Sistemas y accesorios de pruebas para electrónica y microelectrónica

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Tanto si su aplicación incluye pantallas, botones, cables, baterías, dispositivos completos o componentes y conjuntos microelectrónicos como placas de circuito impreso y chips, Instron ofrece una amplia gama de accesorios para realizar pruebas de tracción, compresión, flexión, pelado y cizalladura.

Mordazas de tracción
Instron ofrece una variedad de mordazas adecuadas para realizar pruebas de tracción en una amplia gama de dispositivos electrónicos y componentes y conjuntos microelectrónicos, incluidos terminales, cables y productos de forma irregular. Algunas mordazas de tracción disponen de caras que pueden desplazarse, lo que permite realizar pruebas de cizalladura por solapamiento en componentes adheridos.
Modelos disponibles
Descripción Capacidad N.º de catálogo
Mordazas de tracción neumáticas de acción lateral 50 N - 10 kN Series 2712-04x y 2712-05x Más información
Mordazas de tracción de tornillo de acción lateral 100 N - 10 kN Serie 2710-100 Más información
Micromordazas de tracción neumáticas de acción lateral 10 N 2712-101 Más información
Mordaza neumática para tracción de terminales 500 N 2712-212 Más información
Accesorio de gancho para tracción de cables 10 N 2860-001 Más información

Bend Fixture Testing Microelectronic Component
Bend Fixture Testing Microelectronic Component 5 kN Flexure Fixture 4 Point Bend Fixture to JEDEC 9702
Accesorios de flexión
Los accesorios de flexión de tres y cuatro puntos se utilizan para caracterizar la resistencia a la flexión de dispositivos electrónicos, componentes y piezas en miniatura de microelectrónica. Además de los accesorios enumerados a continuación, Instron también fabrica diversos accesorios de flexión de mayor tamaño con luces más amplias para probar pantallas y dispositivos. [Haga clic aquí para ver un ejemplo].
Modelos disponibles
Descripción Capacidad Luz N.º de catálogo
Accesorio de flexión de 5 kN 5 kN 10 - 194 mm
4 - 188 mm		 2810-400 Más información
Accesorio de flexión de 4 puntos según JEDEC 9702 5 kN Máx. superior: 125 mm
Máx. inferior: 225 mm		 CP111689 Contáctenos para más detalles
Accesorio de flexión de 3 y 4 puntos para pruebas de vidrio 2 kN 20 - 200 mm CP120055 Más información
Accesorio de flexión de 3 puntos en miniatura
Yunque de 4 puntos opcional		 2 kN
2 kN		 3 - 105 mm 2810-412
2810-413		 Más información
Microaccesorio de flexión de 3 puntos 1 kN
100 N		 3 - 10 mm
1 mm		 2810-411
2810-410		 Más información
Microaccesorio de flexión de 3 puntos de alta precisión
según SEMI G86-0303		 1 kN
1 kN		 3 - 10 mm
3 - 25 mm		 CP101568
CP117370		 Más información
Adhesive Test Fixtures
Accesorios para pruebas de adhesivos
Los accesorios para pruebas de adhesivos, incluidos los de pelado y de tracción de pernos, se utilizan para probar la fuerza de unión adhesiva de una amplia gama de materiales laminados y componentes, como pistas de cobre en placas de circuito impreso, recubrimientos de película delgada, cintas adhesivas, matrices de semiconductores y otras estructuras adheridas.
Modelos disponibles
Descripción Capacidad N.º de catálogo
Accesorio de pelado a 90° 1 kN 2820-035 Más información
Accesorio de pelado de ángulo variable 1 kN 2820-036 Más información
Accesorio de pelado a 90 grados en miniatura 1 kN 2820-034 Más información
Accesorio de pelado de ángulo variable en miniatura 1 kN 2820-033 Más información
Accesorio de tracción de pernos
Accesorio de preparación de probetas para pruebas de tracción de pernos		 5 kN 2860-300
2860-301		 Más información
Mordaza de tornillo con mordazas escalonadas 500 N 2860-210 Más información

Three-Jaw Chuck
Three-Jaw Chuck Three Jaw Chuck Video Testing Probes
Mandril de tres mordazas y sondas
Se dispone de diversas sondas para realizar pruebas de compresión en botones, pantallas y otros componentes electrónicos y microelectrónicos. Estas sondas se añaden fácilmente al sistema de pruebas con nuestro accesorio de mandril de tres mordazas.
Placa de prueba de componentes
La placa de ensayo de componentes es una placa grande con una serie de orificios roscados que resulta útil para sujetar componentes difíciles de ensayar para una variedad de ensayos de tracción, compresión, pelado u otros.

