자동 XY 스테이지를 사용한 다점 압축 - 자동 XY 스테이지로 구성된 Instron의 6800 시리즈 단일 및 이중 컬럼 시스템은 단일 자동 시퀀스에서 칩 또는 구성 요소의 여러 지점에 걸쳐 마이크로 압축 시험을 수행할 수 있습니다. Instron의 맞춤형 솔루션 그룹에서 개발한 맞춤형 고정 장치는 정확하고 반복 가능한 시험을 위해 구성 요소를 올바른 위치에 고정하며, 특정 구성 요소 형태에 대한 포인트 기반 압축 시험을 위해 다양한 스타일의 프로브를 사용하거나 개발할 수 있습니다.

시스템 컴플라이언스 보정 - 마이크로 압축 시험은 마이크론 단위의 변위 또는 굴곡을 측정하기 때문에, 장비, 로드셀 및 고정 장치 컴플라이언스에서 발생하는 작은 기여도 결과 정확도에 영향을 미칠 수 있습니다. 컴플라이언스 보정 루틴을 수행하여 측정된 변위에서 이러한 기여를 제거할 수 있으며, 이를 통해 보고된 굴곡 값이 시스템 특성이 아닌 시편 거동을 정확하게 반영하도록 보장합니다.

전체 패키지 압축 - 마이크로 압축 플레이튼을 사용하여 전체 패키지 또는 칩을 동시에 압축할 수 있으며, 이를 통해 패키지 전체의 압축 강성 및 강도를 하나의 단위로 특성 분석할 수 있습니다.

변위 측정 옵션 - 애플리케이션 요구 사항에 따라 두 가지 변위 측정 방식을 사용할 수 있습니다:

• 접촉식 측정 — LVDT 플레이튼 변위 고정 장치는 시편과의 물리적 접촉이 허용되는 애플리케이션에 대해 직접 접촉 기반 굴곡 측정을 제공합니다
• 비접촉식 측정 — AVE3 고급 비디오 신율계는 접촉이 결과에 영향을 미칠 수 있는 민감한 시편에 대해 마이크론 단위의 비접촉식 굴곡 측정을 제공합니다

전기 채널 통합을 갖춘 Bluehill® Universal 소프트웨어 - Bluehill® Universal 소프트웨어는 XY 스테이지 다점 시험 및 전체 패키지 플레이튼 압축 모두에 대한 시험 방법을 설정하고 실행하는 데 사용됩니다. 외부 변형률 채널을 사용하여 기계적 힘 데이터와 함께 전압 및 저항과 같은 전기적 측정값을 캡처할 수 있으며, 소프트웨어에서 직접 가해진 힘과 전기적 출력 간의 관계를 표시하는 그래픽 결과를 확인할 수 있습니다.