고에너지 시편 파손이 접촉식 신장계에 미치는 위험은 시험 중인 재료에 따라 크게 달라집니다.

기존 금속 시편은 피로 수명 동안 점진적으로 항복하는 경향이 있습니다. 네킹은 점진적으로 발생하며 파단 시 방출되는 에너지는 대부분 열로 변환되어 부착된 장치에 제한적인 충격 하중을 유발하는 비교적 제어된 파손 이벤트가 발생합니다.

복합재 쿠폰은 매우 다르게 작동합니다. 피로 수명 동안 항복이나 점진적 손상의 징후를 거의 또는 전혀 보이지 않다가 갑자기 파국적으로 파손되어 매우 짧은 시간에 많은 양의 에너지를 방출합니다. 이러한 갑작스러운 파손은 시편에 부착된 모든 접촉 장치를 통해 손상을 주는 충격 하중을 직접 전달하며, 측정 전자장치, 나이프 에지 및 부착 메커니즘을 손상시키기에 충분한 힘을 가합니다. 그 결과 더 이상 정확하게 측정하지 못할 수 있는 장치가 되며, 결과가 편차를 보이기 시작할 때까지 명백한 손상 징후를 보이지 않을 수 있습니다.

복합재료의 피로 또는 고하중 시험을 실행하는 모든 실험실의 경우, 문제는 접촉식 신장계가 결국 손상될 것인지 여부가 아니라 얼마나 빨리, 그리고 어떤 비용으로 손상될 것인지입니다.