Les essais de traction sur les composants microélectroniques présentent des défis de serrage uniques — les éprouvettes sont souvent extrêmement petites, fragiles et de forme irrégulière, et un serrage incorrect peut endommager l’éprouvette, introduire un désalignement ou produire des résultats inexacts. La gamme de mâchoires de traction pour la microélectronique d’Instron est conçue pour relever ces défis, offrant un serrage précis et répétable pour une large gamme de composants, notamment les fils de connexion, les fils, les films minces, les filaments uniques et les assemblages asymétriques. Les capacités de force vont de 10 N à 10 kN à travers quatre types de mâchoires — pneumatiques à action latérale, à vis à action latérale, micropneumatiques et pneumatiques pour l’arrachement de fils.
Les mâchoires à action latérale pneumatique serrent l’éprouvette par un mouvement à double action latérale, actionné par un cylindre pneumatique intégré au corps de la mâchoire. La force de serrage peut être contrôlée en ajustant la pression d’air d’entrée et reste constante même si l’éprouvette se contracte dans la zone de serrage — assurant une action de suivi constante tout au long de l’essai. Ces mâchoires sont parfaitement adaptées aux éprouvettes microélectroniques souples ou délicates pour lesquelles une force de serrage constante et réglable est essentielle.
Mâchoires disponibles
| Capacité de force | N° de catalogue |
| 50 N | 2712-051 |
| 250 N | 2712-052 |
| 1 kN | 2712-041 |
| 2 kN | 2712-042 |
| 5 kN | 2712-045 |
| 10 kN | 2712-046 |
Les mâchoires à vis à double action latérale de la série 2710-100 acceptent des éprouvettes jusqu’à 46 mm (1,8 in) d’épaisseur et peuvent être décentrées pour les éprouvettes irrégulières ou asymétriques — y compris les configurations d’essais de cisaillement par recouvrement et de composants. La large plage de capacité de force rend ces mâchoires adaptées tant aux composants microélectroniques délicats qu’aux essais d’assemblages à force plus élevée.
Mâchoires disponibles
| Capacité de force | Ouverture maximale des faces de mâchoire avec faces de mâchoire crantées | N° de catalogue |
| 100 N | 35 mm | 2710-111 |
| 500 N | 35 mm | 2710-112 |
| 1 kN | 36 mm | 2710-113 |
| 2 kN | 36 mm | 2710-114 |
| 5 kN | 46 mm | 2710-115 |
| 10 kN | 46 mm | 2710-116 |
Les mâchoires micropneumatiques à action latérale disposent d’une face de mâchoire fixe et d’une face mobile, actionnées par une pédale — libérant les mains de l’opérateur pour un placement précis de l’éprouvette. La grande zone d’accès rend ces mâchoires particulièrement adaptées au chargement d’éprouvettes miniatures telles que les fils fins, les films minces et les filaments uniques où un positionnement précis est critique. Avec une épaisseur maximale d’éprouvette de 0,8 mm et une capacité de force de 10 N, ces mâchoires sont conçues pour les applications d’essais de traction microélectroniques les plus délicates.
Spécifications
| Capacité de force | Épaisseur maximale de l’éprouvette | N° de catalogue |
| 10 N | 0,8 mm | 2712-101 |
Accessoire de traction sur fil à crochet
L’accessoire de traction sur fil à crochet est conçu pour les essais de traction sur fils et soudures de fils sur les composants microélectroniques. L’accessoire répond aux exigences des normes MIL-STD-883 méthode 2011.7 (résistance de la soudure - essai de traction destructif) et 2023.5 (essai de traction non destructif).
Spécifications
| Capacité de force | N° de catalogue |
| 10 N | 2860-001 |
La mâchoire pneumatique d’arrachement de fils est une mâchoire à étau à action parallèle, à commande pneumatique, équipée de faces de mâchoire à bec effilé — spécifiquement conçue pour les essais d’arrachement sur grilles de connexion. Les faces de mâchoire à bec effilé permettent un serrage précis des fils à pas fin sans endommager les composants adjacents, et l’action parallèle assure une force de serrage constante et centrée pour des résultats d’essais d’arrachement précis et répétables.
Spécifications
| Capacité de force | N° de catalogue |
| 500 N | 2712-212 |
Les mâchoires de traction pour la microélectronique d’Instron sont compatibles avec les systèmes d’essais suivants :
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