การทดสอบแรงดึงและแรงบิดของปุ่มและลูกบิด

โซลูชันของเรา

Instron นำเสนอ โต๊ะร่องตัวที (T-slot tables) และ แผ่นทดสอบชิ้นส่วน ที่หลากหลายสำหรับทั้ง โครงเครื่องทดสอบแบบเสาเดี่ยวและเสาคู่ เพื่อการจับยึดและติดตั้งชิ้นส่วนที่จับยาก นอกจากนี้ อุปกรณ์จับยึดแบบขันสกรูด้านข้าง (manual screw side action grips) ยังเหมาะอย่างยิ่งสำหรับการใช้งาน เนื่องจากหน้าสัมผัสของอุปกรณ์จับยึดสามารถปรับเยื้องศูนย์เพื่อให้แรงอยู่ในแนวศูนย์กลางของชุดรับน้ำหนักได้ นอกจากนี้ยังสามารถเปลี่ยน หน้าสัมผัสปากจับ (jaw faces) ที่หลากหลายเพื่อให้ได้พื้นผิวการจับยึดที่เหมาะสมที่สุด

การวัดแรงต่ำและแรงบิดต่ำนั้นทำได้ยากเป็นพิเศษเมื่อใช้โหลดเซลล์แบบสองแกน (bi-axial load cells) โดยโหลดเซลล์แบบสองแกนจะวัดทั้งแรงในแนวแกนและแรงบิด สัญญาณรบกวนจากโหลดเซลล์โดยทั่วไปมาจากสองส่วน ได้แก่ การออกแบบโหลดเซลล์และระบบอิเล็กทรอนิกส์ปรับสภาพสัญญาณ การออกแบบโหลดเซลล์แบบสองแกนนั้นซับซ้อนกว่าโหลดเซลล์มาตรฐานที่วัดเฉพาะแรงในแนวแกนหรือแรงบิดเพียงอย่างเดียวอย่างมาก เนื่องจากมีการรบกวนข้ามช่องสัญญาณ Instron นำเสนอ โหลดเซลล์ ที่มีพิกัดความสามารถหลากหลาย