Los ensayos de tracción de componentes microelectrónicos presentan retos de sujeción únicos: las probetas suelen ser extremadamente pequeñas, frágiles y de forma irregular, y una sujeción incorrecta puede dañar la probeta, introducir desalineación o producir resultados inexactos. La gama de mordazas de tracción para microelectrónica de Instron está diseñada para abordar estos retos, ofreciendo una sujeción precisa y repetible para una amplia variedad de componentes, incluidas patillas, hilos, películas delgadas, filamentos individuales y conjuntos asimétricos. Las capacidades de fuerza van de 10 N a 10 kN en cuatro tipos de mordaza: acción lateral neumática, acción lateral por tornillo, micro neumática y neumática para tracción de patillas.
Las mordazas de acción lateral neumática sujetan la probeta mediante un movimiento de doble acción lateral, accionado por un cilindro de aire integrado en el cuerpo de la mordaza. La fuerza de sujeción puede controlarse ajustando la presión de aire de entrada y se mantiene constante incluso si la probeta se contrae en la zona sujeta, proporcionando un seguimiento constante durante todo el ensayo. Estas mordazas son muy adecuadas para probetas microelectrónicas blandas o delicadas en las que es esencial una fuerza de sujeción constante y ajustable.
Mordazas disponibles
| Capacidad de fuerza | N.º de catálogo |
| 50 N | 2712-051 |
| 250 N | 2712-052 |
| 1 kN | 2712-041 |
| 2 kN | 2712-042 |
| 5 kN | 2712-045 |
| 10 kN | 2712-046 |
Las mordazas de acción lateral por tornillo de doble efecto de la serie 2710-100 admiten probetas de hasta 46 mm (1,8 in) de espesor y pueden desplazarse para probetas irregulares o asimétricas, incluidas configuraciones para ensayos de cizalladura por solape y de componentes. El amplio rango de capacidad de fuerza hace que estas mordazas sean adecuadas tanto para componentes microelectrónicos delicados como para ensayos de conjuntos de mayor fuerza.
Mordazas disponibles
| Capacidad de fuerza | Apertura máxima de las caras de mordaza Con caras de mordaza dentadas | N.º de catálogo |
| 100 N | 35 mm | 2710-111 |
| 500 N | 35 mm | 2710-112 |
| 1 kN | 36 mm | 2710-113 |
| 2 kN | 36 mm | 2710-114 |
| 5 kN | 46 mm | 2710-115 |
| 10 kN | 46 mm | 2710-116 |
Las mordazas micro neumáticas de acción lateral cuentan con una cara de mordaza fija y otra móvil, accionadas mediante un pedal, lo que libera las manos del operador para colocar la probeta con precisión. La amplia zona de acceso hace que estas mordazas sean especialmente adecuadas para cargar probetas en miniatura, como hilos finos, películas delgadas y filamentos individuales, donde el posicionamiento preciso es crítico. Con un espesor máximo de probeta de 0,8 mm y una capacidad de fuerza de 10 N, estas mordazas están diseñadas para las aplicaciones más delicadas de ensayos de tracción en microelectrónica.
Especificaciones
| Capacidad de fuerza | Espesor máximo de la probeta | N.º de catálogo |
| 10 N | 0,8 mm | 2712-101 |
Accesorio de gancho para tracción de cables
El accesorio de gancho para tracción de cables está diseñado para ensayos de tracción de cables y uniones de cables en componentes microelectrónicos. El accesorio cumple los requisitos del método 2011.7 de MIL-STD-883 (resistencia de la unión - ensayo de tracción destructivo de la unión) y 2023.5 (ensayo de tracción no destructivo de la unión).
Especificaciones
| Capacidad de fuerza | N.º de catálogo |
| 10 N | 2860-001 |
La mordaza neumática para tracción de patillas es una mordaza de acción paralela, de tipo tornillo de banco y accionamiento neumático, equipada con caras de mordaza de punta fina, diseñada específicamente para ensayos de tracción de bastidores de patillas. Las caras de mordaza de punta fina permiten una sujeción precisa de patillas de paso fino sin dañar componentes adyacentes, y la acción paralela garantiza una fuerza de sujeción constante y centrada para obtener resultados de tracción precisos y repetibles.
Especificaciones
| Capacidad de fuerza | N.º de catálogo |
| 500 N | 2712-212 |
Las mordazas de tracción para microelectrónica de Instron son compatibles con los siguientes sistemas de ensayo:
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