AT2 Automatic XY Stage
AT2 Automatic XY Stage
Plataforma XY automatizada AT2
Las etapas XY automatizadas están diseñadas para pruebas automatizadas de compresión, flexión y tracción de múltiples probetas en una sola ejecución o de dispositivos y componentes con múltiples puntos de prueba. Utilizados habitualmente para probar dispositivos o componentes electrónicos, paneles de pantalla, botones, etc., estos sistemas están disponibles para los sistemas de pruebas universales de la serie 6800 (aplicaciones de pruebas estáticas) y los sistemas de pruebas dinámicas y de fatiga ElectroPuls™ (aplicaciones de pruebas estáticas y de durabilidad).
Modelos disponibles
Descripción Tipo de prueba
Etapa XY automatizada para sistemas de pruebas universales Pruebas estáticas Más información
Etapa XY automatizada para sistemas ElectroPuls Pruebas de fatiga Más información
Etapas de traslación y sujeción
Las etapas de traslación y sujeción se utilizan para posicionar y alinear con precisión una probeta bajo el actuador. Se utilizan habitualmente para posicionar de forma segura placas de circuitos microelectrónicos y componentes dentro del sistema de pruebas.
Complemento de torsión
Diseñado para pruebas axiales y torsionales sencillas, simultáneas o independientes, el Torsion Add-On 3.0 aumenta las capacidades de su laboratorio, permitiéndole ampliar las capacidades de desarrollo de productos y simular aplicaciones reales de sus productos. Es perfecto para probar el rendimiento de electrónica flexible, componentes, botones, cables y más.
Accesorios para controladores digitales
Se pueden añadir tarjetas de E/S digitales y canales de expansión a los bastidores de pruebas universales para facilitar la interfaz con equipos externos y dispositivos de medición, como los dispositivos de medición de tensión.
Células de carga de baja capacidad
Para garantizar que sus resultados de prueba sean de la máxima calidad, Instron diseña y fabrica todas sus propias células de carga. Las células de carga de Instron están cuidadosamente diseñadas para cumplir los requisitos únicos de los sistemas de pruebas de materiales, incluyendo una alta precisión en un amplio rango de medición, alta rigidez, resistencia a cargas descentradas, alineación precisa y excelente estabilidad de cero. Para las pruebas de electrónica y microelectrónica, ofrecemos una amplia gama de células de carga de baja capacidad adecuadas para pruebas con fuerzas bajas.
Modelos disponibles
Descripción N.º de catálogo
Célula de carga estática de 5 N 2530-5N Más información
Célula de carga estática de 10 N 2530-10N Más información
Célula de carga estática de 50 N 2530-50N Más información
Célula de carga estática de 100 N 2530-100N Más información
Célula de carga estática de 500 N 2580-500N Más información
Célula de carga estática de 1 kN 2580-1KN Más información
Célula de carga estática de 2 kN 2580-2KN Más información
Célula de carga estática de 5 kN 2580-5KN Más información
Cámaras ambientales
Se espera que muchos dispositivos electrónicos y componentes microelectrónicos soporten temperaturas extremas tanto durante el proceso de montaje como en el uso normal. Con una cámara ambiental, puede caracterizar el rendimiento de sus productos bajo una amplia gama de condiciones de temperatura que van desde -100 °C hasta +350 °C.
Shear Testing Fixtures
Accesorios para pruebas de cizalladura
Los accesorios para pruebas de cizalladura de matrices y encapsulados están diseñados para determinar la integridad de la conexión entre una matriz de semiconductores o elementos pasivos montados en superficie y los terminales del encapsulado u otros sustratos. Estos accesorios se utilizan para medir la fuerza de cizalladura necesaria para iniciar el fallo del pegamento, la soldadura, la plata sinterizada u otro agente de unión de acuerdo con diversas normas de ensayo, como MIL STD 883, IPC TM-650, AEC-Q200-006A o ASTM F1269-13.
Modelos disponibles
Descripción Capacidad N.º de catálogo
Accesorio de cizalladura para resistencia de terminales 500 N CP122690 Más información
Accesorio de prueba de cizalladura según MIL STD 883 2 kN CP124648, S4781A,
CP127130, S4752A		 Más información

   

Shear Testing Fixtures
Accesorios para pruebas de perforación
Los accesorios de reventamiento o perforación se utilizan habitualmente para probar embalajes, tejidos y películas delgadas y películas separadoras que se encuentran en las baterías para determinar la resistencia de un material a la penetración de una sonda. El material suele sujetarse mediante un juego de anillos de sujeción y se somete a tensiones biaxiales representativas de las que se encuentran durante el uso real.
Modelos disponibles
Descripción Capacidad N.º de catálogo
Accesorio de prueba de perforación según EN 14477
Incluye dos sondas de 0,8 mm de diámetro
Sonda de 1 mm de diámetro con radio de 0,5 mm		 100 N CP105780

CP114502

 Más información
Accesorio de prueba de perforación según ASTM F1306 10 kN SI-14110 Más información
Accesorio de compresión por reventamiento de bola 10 kN 2810-195 Más información
6800-series-extra-wide-universal-testing-system.jpg
Sistemas de pruebas universales extraanchos
La altura y la anchura de los sistemas de modelos de sobremesa de la serie 6800 pueden personalizarse para adaptarse a los requisitos específicos de la aplicación. Los bastidores extraanchos suelen preferirse para probar pantallas grandes, ordenadores portátiles de tamaño completo y materiales de embalaje electrónico como espuma y plástico. Los bastidores extraanchos también pueden equiparse con una etapa XY automatizada para probar dispositivos más grandes, como teclados de tamaño completo.