| Micromordazas de tracción neumáticas de acción lateral | 10 N | 2712-101 | Más información |
| Mordaza neumática para tracción de terminales | 500 N | 2712-212 | Más información |
| Accesorio de gancho para tracción de cables | 10 N | 2860-001 | Contáctenos |
Accesorios de flexión
Los accesorios de flexión de tres y cuatro puntos se utilizan para caracterizar la resistencia a la flexión de dispositivos electrónicos, componentes y componentes microelectrónicos en miniatura. Además de los accesorios enumerados a continuación, Instron fabrica una variedad de accesorios de flexión más grandes con luces más amplias para probar pantallas y dispositivos de tamaño completo; contáctenos para obtener más detalles.
Accesorios disponibles
| Descripción | Capacidad | Luz | N.º de catálogo | |
| Accesorio de flexión de 5 kN | 5 kN | 10 - 194 mm 4 - 188 mm |
2810-400 | Más información |
| Accesorio de flexión de 4 puntos según JEDEC 9702 | 5 kN | Máx. superior: 125 mm Máx. inferior: 225 mm |
CP111689 | Contáctenos |
| Accesorio de flexión de 3 y 4 puntos para pruebas de vidrio | 2 kN | 20 - 200 mm | CP120055 | Más información(se abre en una pestaña nueva) |
| Accesorio de flexión de 3 puntos en miniatura Yunque de 4 puntos opcional |
2 kN 2 kN |
3 - 105 mm | 2810-412 2810-413 |
Más información(se abre en una pestaña nueva) |
| Microaccesorio de flexión de 3 puntos | 1 kN 100 N |
3 - 10 mm 1 mm |
2810-411 2810-410 |
Más información(se abre en una pestaña nueva) |
| Microaccesorio de flexión de 3 puntos de alta precisión según SEMI G86-0303 | 1 kN 1 kN |
3 - 10 mm 3 - 25 mm |
CP101568 CP117370 |
Más información(se abre en una pestaña nueva) |
Accesorios para pruebas de adhesivos
Los accesorios de pelado y de tracción de pernos se utilizan para probar la fuerza de unión adhesiva de materiales laminados y componentes adheridos, incluidas las pistas de cobre en placas de circuito impreso, recubrimientos de película fina, cintas adhesivas, matrices de semiconductores y otras estructuras adheridas.
Accesorios disponibles
| Descripción | Capacidad | N.º de catálogo | |
| Accesorio de pelado a 90°(se abre en una pestaña nueva) | 1 kN | 2820-035 | Más información(se abre en una pestaña nueva) |
| Accesorio de pelado de ángulo variable(se abre en una pestaña nueva) | 1 kN | 2820-036 | Más información(se abre en una pestaña nueva) |
| Accesorio de pelado a 90 grados en miniatura(se abre en una pestaña nueva) | 1 kN | 2820-034 | Más información(se abre en una pestaña nueva) |
| Accesorio de pelado de ángulo variable en miniatura | 1 kN | 2820-033 | Más información |
| Accesorio de tracción de pernos(se abre en una pestaña nueva) Accesorio de preparación de probetas para pruebas de tracción de pernos |
5 kN | 2860-300 2860-301 |
Más información(se abre en una pestaña nueva) |
| Mordaza de tornillo de banco con mordaza escalonada | 500 N | 2860-210 | Más información |
Mandril de tres mordazas y sondas de prueba
El mandril de tres mordazas es un accesorio versátil para sujetar probetas cilíndricas o de forma irregular durante las pruebas de compresión. Se pueden acoplar diversas sondas al mandril para realizar pruebas de compresión puntuales en botones, pantallas y otros componentes electrónicos y microelectrónicos, lo que proporciona una forma rápida y segura de adaptar el sistema de pruebas a una amplia gama de geometrías de probetas sin necesidad de herramientas personalizadas.
La placa de prueba de componentes es una placa grande que presenta una matriz de orificios roscados que permite fijar componentes y conjuntos difíciles de probar en la posición correcta para pruebas de tracción, compresión, pelado u otras pruebas mecánicas. La matriz de orificios roscados proporciona múltiples puntos de fijación para accesorios y abrazaderas personalizados, lo que la convierte en una plataforma versátil para probar componentes que no pueden sujetarse con mordazas o accesorios estándar.
Plataforma XY automatizada AT2
Las etapas XY automatizadas permiten realizar pruebas automatizadas de compresión, flexión y tracción de múltiples probetas en una sola ejecución, o pruebas de dispositivos y componentes con múltiples puntos de prueba, lo que mejora significativamente el rendimiento y la repetibilidad en comparación con las pruebas manuales de un solo punto. Se utilizan comúnmente para pantallas, botones, teclados y componentes electrónicos.
