ทรัพยากร » วิดีโอ » การทดสอบอุปกรณ์ฉีดยาอัตโนมัติขนาดใหญ่และการถอดฝาแบบบิดออกบางส่วน

การทดสอบอุปกรณ์ฉีดยาอัตโนมัติขนาดใหญ่และการถอดฝาแบบบิดออกบางส่วน

ระบบทดสอบอุปกรณ์ฉีดยาอัตโนมัติสำหรับอุปกรณ์ขนาดใหญ่ของ Instron ได้รับการออกแบบมาเพื่อประเมินประสิทธิภาพ ฟังก์ชันการทำงาน และความสะดวกในการใช้งานของอุปกรณ์ฉีดยาอัตโนมัติขนาดใหญ่ (3 มล. ขึ้นไป) ด้วยส่วนต่อประสานอุปกรณ์ที่ขยายใหญ่ขึ้น ระบบนี้จึงรองรับรูปทรงของอุปกรณ์ฉีดยาอัตโนมัติและฝาปิดได้หลากหลายรูปแบบ อะแดปเตอร์เฉพาะสำหรับอุปกรณ์จะช่วยยึดอุปกรณ์ฉีดยาอัตโนมัติให้แน่นหนาตลอดการทดสอบ เพื่อให้มั่นใจในผลลัพธ์ที่สม่ำเสมอและทำซ้ำได้ และสามารถเปลี่ยนได้อย่างรวดเร็วเพื่อรองรับการออกแบบอุปกรณ์ที่แตกต่างกัน

ลำดับการทดสอบอัตโนมัติประกอบด้วย:

  • แรงที่ใช้ในการถอดฝา
  • แรงกระตุ้นการทำงาน
  • การตรวจจับเสียงคลิก
  • เวลาในการฉีดยา
  • การวัดความลึกของเข็ม
  • การตรวจสอบปริมาตรยาที่ฉีดออกมา
  • การตรวจสอบการล็อค (ผ่าน/ไม่ผ่าน)

สำหรับอุปกรณ์ฉีดยาอัตโนมัติที่ต้องถอดฝาด้วยการหมุนบางส่วน ระบบสามารถติดตั้งอุปกรณ์เสริม Limited Rotation Torsion Add-On 3.0 ของ Instron ซึ่งช่วยให้สามารถหมุนได้ ±90° สำหรับทั้งอุปกรณ์ฉีดยาอัตโนมัติขนาดมาตรฐานและขนาดใหญ่ ลำดับการถอดฝาแบบบิดสามารถปรับแต่งได้อย่างสมบูรณ์เพื่อให้ตรงตามข้อกำหนดของอุปกรณ์และโปรโตคอลการทดสอบเฉพาะ

สำหรับห้องปฏิบัติการที่ต้องการการทดสอบความเหมาะสมของระบบ (SST) มีอุปกรณ์ SST โดยเฉพาะสำหรับการตรวจสอบ Biaxial Load Cell เป็นประจำทุกวัน เพื่อช่วยให้มั่นใจในประสิทธิภาพของระบบที่เชื่อถือได้ ความแม่นยำในการวัด และผลการทดสอบที่ทำซ้ำได้

วิดีโอที่เกี่ยวข้อง

การสัมมนาผ่านเว็บนี้แสดงให้เห็นถึงการทดสอบฟังก์ชันการทำงานเต็มรูปแบบของระบบทดสอบอุปกรณ์ฉีดยาอัตโนมัติ, เทมเพลตวิธีการของ Bluehill® Universal, การวัดประสิทธิภาพที่สำคัญ, ความเหมาะสมของระบบ และเครื่องมือที่ช่วยเพิ่มความคล่องตัวในการตรวจสอบความถูกต้องสำหรับอุปกรณ์ฉีดยาอัตโนมัติที่หลากหลาย

อุปกรณ์จับยึดของระบบทดสอบอุปกรณ์ฉีดยาอัตโนมัติได้รับการออกแบบมาเพื่อลดแรงกดด้านข้างระหว่างการถอดฝา และรองรับรูปทรงของอุปกรณ์ทั่วไปในอุตสาหกรรม ในขณะเดียวกันก็มอบความยืดหยุ่นในการรองรับอุปกรณ์ที่ปรับแต่งตามความต้องการได้อย่างง่ายดาย

Bluehill Universal ใช้ประเภทการทดสอบที่เรียบง่ายซึ่งช่วยให้ผู้ใช้สามารถพัฒนาและเปลี่ยนแปลงพารามิเตอร์ของวิธีการได้อย่างง่ายดาย ในขณะเดียวกันก็มอบความยืดหยุ่นในการรองรับอุปกรณ์ในอนาคตได้ทันทีโดยไม่จำเป็นต้องขอความช่วยเหลือจาก Instron