Compatibilidad del bastidor
| Descripción | Tipo de prueba | |
| Etapa XY automatizada para sistemas de pruebas universales | Pruebas estáticas | Más información |
| Etapa XY automatizada para sistemas ElectroPuls®(se abre en una pestaña nueva) | Pruebas de fatiga | Más información(se abre en una pestaña nueva) |
Las etapas de traslación y sujeción proporcionan un posicionamiento y alineación precisos de las probetas de prueba debajo del actuador, lo cual es esencial para las pruebas de microelectrónica donde la sonda debe centrarse con precisión en el componente objetivo o punto de prueba. Se utilizan comúnmente para posicionar placas de circuito impreso, paquetes de chips y otros componentes pequeños dentro del sistema de pruebas.
El Torsion Add-On 3.0 permite realizar pruebas axiales y torsionales simultáneas o independientes en los sistemas de pruebas universales de la serie 6800, ampliando la capacidad del laboratorio para incluir pruebas de torsión de electrónica flexible, componentes, botones, cables y circuitos impresos flexibles. Ideal para simular las cargas de torsión y flexión del mundo real que experimentan los productos electrónicos flexibles durante su uso y montaje.
Se pueden añadir placas de E/S digitales y canales de expansión a los bastidores de pruebas universales para conectarlos con dispositivos de medición externos, incluidos los equipos de medición de tensión y resistencia utilizados en las pruebas de microelectrónica para correlacionar la salida eléctrica con la carga mecánica aplicada. Esto permite la captura simultánea de datos mecánicos y eléctricos dentro del software Bluehill® Universal.
Para garantizar que sus resultados de prueba sean de la máxima calidad, Instron diseña y fabrica todas sus propias células de carga. Las células de carga de Instron están cuidadosamente diseñadas para cumplir los requisitos únicos de los sistemas de pruebas de materiales, incluyendo una alta precisión en un amplio rango de medición, alta rigidez, resistencia a cargas descentradas, alineación precisa y excelente estabilidad de cero. Para las pruebas de electrónica y microelectrónica, ofrecemos una amplia gama de células de carga de baja capacidad adecuadas para pruebas con fuerzas bajas.
Capacidades utilizadas habitualmente
| Descripción | N.º de catálogo | |
| Célula de carga estática de 5 N | 2530-5N | Más información |
| Célula de carga estática de 10 N | 2530-10N | Más información |
| Célula de carga estática de 50 N | 2530-50N | Más información |
| Célula de carga estática de 100 N | 2530-100N | Más información |
| Célula de carga estática de 500 N | 2580-500N | Más información |
| Célula de carga estática de 1 kN | 2580-1KN | Más información |
| Célula de carga estática de 2 kN | 2580-2KN | Más información |
| Célula de carga estática de 5 kN | 2580-5KN | Más información |
Se espera que muchos dispositivos electrónicos y componentes microelectrónicos soporten temperaturas extremas tanto durante el proceso de montaje como en el uso normal. Con una cámara ambiental, puede caracterizar el rendimiento de sus productos bajo una amplia gama de condiciones de temperatura que van desde -100 °C hasta +350 °C.
Accesorios para pruebas de cizalladura
Los accesorios para pruebas de cizalladura de matrices y encapsulados están diseñados para determinar la integridad de la conexión entre una matriz de semiconductores o elementos pasivos montados en superficie y los terminales del encapsulado u otros sustratos. Estos accesorios se utilizan para medir la fuerza de cizalladura necesaria para iniciar el fallo del pegamento, la soldadura, la plata sinterizada u otro agente de unión de acuerdo con diversas normas de ensayo, como MIL STD 883, IPC TM-650, AEC-Q200-006A o ASTM F1269-13.
Accesorios disponibles
| Descripción | Capacidad | N.º de catálogo | |
| Accesorio de cizalladura para resistencia de terminales | 500 N | CP122690 | Más información |
| Accesorio de prueba de cizalladura según MIL STD 883 | 2 kN | CP124648, S4781A, CP127130, S4752A |
Más información |
Los accesorios de reventamiento o perforación se utilizan habitualmente para probar embalajes, tejidos y películas delgadas y películas separadoras que se encuentran en las baterías para determinar la resistencia de un material a la penetración de una sonda. El material suele sujetarse mediante un juego de anillos de sujeción y se somete a tensiones biaxiales representativas de las que se encuentran durante el uso real.
Accesorios disponibles
| Descripción | Capacidad | N.º de catálogo | |
| Accesorio de prueba de perforación según EN 14477 Incluye dos sondas de 0,8 mm de diámetro Sonda de 1 mm de diámetro con radio de 0,5 mm |
100 N | CP105780
CP114502 |
Más información |
| Accesorio de prueba de perforación según ASTM F1306 | 10 kN | SI-14110 | Más información |
| Accesorio de compresión por estallido de bola | 10 kN | 2810-195 | Más información(se abre en una pestaña nueva) |
La altura y la anchura de los sistemas de pruebas universales de la serie 6800 pueden personalizarse para adaptarse a los requisitos específicos de la aplicación. Los bastidores extraanchos suelen preferirse para probar pantallas grandes, ordenadores portátiles de tamaño completo y materiales de embalaje electrónico como espuma y plástico. Los bastidores extraanchos también pueden equiparse con una etapa XY automatizada para probar dispositivos más grandes, como teclados de tamaño completo.